uti講義設(shè)備ppt課件(2)-文庫吧資料
2025-01-20 07:40本頁面
【正文】 塊 圖 CSKIB 試塊 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定斜探頭的入射點、折射角（ K值） 調(diào)節(jié)靈敏度 圖 CSKIB 試塊 （中心切槽 /不切槽） 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定斜探頭的入射點 調(diào)節(jié)靈敏度 圖 CSKIB 試塊 65 176。5平底孔） (3)焊縫試塊 (4)葉根試塊 1352309 φ 22554144 14全部20919919153R1R210 10 鋼、鋁壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測對比試塊 （國際焊接協(xié)會 /荷蘭 /船形） (1)材質(zhì)： 20g (2)用途 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定直探頭與儀器的分辨力、盲區(qū)、最大穿透能力 測定斜探頭的入射點、折射角（ K值）、聲束偏斜。 ： 1）測試儀器和探頭性能 2）調(diào)節(jié)掃描速度和靈敏度 3）判定缺陷大小 4）測定材料聲學(xué)性質(zhì)（聲速，衰減等） (1)標(biāo)準(zhǔn)試塊（ STB） 如 IIW和 IIW2試塊 (2)參考試塊 /對比試塊（ RB） 各部門依據(jù)具體檢測對象的探傷需要制定的試塊。 雙晶探頭結(jié)構(gòu) ：點聚焦，線聚焦 /水浸聚焦，接觸聚焦 ： 點聚焦：靈敏度高，分辨力高； 但覆蓋范圍??； 線聚焦：靈敏度高， 覆蓋范圍略大。 等 K標(biāo)稱 k=1,2,3等 雙晶探頭 ：一個發(fā)射 /一個接收 雙晶縱波 雙晶橫波 ：靈敏度高；雜波少盲區(qū)小 近場長度?。ㄑ舆t塊的采用） 探測范圍可調(diào) 主要用于探傷近表面缺陷。 60176。 ， 45 176。 斜探頭 ： 主要有縱波（ ?L ?1 ） 橫波（ ?1 ?L ?II ） 表面波（ ?L ≥ ?II ） 板波探頭 ：聲束傾斜入射 適用于探測與探測面成一定角度的缺陷，如焊縫、管材、鍛件的探傷。 ：保護晶片不致磨損或損壞。 2）吸收晶片背面雜波，提高信噪比。 直探頭主要結(jié)構(gòu) 2. 阻尼塊和吸聲材料 : 以 逆壓電效應(yīng)發(fā)射 超聲波 以 正壓電效應(yīng)接收 超聲波 特點： 尺寸越大，發(fā)射能量越大 指
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