【正文】 ? 對(duì)過(guò)程的普通原因進(jìn)行改善后。 32 Pn圖應(yīng)例 某公司擬對(duì)其所生產(chǎn)的一種電子產(chǎn)品 A在經(jīng)過(guò)環(huán)境試驗(yàn)后的不合格狀況進(jìn)行監(jiān)控，因?yàn)槊看芜M(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)的樣品數(shù)是恒定的 ,因此他們確定有 Pn圖對(duì)環(huán)境試驗(yàn)的不良率進(jìn)行控制，應(yīng)用流程如下： 確定需控制的過(guò)程 本例選定的用 Pn圖進(jìn)行控制的過(guò)程為 A產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)過(guò)程。 小組取得的數(shù)據(jù)如下圖： 計(jì)算控制界限 (1)計(jì)算 = (2)計(jì)算控制界限 ① 為計(jì)算方便，如果子組容量的變化范圍在 25％以內(nèi)變化，則可以將控制界限下式計(jì)算 P22 P圖應(yīng)用例 測(cè)量系統(tǒng)分析 經(jīng)小組分析認(rèn)為該測(cè)量系統(tǒng)可接受。 。計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖概述 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖用以控制不可以用計(jì)量值數(shù)據(jù)進(jìn)行度量的質(zhì)量物性，通常而言，計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)只用兩種狀態(tài)來(lái)衡量．如合格／不合格，通過(guò) /未通過(guò) ,良 /不良等。 。 確定抽樣數(shù)及頻率 小組確定現(xiàn)察所有數(shù)據(jù)．每小時(shí)約測(cè)試 200PCS，觀察頻率為每小時(shí)一次。 確定需控制的項(xiàng)目 本例中 Pn圖控制的項(xiàng)目為 A產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)過(guò)程韻不合格品數(shù)。 51 分析過(guò)程能力 ? U圖顯示過(guò)程受控后，可對(duì)過(guò)程能力進(jìn)行分析， ? 在分析能力時(shí)，過(guò)程需滿足以下假設(shè)條件： ? A、過(guò)程受控 ? B、測(cè)量系統(tǒng)誤差在可接受范圍 ? ? U圖對(duì)應(yīng)過(guò)程能力的度量指數(shù)為 ，即過(guò)程缺陷數(shù)的平均值。 ? 確定子組數(shù) ? 一般要求子組數(shù)在 25個(gè)以上．選樣可以全面撿驗(yàn)過(guò)程穩(wěn)定性 . 48 計(jì)算控制界限 ? 計(jì)算過(guò)程缺陷數(shù)的平均值 ? 式中 : =過(guò)程缺陷數(shù)的平均值 Ci=第 i個(gè)子組的缺陷數(shù) ,i=1?K K=子組數(shù) N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和 NciUki??? 149 計(jì)算控制界限 ? 式中 :UCLU=U控制圖上控制界限 UCLU=U控制圖上控制界限 UCLU=U控制圖上控制界限 Ni=各子組樣本容量 ,i=1?K U控制圖上 . UCLnCULCLnCUUCLuiuiu?????/3/350 計(jì)算控制界限 ? 分析 U控制圖 ? U圖的分析方法與 C圖相同 ? 控制界限的更新 ? U圖的控制界限建立后并非一成不變，而需根據(jù)實(shí)際控制狀況加以調(diào)整，在過(guò)程發(fā)生以下變化時(shí)，需重新計(jì)算控制界限： ? 過(guò)程流程發(fā)生變化 ? 現(xiàn)有過(guò)程出現(xiàn)失控，經(jīng)過(guò)改善使過(guò)程重新受控后。 過(guò)程能力改善 通過(guò)降低引起過(guò)程變異的普通原因和特殊原因來(lái)改善過(guò)程能力。 確定抽樣數(shù)及頻率 小組確定現(xiàn)察所有數(shù)據(jù)．每小時(shí)約測(cè)試 200PCS，觀察頻率為每小時(shí)一次。 P圖控制的過(guò)程和特性。計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖也是一種廣為使用的過(guò)程控制工具。 7 控制 P控制圖 正確制作 P控制圖，是進(jìn)行過(guò)程控制及改善的基礎(chǔ)，制作 P控制圖的流程如下： 收集數(shù)據(jù) (1)進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)分析 (2)確定子組樣本容量 一般而言， P圖的每個(gè)子組的樣本容量需大于 50。 小組取得的數(shù)據(jù)如下圖： 計(jì)算控制界限 (1)計(jì)算 = (2)計(jì)算控制界限 ① 為計(jì)算方便，如果子組容量的變化范圍在 25％以內(nèi)變化，則可以將控制界限下式計(jì)算 P23 P圖應(yīng)用例 A產(chǎn)品電參數(shù)測(cè)試數(shù)據(jù)表 NO. 測(cè)試數(shù) 不合格數(shù) 不合格率 NO 測(cè)試數(shù) 不合格數(shù) 不合格率 1 206 8 14 215 7 2 201 6 15 223 11 3 195 11 16 215 13 4 213 6 17 204 10 5 204 4 18 216 6 6 186 11 19 218 8 7 199 7 20 207 14 8 201 6 21 229 12 9 207 12 22 178 9 10 198 6 23 196 6 11 176 8 24 185 7 12 186 9 25 189 9 13 204 4 24 P圖應(yīng)用例 式中 : 為各子組容量的值 . 本例中 比較本例數(shù)據(jù)表中的 ”T 測(cè)試數(shù) ” 欄的數(shù)據(jù) ,均在 ” ” 范圍內(nèi) ,因此 ,可計(jì)算統(tǒng)一的控制界限 . ② 控制界限計(jì)算如下 nPPPLCLnPPPUCLPCLPPP/)1(/)1(33???????%25/?????nn)()1()1(33無(wú)???