通用電子元件進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)[詳]-在線瀏覽
2025-05-26 05:32本頁(yè)面
【正文】 ,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢可焊性檢驗(yàn)MA，或完全不上錫不可接受?？ǔ呷粲糜谛碌腗odel，需在PCB上對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)行試插電性檢驗(yàn)MAa. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0。次要缺點(diǎn)(MI): 。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MA；。 在正常開(kāi)機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。（四） 三極管檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類(lèi)物料之依據(jù)。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。主要缺點(diǎn)(MA): 。5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。插槽(座)類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針amp。2. 適用范圍適用于本公司所有排針amp。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。主要缺點(diǎn)(MA): 。5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Mar
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