【正文】 的實(shí)際截面形狀等同于Φ2mm橫通孔的橫截面形狀()()(),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過(guò)高(),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過(guò)低(),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較高的探測(cè)頻率(),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較低的探測(cè)頻率(),脈沖重復(fù)頻率選擇太高是產(chǎn)生幻像波的重要原因之一()，以絕對(duì)靈敏度法的靈敏度最高，因此測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度偏大(),測(cè)長(zhǎng)靈敏度高,測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大()(),回波低的未必是小缺陷(),常采用較小折射角的探頭,這是為了縮短聲程,減少聲路上的聲能衰減,提高探測(cè)靈敏度(),如果復(fù)合界面有分層時(shí)其界面回波會(huì)降低(),如果復(fù)合界面有分層時(shí)其界面回波會(huì)增高()()()()()()()()()()()(),當(dāng)楔塊底面后部磨損較大時(shí),其折射角將變小(),當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí),其折射角將變小(),探測(cè)頻率較高時(shí),缺陷回波不易被探頭接收(),依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準(zhǔn)確地判斷缺陷性質(zhì)(),依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形就已經(jīng)可以準(zhǔn)確判斷缺陷的性質(zhì)(),僅僅依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形還不可以準(zhǔn)確判斷缺陷的性質(zhì)(),通常利用調(diào)整偏心距的方法來(lái)調(diào)節(jié)入射角(),入射角的選擇通常是利用調(diào)整偏心距來(lái)實(shí)現(xiàn)的(),入射角的選擇通常是利用調(diào)整水距來(lái)實(shí)現(xiàn)的(),折射角的調(diào)整是通過(guò)調(diào)節(jié)水層距離實(shí)現(xiàn)的()(t/D)＞,在用純橫波檢查縱向缺陷時(shí),中心聲束會(huì)達(dá)不到管子的內(nèi)壁()(t/D)＜,在用純橫波檢查縱向缺陷時(shí),中心聲束會(huì)達(dá)不到管子的內(nèi)壁(),(),(),屬于縱波垂直法探傷(),屬于橫波探傷(),鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越大(),鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越小(),鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越小(),鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越大(),應(yīng)從順,逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次(),只需從一個(gè)方向探傷一次即可(),水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗,改善透聲性(),水中加入適量活性劑是為了改善水的潤(rùn)濕性,減少附著在探頭和鋼管表面的氣泡(),如鋼管中無(wú)缺陷,熒光屏上只有始波和界面波()()()()(),對(duì)水層距離的要求是使第二次界面回波落在第一次底波之后,并且盡可能利用距離振幅曲線(xiàn)上的高聲壓區(qū)(),有關(guān)缺陷的定性定量問(wèn)題已經(jīng)解決(),一般來(lái)說(shuō)以縱波直探頭作徑向探測(cè)效果最佳(),一般來(lái)說(shuō)以斜探頭作周面弦向探測(cè)效果最佳(),一般來(lái)說(shuō)以斜探頭作周面軸向探測(cè)效果最佳(),探頭應(yīng)作正反兩個(gè)方向掃查(),只需作一個(gè)方向掃查即可()()()(),如底波明顯下降或消失而不是聲接觸不良引起時(shí),說(shuō)明鍛件中可能存在較嚴(yán)重的缺陷()()(),擴(kuò)散衰減和散射衰減()(),若探頭底面前部修磨量大,則探頭的入射角增大(),若探頭底面后部修磨量大,則探頭的入射角增大(),按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線(xiàn)的目的是為了方便確定缺陷位置(),按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線(xiàn)的目的是為了方便確定缺陷大小()(),減少聲能損失(),水距的選擇在任何情況下只要保證第二次界面回波落在第一次底面回波之后就可以了(),使用的超聲檢測(cè)頻率應(yīng)當(dāng)越高,耦合劑粘度應(yīng)當(dāng)越稀(),使用的超聲檢測(cè)頻率應(yīng)當(dāng)越低,耦合劑粘度應(yīng)當(dāng)越稠(),交點(diǎn)離探測(cè)面距離越遠(yuǎn),覆蓋區(qū)越大(),交點(diǎn)離探測(cè)面距離越遠(yuǎn),覆蓋區(qū)越大(),可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸(),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜(),其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)(),唯有利用透聲斜楔使縱波傾斜入射到界面上(),探傷面曲率半徑越大,耦合效果越好(),探傷面曲率半徑越小,耦合效果越好(),探傷面曲率越大,耦合效果越好(),探傷面曲率越小,耦合效果越好(),才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度(),無(wú)法采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度()(N=D2/4λ)的鍛件,采用超聲波檢測(cè)法測(cè)定材質(zhì)衰減系數(shù)時(shí)的基本公式是:X=[20lg(B1/B2)]/2S(注:式中N近場(chǎng)長(zhǎng)度,D探頭晶片直徑,λ超聲波在材料中的波長(zhǎng),B1和B2分別為第一、二次底波高度,S工件厚度)()，若熒光屏上同時(shí)存在底波和傷波,說(shuō)明鋼板中存在小于聲束直徑的缺陷(),通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷(),不但要根據(jù)缺陷波情況，還要視底波變化情況來(lái)判定缺陷(),可從母材一側(cè)探傷,也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷(),當(dāng)探頭作原位擺動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),波幅無(wú)明顯變化(),對(duì)所發(fā)現(xiàn)的缺陷必須測(cè)量其指示長(zhǎng)度是為了便于評(píng)價(jià)與返修(),可以采用純橫波法檢測(cè)該管材內(nèi)外壁缺陷(),檢測(cè)盲區(qū)越小,分辨率越低()(),相對(duì)傾角越大,焦距越短(),相對(duì)傾角越小,焦距越長(zhǎng)(),相對(duì)傾角越大,焦距越長(zhǎng)(),相對(duì)傾角越小,焦距越短(),和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是U型缺口槽(),和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是V型缺口槽(),和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是平底孔(),和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是柱孔(),和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是橫孔(),較適宜的方法是選用組合雙晶探頭(),取向,表面粗糙度以及內(nèi)涵物等都會(huì)對(duì)缺陷回波高度有影響()()()()，但不能展示其深度()()()，若遇到有游動(dòng)訊號(hào)出現(xiàn)，則說(shuō)明軸的內(nèi)部存在危險(xiǎn)性缺陷()，超聲波的散射會(huì)影響試驗(yàn)結(jié)果()，如果使用的重復(fù)頻率過(guò)高，在探測(cè)粗晶材料時(shí)會(huì)出現(xiàn)林狀回波()，必須考慮儀器重復(fù)頻率對(duì)檢驗(yàn)速度的影響()，探頭掃查移動(dòng)方向以垂直于鋼板壓延方向較好()，探頭直徑增大時(shí)，缺陷波增高，但底波高度不變()、前沿陡峭()()，所以管子探傷必須采用水浸聚焦方法()，有時(shí)采用斜探頭進(jìn)行探傷，有時(shí)則應(yīng)當(dāng)采用直探頭進(jìn)行探傷()，可采用直探頭、組合雙晶探頭、斜探頭進(jìn)行探傷()，只有徑向缺陷才會(huì)產(chǎn)生游動(dòng)信號(hào)()，因此在鑄件的超聲波檢測(cè)中，檢測(cè)的重點(diǎn)應(yīng)放在澆冒口部位，其它部位可以不檢查或做一般性檢查()()，在檢測(cè)過(guò)程中探頭移動(dòng)速度就可以不須限制()()()()，發(fā)射強(qiáng)度愈弱()“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線(xiàn)上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變()，減少機(jī)械損耗()，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍()，熒光屏上的多次反射回波是等距離的()，可先調(diào)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平10%，再進(jìn)行測(cè)試()“始波寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大()，在滿(mǎn)足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些()()，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低()()，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度()，通常只根據(jù)缺陷波情況判別定缺陷()，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說(shuō)明缺陷的尺寸一定較大()，亦可采用常規(guī)斜探頭作接觸法周向探傷()，其跨距比同厚度平板大()，裂紋等危害性缺陷的反射波幅總是很高的()，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響()，缺陷尺寸未必一定較大()，僅表示鋼板中無(wú)當(dāng)量超過(guò)調(diào)整起始靈敏度的基準(zhǔn)平底孔的缺陷()，說(shuō)明鋼板中無(wú)缺陷()，主要是用當(dāng)量法測(cè)定的()，在焊縫一側(cè)用全跨距探傷，可以?huà)卟榈秸麄€(gè)焊縫截面，但仍然有必要從焊縫兩側(cè)探傷()，表面粗糙的零件作超聲波檢測(cè)時(shí)，通常使用頻率較高的探頭和粘度較高的耦合劑()，表面粗糙的零件作超聲波檢測(cè)時(shí)，通常使用頻率較低的探頭和粘度較低的耦合劑()，在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，探傷靈敏度往往會(huì)明顯偏低()，在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，探傷靈敏度往往會(huì)明顯偏高()，常會(huì)發(fā)現(xiàn)小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高()，小缺陷的多次反射回波中肯定第二次要比第一次低()，還可以采用斜探頭接觸法()問(wèn)答題,如下圖所示在第一次底波與第二次底波之間前兩個(gè)遲到波各是什么波型?（前面為L(zhǎng)LL波,后面為L(zhǎng)SL波） 2．何謂超聲波？它有哪些重要特性？答：頻率高于20000Hz的機(jī)械波稱(chēng)為超聲波。②超聲波的能量高。④超聲波穿透能力強(qiáng)。②要有能傳播超聲振動(dòng)的彈性介質(zhì)（如受檢工件或試塊）。斜入射到鋼中的反射與折射情況:C鈦L=6150m/s C鋼L=5850m/s介質(zhì)傳播橫波時(shí)，介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)受到交變的剪切應(yīng)力作用，液體介質(zhì)不能承受剪切應(yīng)力，故橫波不能在液體中傳播。對(duì)一定的介質(zhì)，彈性模量和密度為常數(shù)。②超聲波波型不同時(shí)，聲速也不一樣。③介質(zhì)尺寸大小及介質(zhì)溫度對(duì)聲速也有一定影響。②相遇后的各列波仍保持它們各自原有的特性（頻率、波長(zhǎng)、振幅、振動(dòng)方向等）不變，并按照各自原來(lái)的傳播方向繼續(xù)前進(jìn)。11．何謂超聲波聲場(chǎng)？超聲波聲場(chǎng)的特征量有哪些？答：充滿(mǎn)超聲波的空間或超聲振動(dòng)所波及的部分介質(zhì)，稱(chēng)為超聲波聲場(chǎng)。聲壓：超聲波聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一瞬時(shí)所具有的壓強(qiáng)P與沒(méi)有超聲波存在時(shí)同一點(diǎn)的靜壓強(qiáng)P之差，稱(chēng)為該點(diǎn)的聲壓。常用I表示。12．什么是波型轉(zhuǎn)換？波型轉(zhuǎn)換的發(fā)生與哪些因素有關(guān)？答：①超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，除產(chǎn)生入射波同類(lèi)型的反射和折射波外，還會(huì)產(chǎn)生與入射波不同類(lèi)型的反射或折射波，這種現(xiàn)象稱(chēng)為波型轉(zhuǎn)換。13．什么是超聲波的衰減？引起超聲衰減的主要原因有哪些？答：超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，隨著傳播距離的增加，超聲波的能量逐漸減弱的現(xiàn)象稱(chēng)為超聲波的衰減。這種衰減叫擴(kuò)散衰減。②散射衰減：超聲波在傳播過(guò)程中，遇到由不同聲阻抗介質(zhì)組成的界面時(shí)，發(fā)生散射（反射、折射或波型轉(zhuǎn)換），使聲波原傳播方向上的能量減少。材料中晶粒粗大（和波長(zhǎng)相比）是引起散射衰減的主要因素。這種衰減稱(chēng)為吸收衰減，又稱(chēng)粘滯衰減。14．什么是壓電晶體？舉例說(shuō)明壓電晶體分為幾類(lèi)？答：①某些晶體受到拉力或壓力產(chǎn)生變形時(shí)，在晶體界面上出現(xiàn)電荷的現(xiàn)象稱(chēng)為正壓電效應(yīng)。正、逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱(chēng)為壓電效應(yīng)。由于它們多為非金屬電介質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)，故又稱(chēng)為壓電晶體。多晶體：如鈦酸鋇、鈦酸鉛、鋯鈦酸鋁（PZT）等。同一壓電晶體有不同的上居里溫度和下居里溫度。②對(duì)高溫工件進(jìn)行探傷時(shí)，應(yīng)選用上居里點(diǎn)較高的壓電晶片制作探頭。16．探頭保護(hù)膜的作用是什么？對(duì)它有哪些要求？答：①保護(hù)膜加于探頭壓電晶片的前面，作用是保護(hù)壓電晶片和電極，防止其磨損和碰壞。17．聲束聚焦有什么優(yōu)點(diǎn)？簡(jiǎn)述聚焦探頭的聚焦方法和聚焦形式？答：①聚焦的聲束，聲能更為集中，中心軸線(xiàn)上的聲壓增強(qiáng)，同時(shí)可改善聲束指向性，對(duì)提高探傷靈敏度、分辯力和信噪比均為有利。③聚焦形式：點(diǎn)聚焦和線(xiàn)聚焦。主聲束的擴(kuò)散角按零階貝塞爾函數(shù)計(jì)算出其主瓣的錐角范圍，即J1(X)=J1(kasinθ)，J1(X)有很多根，其中最小的根為X0=，則sinθ0=()(λ/a)=()(λ/2a) 主聲束的范圍最大，聲源發(fā)射的聲能主要集中在主聲束中。聲束副瓣（即副聲束）通常出現(xiàn)在鄰近探頭晶片的一個(gè)區(qū)域內(nèi)，旁側(cè)于主波束。晶片尺寸和波長(zhǎng)之比不同，副聲束的能量和輻射方向也不相同。近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度用N表示，它取決于晶片的直徑D（或面積As）和波長(zhǎng)λ，用公式N=D2/4λ=As/πλ表示。近場(chǎng)區(qū)也稱(chēng)為干涉區(qū)，干涉現(xiàn)象對(duì)探傷有很大影響，探傷時(shí)要盡量避免。遠(yuǎn)場(chǎng)中各子波傳播的距離已經(jīng)很長(zhǎng)，相位幾乎相等，各量可簡(jiǎn)單相加。遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)的大小由晶片尺寸、波長(zhǎng)、介質(zhì)的聲學(xué)特性及激勵(lì)晶片的電壓決定。該區(qū)域內(nèi)的平均聲壓可以看做常數(shù)，自此點(diǎn)開(kāi)始主聲束擴(kuò)散，形成錐體。反之，當(dāng)把這種物體放在電場(chǎng)中，它自身產(chǎn)生形變，稱(chēng)為逆（或負(fù)）壓電效應(yīng)。？答：①超聲波有良好的指向性，在超聲波檢測(cè)中，聲源的尺寸一般都大于波長(zhǎng)數(shù)倍以上，聲束能集中在特定方向上，因此可按幾何光學(xué)的原理判定缺陷位置。③超聲波檢測(cè)中，由于頻率較高，固體中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)是難以察覺(jué)的。④超聲波在固體中容易傳播。在固體中，超聲波傳輸損失小，探測(cè)深度大。[提示]：應(yīng)從兩種方法的靈敏度高低、檢測(cè)厚度范圍、易發(fā)現(xiàn)的缺陷形狀以及安全防護(hù)和經(jīng)濟(jì)性等方面進(jìn)行比較(實(shí)線(xiàn)為原始斜楔面,虛線(xiàn)為磨損後的斜楔面)折射角：，折射聲軸線(xiàn)：，26．簡(jiǎn)述超聲波檢測(cè)儀中，同步電路的主要作用？答：同步電路又稱(chēng)觸發(fā)電路，它每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個(gè)觸發(fā)脈沖，觸發(fā)探傷儀的掃描電路，發(fā)射電路等，使之步調(diào)一致，有條不紊地工作，因此，同步電路是整個(gè)探傷儀的指揮“中樞”。但改變阻值也會(huì)改變探頭電阻尼大小，影響分辨力。29．超聲波檢測(cè)儀的“抑制”旋鈕有什么作用？答：調(diào)節(jié)“抑制旋鈕”可使低于某一電平的信號(hào)在熒光屏上不予顯示，從而減少熒光屏上雜波。30．超聲波檢測(cè)儀的主要性能指標(biāo)有哪些？答：超聲波檢測(cè)儀性能是指僅與儀器有關(guān)的性能，主要有水平線(xiàn)性，垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍等：①水平線(xiàn)性：也稱(chēng)時(shí)基線(xiàn)性或掃描線(xiàn)性，是指檢測(cè)儀掃描線(xiàn)上顯示的反向波距離與反射體距離成正比的程度。②垂直線(xiàn)性：也稱(chēng)放大線(xiàn)性或幅度線(xiàn)性，是指檢測(cè)儀熒光屏上反射波高度與接收信號(hào)電壓成正比的程度。③動(dòng)態(tài)范圍：是檢測(cè)儀熒光屏上反射波高從滿(mǎn)幅（垂直刻度100%）降至消失時(shí)（最小可辯認(rèn)值）儀器衰減器的變化范圍。31．簡(jiǎn)述超聲波檢測(cè)系統(tǒng)的主要性能指標(biāo)有哪些？答：系統(tǒng)性能是儀器，電纜、探頭特性的綜合反映，即檢測(cè)儀和探頭的組合性能，主要有信噪比，靈敏度余量，始波寬度，盲區(qū)和分辯力：①信噪比：是檢測(cè)儀熒光屏上界面反向波幅與最大雜波幅度之比。②靈敏度余量：也稱(chēng)綜合靈敏度。以此時(shí)衰減器的讀數(shù)（dB）表示。④盲區(qū)：是探測(cè)面附近不能探出缺陷的區(qū)域。⑤分辨力：是在檢測(cè)儀熒光屏上能夠把兩個(gè)相鄰缺陷作為兩個(gè)反射信號(hào)區(qū)別出來(lái)的能力。通常所說(shuō)的分辯力是指縱向分辯力。32．什么是底面多次回波法？該法主要用于哪些場(chǎng)合？答：依據(jù)底面回波次數(shù)，判斷試件有無(wú)缺陷和缺陷嚴(yán)重程度的探傷法稱(chēng)為底面多次回波法。②工件厚度不大，形狀簡(jiǎn)單，探