統(tǒng)計(jì)過程控制spc的基本概念與應(yīng)用-在線瀏覽
2025-03-10 06:29本頁面
【正文】 ； 隨機(jī)在一批產(chǎn)品中抽樣 72件： 14 數(shù)值 次數(shù)劃記 次數(shù) X X 2 X X X 3 X X X X 4 X X X X X X 6 X X X X X X X X 8 X X X X X X X X X X 10 X X X X X X X X X X X 11 X X X X X X X X 8 X X X X X X 6 X X X X X X 6 X X X X X 5 X X X 3 并將數(shù)據(jù)分類填表 15 第二步：計(jì)算、分組 計(jì)算極差 R：（ R又叫全距） Xmax= Xmin= R= Xmax Xmin== 設(shè)定組數(shù)： 數(shù)據(jù)總數(shù) n 50100 100250 250以上 建議分組數(shù) 6— 10組 7— 12組 10— 20組 本例 n=72，可選組數(shù) 6， 計(jì)算組距 h： h=R/6=16 組別 組距上下限值 中心值 頻數(shù) 1 — 5 2 10 3 — 18 4 — 19 5 12 6 8 第三步：計(jì)算每組的中心、下限、上限，并列出頻數(shù)表 17 第四步：按頻數(shù)畫縱、橫坐標(biāo)及直方圖 5 10 15 20 頻數(shù) LSL SL USL *SL為規(guī)格中心 ， LSL為下公差線 ， USL為上公差線 18 第五步：根據(jù)直方圖畫分布曲線 5 10 15 20 頻數(shù) LSL SL USL *本例的分布曲線是正態(tài)分布，服從統(tǒng)計(jì)規(guī)律，說明過程正常 19 直方圖分析 0 30 缺齒型：可能是測量器具精度不夠或分組不當(dāng)造成。 5 10 15 20 25 0 5 10 15 20 25 30 20 051015202530偏向型：可能是設(shè)備偏差或加工習(xí)慣 造成的，如孔的加工往往偏小。 21 直方圖與因果圖結(jié)合使用尋找關(guān)鍵控制變量 量具偏差 某產(chǎn)品質(zhì)量問題 噪聲 灰塵 環(huán)境 情緒不穩(wěn)定 培訓(xùn)不足 人 過程無控 制方法 作業(yè)指導(dǎo) 書不完善 方法 量具標(biāo)準(zhǔn) 量具不穩(wěn) (小原因 ) 機(jī)器 (大原因 ) 年久失修 (中原因 ) 成分變化 厚度變差 材料 因果圖 *在因果圖的基礎(chǔ)上，通過直方圖分析各因素變換條件時(shí)產(chǎn)品特性分布，可以得出那些因素對該特性起關(guān)鍵影響的結(jié)論。 這些變差有什么區(qū)別和特點(diǎn)，如何發(fā)現(xiàn)和研究變差的趨勢，進(jìn)而通過改進(jìn)或糾正措施減少或控制變差，是我們的工作，也是統(tǒng)計(jì)過程控制 SPC的任務(wù)。 過程變差 25 普通原因與特殊原因之變異 普通原因變差：
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