【正文】 性缺陷中最大當量缺陷的位置和分布。表 88 密集區(qū)缺陷的等級評定等 級 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比% 0 0~5 5~10 10~20 20 表 86 、表 8 — 7 和表 8 — 8 的等級應作為獨立的等級分別使用。對比試塊的復板厚度 h 和復合鋼板的復板厚度的誤差不得超過土 10%。 30 10 177。圖 810 對比試塊的檢測圖形(a)A 型對比試塊 (b)B 形對比試塊 未接合部分的評定和分級 未接合部分的定義,若缺陷回波多次反射的第一次底面回波高度低于 A 形對比試塊底面回波時,該部分即為未接合部分。 結(jié)果評定根據(jù)復合鋼板的檢測結(jié)果進行等級評定,不合格的復合鋼板可進行處理或修復。②兩個缺陷之間的最小間距小于或等于 20mm 時,應作為單個缺陷處理,其面積為兩個缺陷面積之和(不考慮間距)。 自動檢測應保證動態(tài)時的檢測靈敏度,且內(nèi)外槽的最大反射波幅差不超過 2dB 。 液浸法檢測靈敏度按下述方法確定:。本條不適用于奧氏體鋼螺栓件的超聲檢測。 缺陷當量的確定 一般應采用距離—波幅曲線或計算法確定缺陷當量。 按表 813 和表 8 — 14 評定缺陷等級時,應作為獨立的等級分別使用。)。檢測面應無氧化皮、漆皮、污物等。 檢測靈敏度應至少比距離—波幅曲線或校正基準波幅提高 6dB 。本條適用于母材厚度為 8 ～ 300mm 全焊透熔化焊對接焊縫的超聲檢測。 λ—聲波波長,mm。檢測表面應平整光滑,便于探頭的自由掃查,其表面粗糙度 Ra 應為 μ m,一般應進行打磨。圖 94 CSKIV A 試塊表 91 CSKⅣ A 試塊尺寸 mmCSK —Ⅳ A 被檢工件厚度 對比試塊厚度 T 標準孔位置 b 標準孔直徑 d№.1 120 ～150 135 T/4 №.2 150 ～200 175 T/4 №.3 200 ～250 225 T/4 №.4 250~300 275 T/4 檢測區(qū) 檢測面 位置 1 位置 2圖 95 檢測區(qū)域,應將余高打磨到與鄰近母材平齊。)46 ～ 120 ～ (60 176。該項檢測僅作記錄,不屬于對母材的驗收檢測。 120 ～ 300mm 的焊縫,其距離—一波幅曲線靈敏度按表 9 — 4 的規(guī)定。當壁厚大于 40mm 且單側(cè)坡口角度小于 5 176。必要時亦可用兩個 K1 探頭作串列掃查。,對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應小于 10%。焊縫余高磨平時,可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查,見圖 9 — 9 ?！?15 176。表 95 直探頭距離—波幅曲線的靈敏度評定線 定量線 判廢線φ 2mm 平底孔 φ 3mm 平底孔 φ 6mm 平底孔,否則應按附錄 L(補充件)的規(guī)定進行傳輸損失補償。如圖 96 所示。為便于探測厚焊縫坡口邊緣未熔合缺陷,亦可選用兩個不同K 值的探頭,但兩個探頭 K 值均應在 ～ 范圍內(nèi)。)25~46 ～ (68 176。(2)采用直射法檢測時。圖 92 CSKIIA 試塊L —試塊長度，由使用的聲程確定；T —試塊厚度，由被檢材料厚度確定；I —標準孔位置，由被檢材料厚度確定；根據(jù)檢測需要可在試塊上添加標準孔圖 93 CSKIIIA 試塊,再加上焊縫兩側(cè)各相當于母材厚度 30%的一段區(qū)域,這個區(qū)域最小為 10mm,見圖 95 。 檢測曲面工件時,如檢測面曲率半徑 R 小于等于W 2 /4 時(W 為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測時為探頭寬度,縱縫檢測時為探頭長度),應采用與檢測面曲率相同的對比試塊,反射孔的位置可參照對比試塊確定。 表 8 — 16 和表 817 的級別應作為獨立的等級使用。圖 814 奧氏體鋼鍛件試塊表 815 試塊尺寸 mmφ 4 φ 6 φ 10 φ 13 L D L D L D L D 20 50 20 50 20 50 20 50 40 50 50 50 50 50 50 50 60 50 80 50 100 60 100 60 80 50 120 60 150 80 150 80 — — 160 80 200 80 200 80— — 200 80 250 100 250 100— — — — 300 100 300 100— — — — — — 400 150— — — — — — 500 150— — — — — — 600 200 檢測靈敏度的校正 當被檢鍛件厚度小于或等于 600mm 時,應根據(jù)定貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級,在適當厚度和當量的平底孔試塊上校正,并根據(jù)實測值做出距離—波幅曲線。 在條件允許時,經(jīng)供需雙方協(xié)議,可在鍛件有代表的部位加工一個或幾個適當大小的對比孔或槽,代替試塊作為校正和檢測的基準。 斜探頭的 K 值一般取 ～ 2(30 176。 由缺陷引起的底波降低量等級評定見表 8 — 14 。 縱波軸向掃查應從螺栓件的兩端面進行掃查 檢測靈敏度的確定 單直探頭靈敏度的確定按 條的規(guī)定。不合格品允許重新處理,處理后仍按本標準進行超聲檢測和等級評定。單個探頭壓電晶片長度或直徑不大于 25mm 。表 812 對比試樣上人工缺陷尺寸級別 長度mm 深度 t 占壁厚的百分比%Ⅰ 40 5( ≤ t ≤ 1mm)Ⅱ 40 8( ≤ t ≤ 3mm)Ⅲ 40 10( ≤ t ≤ 3mm)注:試樣長度不得小于 200mm 。 鋼管縱向缺陷檢測試塊的尺寸,尖角槽和位置應符合圖 811 和表 812 的規(guī)定。 未接合缺陷的等級評定未接合缺陷的等級評定見表 811 。,找出最大的人工缺陷回波和此時的底波,并予以記錄。表 89 人工缺陷尺寸 mm探頭直徑 槽寬14 5 177。 對比試塊 材料對比試塊應選用與被檢復合鋼板的規(guī)格、材質(zhì)、熱處理工藝和表面狀態(tài)相同或相似的復合鋼板制備。表 86 單個缺陷的等級評定 mm等 級 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ缺陷當量直徑 ≤φ 4 φ 4+ (0 ～ 8dB)φ 4+ (8 ～ 12dB)φ 4+ (12~16dB) φ 4+16dB 底波降低量的等級評定見表 8 — 7 表 87 由缺陷引起底波低量的等級評定 dB等 級 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ底波降低量 BG/BF ≤ 8 8 ～ 14 14 ～ 20 20 ～ 26 26注：本表僅適用于聲程大于一倍近場區(qū)的缺陷。 計算缺陷當量時,當材質(zhì)衰減系數(shù)超過 4dB/m,應考慮修正。 在工件無缺陷完好區(qū)域,選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位,調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度( B 1 )為滿刻度的 50%,記錄此時衰減器的讀數(shù),再調(diào)節(jié)衰減器,使第二次底面回波幅度( B 2 )為滿刻度的 50%,兩次衰減器讀數(shù)之差即為( B 1 B 2 )的 dB 差值。其它形狀的鍛件也可參照執(zhí)行。圖 86 曲面對比試塊 檢測時機原則上應安排在熱處理后,槽、孔、臺階加工前進行。 橫波檢測 在檢測過程中對缺陷有疑問或供需雙方技術協(xié)議中有規(guī)定時,可采用橫波檢測。 缺陷的評定方法 缺陷指示長度的評定規(guī)則一個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。此時,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點即為缺陷的邊界點。 掃查方式,間距為 100mm 的平行線進行掃查。 標準試塊 用雙晶直探頭檢測壁厚小于或等于 20mm 的鋼板時,采用標準試塊如圖 8 — 1 所示。、尺寸、位置和分布。 試塊的外形尺寸應能代表被檢工件的特征,試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。 距離—波幅曲線的復核復核時,校核應不少于 3 點。 斜探頭校準使用前,斜探頭至少應進行前沿距離、 K 值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等的校準。 耦合補償在檢測和缺陷定量時,應對由表面粗糙度引起的能量損耗進行補償。 探頭的移動速度探頭的掃查速度不應超過 150mm/s 。 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能 在達到所探工件的最大檢測聲程時,其有效靈敏度余量應大于或等于 10dB 。水平線性誤差不大于 1%,垂直線性誤差不大于 5%。表 619 圓形缺陷的分級評定區(qū) mm mm 10 10 10 20母材厚度 T mm ≤ 3 3~5 5 ～ 10 10~20 20 ～ 30 30~50Ⅰ 1 2 3 4 5 6Ⅱ 2 4 6 8 10 12Ⅲ 4 8 12 16 20 24 等級Ⅳ 缺陷點數(shù)大于Ⅲ級或缺陷長徑大于 12 T 者注：①表中的數(shù)字是允許缺陷點數(shù)的上限。評定區(qū)應選在底片上缺陷最嚴重的部位,按表 616的規(guī)定評定。表 615 增感屏厚度 mmX 射線能量 前屏厚度 后屏厚度120kV 無或錫箔 ≥ 120 ～ 250kV ~ ≥前屏厚度 當 X 射線能量低于 120kV 時,可不采用前增感屏,如需要可采用錫箔作為前屏。如幾種缺陷的等級相同,則可降一級作為評定等級。h.Ⅰ級焊縫或母材厚度小于或等于 5mm 的Ⅱ級焊縫內(nèi)不計點數(shù)的圓形缺陷,在評定區(qū)內(nèi)不得多于 10 個。表 610 缺陷評定區(qū) mm母材厚度 T ≤ 20 20~80評定區(qū)尺寸 10 10 10 20 611 換算成點數(shù)。 焊縫缺陷等級評定 根據(jù)缺陷的性質(zhì)和數(shù)量,將焊縫缺陷分為四個等級:a.Ⅰ級焊縫內(nèi)應無裂紋、未熔合、未焊透、夾銅和條狀夾渣。表 68 未焊透的分級未焊透深度等級 占壁厚的百分比%極限深度mm 連續(xù)或斷續(xù)未焊透總長度占焊縫總長度的百分比%Ⅱ ≤ 10 ≤ ≤ 10Ⅲ ≤ 15 ≤ ≤ 15Ⅳ 大于Ⅲ級者注：母材厚度不同時,取薄的厚度值。表 66 圓形缺陷的分級評定區(qū) mm mm 10 10母材厚度 T mm ≤ 10 10 ～ 15 15ⅠⅡⅢ 1 3 6 2 6 12 3 9 18 等級Ⅳ 缺陷點數(shù)大于Ⅲ級或缺陷長徑大于 12 T 者注:①表中的數(shù)字是允許點數(shù)的上限。 圓形缺陷的確定和評級a. 圓形缺陷應按 的規(guī)定進行確定,但評定區(qū)應取為 10mm 10mm 。 未焊透或內(nèi)凹深度對比塊為檢測焊縫的未焊透和內(nèi)凹缺陷的深度,應采用附錄 E(補充件)規(guī)定的專用對比塊進行黑度比較。 對外徑大于 76mm 且小于或等于 89mm 的鋼管,其焊縫以雙壁雙投影法透照時,至少分二次透照,兩次間隔 90 176。④當兩個或兩個以上條狀夾渣在一直線上且相鄰間距小于或等于較小夾渣尺寸時,應作為單個連續(xù)夾渣處理,其間距也應計入夾渣長度,否則應分別評定。 綜合評級在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi),同時存在圓形缺陷和條狀夾渣或未焊透時,應各自評級,將級別之和減 1 作為最終級別。,且認為只用該評定區(qū)大小劃分級別不適當時,經(jīng)供需雙方協(xié)商,可將評定區(qū)沿焊縫方向擴大三倍,求出缺陷總點數(shù),用此值的 1/3 進行評定。它們可以是圓形、橢圓形、錐形或帶有尾巴(在測定尺寸時應包括尾巴)等不規(guī)則的形狀。 底片質(zhì)量應符合 條的規(guī)定。(或示意圖)。評片室內(nèi)的光線應暗淡,但不全暗,室內(nèi)照明用光不得在底片表面產(chǎn)生反射。表 57 底片的黑度范圍射線種類 底片黑度 D 灰霧度 D0 A 級AB 級 ~ X 射線B 級 ~ ≤ γ射線 ~ ≤ 注：表中 D 值包括了 D0 值 影象識別要求 底片上的象質(zhì)計影象位置應正確,定位標記和識別標記齊全,且不掩蓋被檢焊縫影象。 膠片的自動沖洗應注意精確控制膠片顯影、定影、水洗和干燥等工序的傳送速度及藥液補充。圖 57 減少散射線影響的方法 為檢查背散射,可在暗盒背面貼附一個“ B ”的鉛字標記(其高度為 13mm, 厚度為 )。通常情況下,隨著射線能量的減低,透照圖象的對比度增加。縱縫的 A 級和 AB 級的 K 值不大于 ,B 級的 K 值不大于 。②鉭箔或鎢箔增感屏獲得的檢測靈敏度比鉛箔高。不同材料、不同厚度的工件采用 A 級、 AB 級或 B 級時,在射線底片上必須顯示的最小象質(zhì)計線徑及相應的象質(zhì)指數(shù)見表 5 — 3 。表 52 不同線型象質(zhì)計適用的材料范圍象質(zhì)計材料 Fe 碳素鋼、不銹鋼 Ti 鈦合金 Al 鋁合金 Cu 銅合金適用材料范圍 黑色金屬 鈦及鈦合金 鋁及鋁合金 銅及銅合金 象質(zhì)計標志及代號象質(zhì)計應具有下列標志:標準編號—— JB 4730 線材代號—一 Fe 、 Ti 、 Al 、 Cu 等線徑編號—— R 10 系列。搭接標記的安放位置見附錄 A(補充件)。圖 51 透照方式示意圖(a)縱縫透照法 (b)環(huán)縫外透法 (c)環(huán)縫內(nèi)透法 (d)雙壁單影法 (e)雙壁雙影法注： C1 射線源不在部件中心； C2 射線源在部件中心。γ射線檢測操作中,每次都應測定工作場所和γ射線源容器附近的射線劑量,以便了解射源位置,免受意外照射。 無損檢測責任人員的職責 參與壓力容器及零部件制造的無損檢測責任工程師,有責任保證本標準在使用中的正確實施,有權(quán)拒絕受理不按本標準規(guī)定進行的任何檢測內(nèi)容。 檢測檔案中,對于檢測人員承擔檢測項目的相應資格等級和有效期應有記錄。串列基準線橫方形掃查 縱方形掃查圖 33 橫方形掃查及縱方形掃查 縱方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭,使其入射點相對串列基準線保持等距離且垂直于焊縫移動的掃查方法,見圖 33 。或是在 50mm 50mm的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有 5 個或 5 個以上的缺陷反射信號。 密集區(qū)缺陷在熒光屏掃描線相當于 50mm 聲程范圍內(nèi)同時有 5 個或 5 個以上的缺陷反射信號。熔合面參考線 坡口面 參