通用電子元件進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)[詳](編輯修改稿)
2025-05-05 05:32 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA，難以辨認(rèn)不可接受；，不可接受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可接受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MA；。測(cè)試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢 測(cè) 方 法 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體, 再接通電源開(kāi)機(jī)。 在正常開(kāi)機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開(kāi)機(jī)，看能否正常開(kāi)機(jī)顯示；在正常開(kāi)機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。（四） 三極管檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0。主要缺點(diǎn)(MA): 。次要缺點(diǎn)(MI): 。5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA；，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；，其面積不超 ,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；，或上錫不良，均不可接受。目檢10
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