電學半導體測試技術實踐-在線瀏覽
2025-05-13 02:55本頁面
【正文】 (packages with more than 1 die (formerly called hybrids) 自動測試設備 大規(guī)模集成電路會要求幾百次的電壓、電流和時序的測試，以及百萬次的功能測試步驟以保證器件的完全正確。 ATE是一種由高性能計算機控制的測試儀器的集合體，是由測試儀和計算機組合而成的測試系統(tǒng)，計算機通過運行測試程序的指令來控制測試硬件。為保持正確性和一致性，測試系統(tǒng)需要進行定期校驗，用以保證信號源和測量單元的精度。在CP測試中，Performance board和Probe card一起使用構成回路使電信號得以在測試系統(tǒng)和晶片之間傳輸。一種快速進行FT測試的方法是使用自動化的機械手（Handler），機械手上有一種接觸裝置實現(xiàn)封裝引腳到負載板的連接，這可以在測試機和封裝內的晶片之間提供完整的電路。 數(shù)字和模擬電路 過去，在模擬和數(shù)字電路設計之間，有著顯著的不同。每8個比特一組構成一個Byte，數(shù)字電路中的數(shù)據(jù)經(jīng)常以Byte為單位進行處理。模擬電路可以使用電壓或電流來表示數(shù)值，我們常見的也是最常用的模擬電路實例就是運算放大器，簡稱運放?！澳M”時鐘上的指針連續(xù)地移動，因此所有的任一時間值可以被觀察者直接讀出，但是所得數(shù)值的準確度或者說精度取決于觀察者認知的程度。如果有更高的精度需求，則需要增加數(shù)據(jù)位，每個新增的數(shù)據(jù)位表示最小的時間增量。另一種描述這種混合電路的方法則基于數(shù)字部分和模擬部分占到電路的多少：數(shù)字部分占大部分而模擬部分所占比例較少歸于數(shù)字電路，反之則歸于模擬電路。 測試系統(tǒng)的種類 一般認為測試系統(tǒng)都是通用的，其實大部分測試系統(tǒng)的設計都是面向專門類型的集成電路，這些專門的電路包括：存儲器、數(shù)字電路、模擬電路和混合信號電路；每種類型下還可以細分成更多種類，我們這里只考慮這四種類型。 帶內存的自動測試系統(tǒng)使用一種算法模式生成器（APG，algorithmic pattern generator）去生成功能測試模型，使得從硬件上生成復雜的功能測試序列成為可能，這樣我們就不用把它們當作測試向量來保存。APG在器件的每次測試時生成測試模型，而不帶內存的測試系統(tǒng)將預先生成的模型保存到向量存儲區(qū)，然后每次測試時從中取出數(shù)據(jù)。b 模擬或線形器件類相比于數(shù)字電路，模擬電路對很小的信號波動都很敏感，DC測試參數(shù)的要求也和數(shù)字電路不一樣，需要更專業(yè)的測試儀器設備，通常會按照客戶的選擇在設計中使用特殊的測試儀器甚至機架。c 混合信號器件類混合信號測試系統(tǒng)發(fā)展為兩個系列：大部分數(shù)字電路測試結構、少量模擬測試結構的系列，被設計成用于測試以數(shù)字電路為主的混合信號器件，它能有效地進行DC參數(shù)測試和功能測試，但是僅支持少量的模擬測試；大部分模擬電路測試結構、少量數(shù)字測試結構的系列，相反，能夠精確地測試模擬參數(shù)而在功能測試上稍遜風騷。 僅含有數(shù)字邏輯的電路器件可使用數(shù)字電路測試系統(tǒng)來完成測試，這些測試系統(tǒng)之間在價格、性能、尺寸、可選項上有著明顯的不同。 低端的測試機被用來測試低價格或者低性能的低端產(chǎn)品，通常是些管腳少、復雜度低的器件；一般運行于低于20MHz的時鐘頻率，且只能存儲少量的測試向量；用于小規(guī)模（SSI）或中規(guī)模（MSI）集成電路的測試。它們被用于驗證新的超大規(guī)模（VLSI）集成電路，但是昂貴的成本阻礙了他們用于生產(chǎn)測試。這類測試設備多運行在50100MHz，提供256個測試通道，通常帶有一些可選的配置。 在CP測試中，負載板連接ProbeCard；在手工測
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