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uti講義設(shè)備ppt課件(2)-在線瀏覽

2025-03-03 07:40本頁面
  

【正文】 ? 產(chǎn)生電脈沖激發(fā)超聲探頭發(fā)射超聲波,同時(shí)接收來自探頭的電信號(hào)并顯示,得到顯示的幅度、位置等信息。 主要使用 A型脈沖反射式超聲探傷儀 。 A型脈沖反射式超聲探傷儀框圖 工作原理 ? 同步電路產(chǎn)生同步脈沖,觸發(fā)掃描電路和發(fā)射電路。 此外,發(fā)射電路產(chǎn)生高壓脈沖,加于探頭晶片,電能轉(zhuǎn)化為聲能。其被探頭接收,聲能轉(zhuǎn)化為電能輸入接收電路。 顯示的位置反映了缺陷的聲程,波高反映缺陷的當(dāng)量大小。 。 反之,晶體材料在 交變電場(chǎng) 作用下產(chǎn)生交變應(yīng)力和形變的現(xiàn)象叫 逆壓電效應(yīng) 。 一般,超聲探頭晶片是利用壓電效應(yīng)工作的。 4)探測(cè)近表面盲區(qū)大,分辨力低。 作用: 1)阻尼晶片振動(dòng),減小脈沖寬度(持續(xù)振動(dòng)時(shí)間),提高分辨力,減小盲區(qū)。 3)支撐晶片。 硬保護(hù)膜 (剛玉)適用于光潔度高的表面(如鍛件表面); 軟保護(hù)膜適用于光潔度低或表面較軟的工件表面(如軸瓦合金)。 斜探頭主要結(jié)構(gòu) 橫波斜探頭與直探頭的主要區(qū)別: 1)多透聲斜楔: 實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換,使工件中只存在折射橫波 特點(diǎn):縱波聲速小于工件縱波聲速 衰減系數(shù)適當(dāng) 耐磨宜加工 加工吸聲槽,減少反射雜波 2)少保護(hù)膜 晶片不與工件直接接觸 30 176。 等 45176。 70176。 制作成本高,覆蓋深度有限。 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 MHz 元素縮寫符號(hào) mm 拼音縮寫 K, MM (1) 直探頭型號(hào)舉例 (,鈦酸鋇晶片,直徑20mm,直探頭) (2)斜探頭型號(hào)舉例 5P8 6K1(5MHz,鋯鈦酸鉛晶片,8 6mm,斜探頭, K=1) 3試塊 定義:超聲檢測(cè)中,特定材料設(shè)計(jì)制作的有專門用途的試樣。 如 CSI, CSKIIA (1)平底孔試塊 (2)橫孔試塊 (RB3) (3)槽形試塊(矩形槽, V形槽, U形槽) (4)自然缺陷試塊 (1)鋼管試塊 (2)鋼板試塊 (CBII216。 1955年荷蘭人提出; 1958年國際焊接學(xué)會(huì)通過并命名為 IIW試塊; ISO組織推薦使用。 70 176。 適用的厚度范圍不同 ( 8120mm; 120mm以上) 圖 CSKIB 試塊 ( GB1134589) 焊縫超聲探傷用 216。 RB1 RB2 RB3 圖 CSKIB 試塊 、對(duì)比試塊的要求 形狀要求:小,輕,宜加工,攜帶
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