19計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)spc-展示頁
2025-02-28 07:43本頁面
【正文】 子組在 25個(gè)以上，這樣可以全面檢 驗(yàn)過程的穩(wěn)定性。 (3)確定子組額率 適當(dāng)?shù)淖咏M頻率可以區(qū)分特殊原因引起的過程變化，在確定抽樣頻率時(shí)需綜合考慮過程穩(wěn)定性和經(jīng)濟(jì)性。 。 P圖控制的過程和特性。 6 P圖 P圖是一種使用頻率較高的計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，P圖可以監(jiān)控某個(gè)過程不合格品的百分比的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因．本節(jié)將對 P圖做以詳細(xì)討論。 N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和。 計(jì)算過程能力的度量指數(shù) 對于各計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，能力計(jì)算指數(shù)如下表： 4 過程能力的度量 控制圖種類 能力指數(shù) 計(jì)算公式 P圖 Pn圖 U圖 C圖 PPUC NpniPki??? 1pniPki?? 1NciUki?1NciCki??? 15 過程能力的度量 上圖計(jì)算公式中 K=子組數(shù) P ni=第 i個(gè)子組的不合格品數(shù) .i=1??K 。 3 過程能力的度量 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力的解釋計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖的過程能力與計(jì)算值數(shù)據(jù)有所不同，計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點(diǎn)直接表明了不符合客戶要求的百分?jǐn)?shù)或不合格品數(shù) (或缺陷數(shù) )，而計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點(diǎn)顯示的是過程實(shí)際生產(chǎn)的產(chǎn)品與規(guī)格比較的結(jié)果。 測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍 如果測量系統(tǒng)誤差太大，則測量數(shù)據(jù)不能反映真值 ,可能會(huì)使控制圖的結(jié)論出錯(cuò)。 1 計(jì)算值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)的過程能力反映的是僅有普通原因作用時(shí)過程滿足要求的能力，在分析控制圖并通過改善消除了過程變異的特殊原因后，可以對過程能力進(jìn)行計(jì)算。計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖概述 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖用以控制不可以用計(jì)量值數(shù)據(jù)進(jìn)行度量的質(zhì)量物性，通常而言，計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)只用兩種狀態(tài)來衡量．如合格／不合格，通過 /未通過 ,良 /不良等。計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖也是一種廣為使用的過程控制工具。 2 分析計(jì)算值數(shù)據(jù)過程能力時(shí)的假設(shè) 分析計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)過程能力時(shí)，通?；谝韵录僭O(shè)條件 : l、過程處于受控狀態(tài) 過程處于受控狀態(tài)是過程能力研究的基礎(chǔ)，這一點(diǎn)對計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖和計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖來說是一樣的。以上假設(shè)在過程能力計(jì)算前需首先驗(yàn)證。計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力定義為不合格品，缺陷數(shù)的平均不合格率或缺陷率。 Ci=第 i個(gè)子組的缺陷數(shù)， i=1??K 。 用過程能力指數(shù)評價(jià)過程 對于計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)而言，通過過程能力指數(shù)可以直觀地判斷過程產(chǎn)生合格品的能力．從而為過程改善打好基礎(chǔ)。 制作 P圖前的準(zhǔn)備 為了 P圖能順利制作并發(fā)揮其應(yīng)用作用，在制作 P圖前應(yīng)做以下準(zhǔn)備： 。 。 7 控制 P控制圖 正確制作 P控制圖，是進(jìn)行過程控制及改善的基礎(chǔ)，制作 P控制圖的流程如下： 收集數(shù)據(jù) (1)進(jìn)行測量系統(tǒng)分析 (2)確定子組樣本容量 一般而言， P圖的每個(gè)子組的樣本容量需大于 50。一般而言， P圖的子組間時(shí)間間隔不可過大。 8 建立控制圖 . P 式中 :Pi=第 i個(gè)子組的不合格品率 ,i=1?K ni=第 i個(gè)子組的檢驗(yàn)數(shù)量 ,i=1?K Pni=第 i個(gè)子組的不合格品數(shù) ,i=1?K K=子組數(shù) Pi描點(diǎn)于 P控制圖上 . 描點(diǎn)前需確定適當(dāng)?shù)淖鴺?biāo)軸刻度 ,不可太大或太小 . niPP nii ?9 計(jì)算控制界限 式中 : =過程不合格品率的平均值 N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和 Pni=第 i個(gè)子組的不合格品數(shù) ,i=1?K NPniPki??? 110 計(jì)算控制界限 式中 :UCLP=P圖上控制界限 LCLP=P圖下控制界限 ni=各子組樣本容量 ,i=1?K 從公式可知 ,P圖的控制界限不是恒定值 ,而是不同的子組有不同的控制界限 . P控制圖上 niPPPU CL P /)1(3 ??? niPPPLC L P /)1(3 ???11 分析 P控制圖 制作 P目的目的在于區(qū)分引起過程變異的特殊原團(tuán)和普通原因以針對性進(jìn)行過程改善 ,因此分析控制圖是 P控制圖的關(guān)鍵環(huán)節(jié) . P控制圖對過程異常進(jìn)行判斷時(shí)從兩個(gè)方面進(jìn)行，分別為超出控制界限和控制界限期的圖形趨勢。 14 分析 P控制圖 控制界限內(nèi)的圖形趨勢。 18 分析過程能力 在 P圖顯示過程受控以后，可以對過程能力進(jìn)行分析 ,在分析過程能力以前，計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析的假設(shè)條件須首先得到滿足。 確定需控制的項(xiàng)日 本例用 P圖控制的項(xiàng)目為
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