【正文】 級的 K 值不大于 。焊縫透照厚度比為:K=T ′/T （ 51 ）式中:T —母材厚度,mm。射線源圖 55 焊縫透照厚度比示意圖 透照時射線束應指向被檢部位的中心,并在該點與被檢區(qū)平面或曲面的切面垂直。當采用雙壁透照法時,一般應使射線偏離焊縫軸線所在的平面進行斜透照,以免兩側焊縫影象重疊。 射線能量的選擇射線能量的選擇取決于透照工件厚度及材料種類,有時也根據(jù)設備條件而定。因此,在曝光時間許可下,應盡量采用較低的射線能量。高千伏數(shù),kV 厚度, mm圖 56 透照不同厚度材料時允許使用的最高 X 射線管電壓 無用射線和散射線的屏蔽表 56 不同射線源適用的材料透照厚度范圍 mm碳素鋼、低合金鋼和不銹鋼 射線源 Ａ級 AB 級 Ｂ級Ir 192 20~100 30~95 40~90 Co 60 40~200 50~175 60~150 1~2MeV X 射線 30~200 40~175 60~150大于 2MeV X 射線 40 50 50注：采用內(nèi)透法(中心法和偏心法)時,透照厚度可為表 56 下限值的一半。通常,可在 X 射線管窗口上裝設錐形鉛罩或鉛質(zhì)遮光板。如工件邊緣處于射線透照區(qū)內(nèi),通常可用圖 5 — 7 的方法或其它適當方法來屏蔽散射線。若在較黑背影上出現(xiàn)“ B ”的較淡影象,就說明背散射線保護不夠,應采取有效措施重照。 曝光 應根據(jù)設備、膠片、增感屏和其它具體條件制作或選用合適的曝光曲線,并以此確定曝光規(guī)范。 min 的曝光量,以防止用短焦距和高電壓所引起的不良影響?？刹捎米詣記_洗或手工沖洗方式。 膠片的手工沖洗應采用槽浸方式,在規(guī)定的溫度(20 ℃左右)和時間內(nèi)進行顯影、定影等操作。膠片的手工沖洗方法可參考附錄 N(參考件)。詳見附錄 O(參考件)。 黑度選擇的曝光條件應使底片有效評定區(qū)域內(nèi)的黑度滿足表 57 的要求。 在焊縫影象上,如能清晰地看到長度不小于 10mm 的象質(zhì)計金屬絲影象,就認為是可識別的。、指紋、臟物、靜電痕跡、黑點或撕裂等。 底片的觀察 評片環(huán)境評片應在專用評片室內(nèi)進行。 觀片燈觀片燈最大亮度應不小于 100000cd/ m 2 ,且觀察的漫射光亮度應可調(diào)。經(jīng)照射后的底片亮度應不小于30cd/ m 2 。、母材厚度。、缺陷等級評定及檢測標準名稱。 驗收標記應符合 條的規(guī)定。 透照底片質(zhì)量等級、透照范圍和焊縫的缺陷等級評定,應按產(chǎn)品技術條件和GB150 的規(guī)定選擇,并應符合圖樣規(guī)定。 焊縫缺陷等級評定 根據(jù)缺陷的性質(zhì)和數(shù)量,將焊縫缺陷分為四個等級。b. Ⅱ級焊縫內(nèi)不允許裂紋、未熔合和未焊透存在。 III 級焊縫中允許存在的單面焊未焊透的長度,按表6 — 5 Ⅲ級條狀夾渣評定。 圓形缺陷的確定和分級a. 長寬比小于或等于 3 的缺陷定義為圓形缺陷。包括氣孔、夾渣和夾鎢。評定區(qū)應選在缺陷最嚴重的部位。如缺陷尺寸小于表 6 — 3 的規(guī)定,則該缺陷不需換算成點數(shù)參加缺陷評級。(包括外切),應把它劃在該評定區(qū)內(nèi)計算點數(shù)?？蓴U大評定區(qū)的處理辦法見附錄 D(補充件)。g.Ⅰ級焊縫和母材厚度等于或小于 5mm 的Ⅱ級焊縫內(nèi)不計點數(shù)的圓形缺陷,在評定區(qū)內(nèi)不得多于 10 個。②母材板厚不同時,取薄的厚度值。b. 條狀夾渣的分級見表 65 。 鋼管環(huán)縫射線透照缺陷等級評定 檢測范圍和一般要求 本條適用于管壁厚大于或等于 2mm 的碳素鋼、低合金鋼和不銹綱管環(huán)焊縫射線透照檢測和缺陷等級評定。本條不適用于摩擦焊、閃光焊等機械方法施焊的鋼管環(huán)焊縫。表 65 條狀夾渣的分級 mm等級 單個條狀夾渣長度 條狀夾渣總長Ⅱ 13 T ，最小可為 4 ，最大不超過 20 在任意直線上，相鄰兩夾渣間距均不超過 6L 的任何一組夾渣，其累計長度在 12T 焊縫長度內(nèi)不超過 TⅢ 23 T ，最小可為 6 ，最大不超過 30 在任意直線上，相鄰兩夾渣間距均不超過 3L 的任何一組夾渣，其累計長度在 6T 焊縫長度內(nèi)不超過 TⅣ 大于Ⅲ級者注：①表中“ L ”為該組夾渣中最長者的長度,“ T ”為母材厚度。③當被檢焊縫長度不足 12T(Ⅱ級)或 6T(Ⅲ級)時,可按比例折算,當折算的條狀夾渣總長度小于單個條狀夾渣長度時,以單個條狀夾渣長度為允許值。⑤母材板厚不同時,取薄的厚度值。 外徑小于或等于 89mm 的鋼管對接焊縫,采用雙壁雙投影法,射線束的方向應滿足上下焊縫的影象在底片上呈橢圓形顯示,焊縫投影間距以 3 ～ 10mm 為宜,最大間距不超過 15mm 。垂直透照可以適當提高管電壓。當大于 15mm時,可分為至少四段進行透照,每段中心角不大于 90 176。 對外徑小于或等于 76mm 的鋼管,其焊縫以雙壁雙投影法透照時,如能保證其檢出范圍不少于周長的 90%,可允許橢圓一次成象。 象質(zhì)計及放置位置 外徑大于 89mm 的鋼管,其焊縫透照應采用 條規(guī)定的系列象質(zhì)計。 外徑小于或等于 89mm 的鋼管,其焊縫透照應采用附錄 F(補充件)規(guī)定的 1 型專用象質(zhì)計。如數(shù)根管接頭在一張底片上同時顯示時,應至少放置一個象質(zhì)計,如果只用一個時,則必須放在最邊緣的那根鋼管上。對比塊應平行放置在距焊縫邊緣 5mm 處。b. 透照厚度值應根據(jù)透照方法確定,并應符合附錄 C(補充件)的規(guī)定。 缺陷等級評定 根據(jù)缺陷性質(zhì)和數(shù)量,將焊縫缺陷分為四個等級。凡焊縫內(nèi)有裂紋、未熔合者即為Ⅳ級。b. 圓形缺陷的分級見表 66 。 條狀缺陷的確定和評級長寬比大于 3 的夾渣定義為條狀缺陷。 未焊透的評級Ⅰ級焊縫不允許有未焊透,Ⅱ、Ⅲ級焊縫內(nèi)允許的未焊透尺寸見表 68 。 綜合評級在缺陷評定區(qū)內(nèi),同時存在幾種類型缺陷時,應先按各類缺陷分別評級,將各自評定級別之和減 1 作為最終級別。②母材厚度不同時,取薄的厚度值。②當被檢焊縫長度不足 12T(Ⅱ級)或 6T(Ⅲ級)時,可按比例折算,當折算的條狀夾渣總長度小于單個條狀夾渣長度時,以單個條狀夾渣長度為允許值。④母材厚度不同時,取薄的厚度值。 射線底片質(zhì)量等級、透照范圍和焊縫缺陷等級應按產(chǎn)品技術條件和有關的規(guī)定確定,并應符合圖樣規(guī)定。表 69 焊縫根部內(nèi)凹缺陷的分級內(nèi)凹深度等級 占壁厚的百分比% 極限深度 mm 內(nèi)凹總長度占焊縫總長度的百分比%Ⅰ ≤ 10 ≤ 1Ⅱ ≤ 15 ≤ 2Ⅲ ≤ 20 ≤ 3 ≤ 30Ⅳ 大于Ⅲ級者注：母材厚度不同時,取薄的厚度值。象質(zhì)計的選用按表 53 的規(guī)定。如用其它金屬材料,需按表 51 進行換算。 底片質(zhì)量應符合 條規(guī)定。b.Ⅱ級焊縫內(nèi)應無裂紋、未熔合和未焊透。允許存在的單面不加墊板焊縫中尺寸不超過母材厚度的 15%且不大于 2mm 的未焊透。 圓形缺陷的確定和分級 3 的缺陷定義為圓形缺陷。,評定區(qū)應選在底片上缺陷最嚴重的部位,評定區(qū)的大小見表 610 。如缺陷尺寸低于表 612 的規(guī)定,則該缺陷不需換算成點數(shù)參加缺陷評級。 613 。②母材板厚不同時,取薄的厚度值。 1/2 或大于 10mm(取其較小者)時,作為Ⅳ級處理。Ⅲ級焊縫允許的缺陷點數(shù)連續(xù)存在,并超過評定區(qū)尺寸的三倍時應評為Ⅳ級。 6 — 14 。②母材板厚度不同時,取薄的厚度值。,應分別進行評級,取較低的等級作為焊縫缺陷等級。 鈦制壓力容器焊縫透照缺陷等級評定 檢測范圍和一般要求 本條適用于壁厚小于 50mm 的鈦焊縫 X 射線檢測和缺陷等級評定。 透照底片質(zhì)量等級、透照范圍和焊縫缺陷等級應按產(chǎn)品技術條件和有關的規(guī)定確定,并應符合圖樣規(guī)定. 象質(zhì)計 采用線型象質(zhì)計,其結構和規(guī)格應符合 條規(guī)定。 象質(zhì)計用鈦絲制成。 增感屏 應采用鉛箔增感屏,其厚度范圍見表 6 — 15 的規(guī)定。 透照厚度透照厚度應按附錄 C(補充件)確定。 焊縫缺陷等級評定 根據(jù)缺陷的性質(zhì)和數(shù)量,將焊縫缺陷分為四個等級:a.Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ級焊縫內(nèi)應無裂紋、未熔合和未焊透。 圓形缺陷的確定和分級 3 的缺陷定義為圓形缺陷。當缺陷在評定區(qū)邊界線上時(包括外切),應把它劃在該評定區(qū)內(nèi)計算點數(shù)。如缺陷尺寸低于表 618 的規(guī)定,則該缺陷不需換算成點數(shù)參加缺陷評級。表 616 缺陷評定區(qū) mm母材厚度 T ≤ 15 15 ～ 50評定區(qū)尺寸 10 10 10 20表 617 缺陷點數(shù)換算表缺陷長徑mm ≤ 1 1~2 2~4 4 ～ 8 8點數(shù) 1 2 4 8 16表 618 不計點數(shù)的缺陷尺寸 mm母材厚度 T 缺陷長徑≤ 10 10~20 20 ～ 50 6 — 19 。超過者應分別將底片的等級降低 I 級。②母材板厚不同時,取薄的厚度值。檢測范圍包括壓力容器原材料、零部件和焊縫的超聲檢測以及超聲測厚。 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能 探傷儀采用 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀,其工作頻率范圍為 1 ～ 5MHz,儀器至少在熒光屏滿刻度的 80%范圍內(nèi)呈線性顯示。 1dB 以內(nèi),最大累計誤差不超過 1dB 。其余指標應符合 ZBY230 的規(guī)定。具體劃分應符臺 ZBY344 的規(guī)定。 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于 2 176。 雙晶直探頭性能應符合附錄 G(補充件)的要求。 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于177。 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度:對于頻率為 5MHz 的探頭,其占寬不得大于10mm。 直探頭的遠場分辨力應大于或等于 30dB,斜探頭的遠場分辯力應大于或等于6dB 。 超聲檢測一般方法 檢測復蓋率檢測時,應盡量掃查到工件的整個被檢區(qū)域,探頭的每次掃查復蓋率應大于探頭直徑的 15%。當采用自動報警裝置掃查時,不受此限。 耦合劑應采用機油、漿糊、甘油和水等透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑。對于鋼板、鍛件、鋼管、螺栓件,應檢查到整個工件。 檢測面應經(jīng)外觀檢查合格,所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物都應予以清除,其表面粗糙度應符合檢測要求。在檢測和缺陷定量時,應對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。 校準校準應在基準試塊上進行,校準中應使超聲主聲束垂直對準反射體的軸線,以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號。在使用過程中,每隔三個月至少應對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定。測定方法應按 ZBY231 的有關規(guī)定進行。使用過程中,每個工作日應校準前沿距離、 K 值和主聲束偏離。 儀器和探頭系統(tǒng)的復核 復核時機每次檢測前均應對掃描線、靈敏度進行復核,遇有下述情況應隨時對其進行重新核查:、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時。 4h 以上時。 掃描量程的復核如果距離一波幅曲線上任意一點在掃描線上的偏移超過掃描讀數(shù)的 10%,則掃描量程應予以修正,并在檢測記錄中加以標明。如曲線上任何一點幅度下降 2dB,則應對上一次以來所有的檢測結果進行復檢。 注意事項校準、復核和線性檢驗時,任何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關等)都應放在“關”的位置或處于最低水平上。該材料用直探頭檢測時,不得有大于φ 2mm 平底孔當量直徑的缺陷。校準時,探頭主聲束應與反射體的反射面相垂直。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度的部件進行熔焊時,試塊的厚度應由其平均厚度來確定。 現(xiàn)場檢測時,也可以采用其它型式的等效試塊。、編號、材質(zhì)、熱處理狀態(tài)、檢測表面的粗糙度。,如有因幾何形狀限制而檢測不到的部位,也應加以說明。、缺陷等級評定及檢測標準名稱。8 壓力容器原材料和零部件的超聲檢測 壓力容器鋼板超聲檢測 檢測范圍和一般要求本條適用于板厚為 6 ～ 250mm的鋼制壓力容器用板材的超聲檢測和缺陷等級評定。 探頭選用探頭的選用應按表 8 — 1 的規(guī)定進行。圖 8 — 1 板厚小于或等于 20mm 雙晶直探頭檢測用試塊 用單直探頭檢測板厚大于 20mm 的鋼板時,標準試塊應符合圖 82 和表 82 的規(guī)定。圖 82 板厚大于 20mm 單直探頭檢測用試塊 檢測靈敏度 板厚小于或等于 20mm時,用圖 81 所示的試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的 50%,再提高 10dB 作為檢測靈敏度。表 81 探頭選用探頭晶片尺寸 板 厚mm 采用探頭 公稱頻率 雙晶直探頭 單晶直探頭6 ～ 20 雙晶探頭 5MHz 晶片面積不小于 150mm 2 —20 ～ 250 單晶直探頭 — 圓晶片直徑為 14 ～25mm,或方晶片面積不小于 200mm 2表 82 mm試塊編號 被檢鋼板厚度 檢測面到平底孔的距離 S 試塊厚度 T 1 20 ～ 40 15 ≥ 20 2 40 ～ 60 30 ≥ 40 3 60 ～ 100 50 ≥ 65 4 100 ～ 160 90 ≥ 110 5 160 ～ 200 140 ≥ 170 6 200 ～ 250 190 ≥ 220 板厚大于 60mm 時,也可取鋼板無缺陷的完好部位的第一次底波來校準靈敏度,其結果應與 條的要求相一致。若檢測人員認為需要或設計上有要求時,也可對鋼板的上下兩軋制平面分別進行檢測。在鋼板剖口預定線兩側各 50mm(當板厚超過 100mm時,以板厚的一半為準)內(nèi)應作 100%掃查,掃查示意圖如圖 83 。圖 83 探頭掃查示意圖 缺陷記錄 在檢測過程中,發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷:( F 1 )波高大于或等于滿刻度的 50%,即 F 1 ≥ 50%者。( B 1 )波高低于滿刻度的 50%,即 B 1 50%者。,探頭的移動方向應與探頭的聲波分