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2025-01-11 07:40 本頁面
【正文】 信噪比高，雜波少，對探傷有利。 ? 分辨力是指在屏幕上 區(qū)分相鄰兩缺陷的能力 。 ? 始波寬度是指在一定的靈敏度下，屏幕上高度超過垂直幅度 20％時的始波延續(xù)長度。 在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于 10dB。 發(fā)現(xiàn)缺陷愈小，靈敏度就愈高。 平行移動探頭，同一反射體產(chǎn)生兩個波峰的現(xiàn)象 稱為雙峰 。 測定探頭的入射點(diǎn)和前沿長度是為了便于對缺陷定位和測定探頭的 K值。 水平線性誤差 ≤1% （ JB47302022） 3)動態(tài)范圍 動態(tài)范圍是指儀器屏幕容納信號大小的能力。 常用耦合劑 (1)水 (2)甘油 (3)機(jī)油 (4)化學(xué)漿糊 圖 CSKIB 試塊 4儀器和探頭性能及測試 1)垂直線性 ； 儀器的垂直線性是指儀器屏幕上的 波高 與探頭接收的信號之間成正比的程度 。 圖 CSKIB 試塊 1）編號登記管理； 2）使用、運(yùn)輸中注意保護(hù)； 3）防銹的問題； 4）使用時，清除反射體內(nèi)的油污； 5）妥善保管，防止重壓和火烤，防止變形。 適用的厚度范圍不同 （ 8120mm； 120mm以上） 圖 CSKIB 試塊 （ GB1134589） 焊縫超聲探傷用 216。 1955年荷蘭人提出； 1958年國際焊接學(xué)會通過并命名為 IIW試塊； ISO組織推薦使用。 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 MHz 元素縮寫符號 mm 拼音縮寫 K， MM (1) 直探頭型號舉例 (,鈦酸鋇晶片，直徑20mm，直探頭） (2)斜探頭型號舉例 5P8 6K1(5MHz,鋯鈦酸鉛晶片，8 6mm，斜探頭， K=1） 3試塊 定義：超聲檢測中，特定材料設(shè)計制作的有專門用途的試樣。 70176。 斜探頭主要結(jié)構(gòu) 橫波斜探頭與直探頭的主要區(qū)別： 1）多透聲斜楔： 實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換，使工件中只存在折射橫波 特點(diǎn)：縱波聲速小于工件縱波聲速 衰減系數(shù)適當(dāng) 耐磨宜加工 加工吸聲槽，減少反射雜波 2）少保護(hù)膜 晶片不與工件直接接觸 30 176。 3）支撐晶片。 4）探測近表面盲區(qū)大，分辨力低。 反之，晶體材料在 交變電場 作用下產(chǎn)生交變應(yīng)力和形變的現(xiàn)象叫 逆壓電效應(yīng) 。 顯示的位置反映了缺陷的聲程，波高反映缺陷的當(dāng)量大小。 此外，發(fā)射電路產(chǎn)生高壓脈沖，加于探頭晶片，電能轉(zhuǎn)化為聲能。 主要使用 A型脈沖反射式超聲探傷儀 。 波的
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