【正文】 數(shù)據(jù)點(diǎn) 均值 (X圖 ) Data Values UCLxR Value, 1, R Value, 2, R Value, 3, R Value, 4, R Value, 5, R Value, 6, R Value, 7, R Value, 8, R Value, 9, R Value, 10, R Value, 11, R Value, 12, R Value, 13, R Value, 14, R Value, 15, R Value, 16, R Value, 17, R Value, 18, R Value, 19, R Value, 20, R Value, 21, R Value, 22, R Value, 23, R Value, 24, R Value, 25, UCLr, 1, UCLr, 2, UCLr, 3, UCLr, 4, UCLr, 5, UCLr, 6, UCLr, 7, UCLr, 8, UCLr, 9, UCLr, 10, UCLr, 11, UCLr, 12, UCLr, 13, UCLr, 14, UCLr, 15, UCLr, 16, UCLr, 17, UCLr, 18, UCLr, 19, UCLr, 20, UCLr, 21, 2345LCLr, 1, LCLr, 2, LCLr, 3, LCLr, 4, LCLr, 5, LCLr, 6, LCLr, 7, LCLr, 8, LCLr, 9, LCLr, 10, LCLr, 11, LCLr, 12, LCLr, 13, LCLr, 14, LCLr, 15, LCLr, 16, LCLr, 17, LCLr, 18, LCLr, 19, LCLr, 20, LCLr, 21, 2345Averag R, 1, R, 2 Averag R, 3, Average R, 4, Average R, 5, Average R, 6, Average R, 7, Average R, 8, Average R, 9, Average R, 10, Average R, 11, Average R, 12, Average R, 13, R, 14, Averag R, 15, Average R, 16, Average R, 17, Average R, 18, Average R, 19, Average R, 20, 13451 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25極差值 極差 (R圖 ) R Value UCLr LCLr Average R控制準(zhǔn)確度 控制精確度 電磁閥 線圈電阻管制圖 SPC實(shí)施流程 識(shí)別關(guān)鍵過程 確定過程關(guān)鍵特性 制定過程控制計(jì)劃和規(guī)格標(biāo)準(zhǔn) 過程數(shù)據(jù)的收集、整理 過程受控狀態(tài)初始分析 過程能力分析 控制圖監(jiān)控 監(jiān)控、診斷、改進(jìn) ?一些過程對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)好壞起至關(guān)重要的作用，這樣的過程稱為 關(guān)鍵過程 ?找出對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響最大的 過程 變量 、 特性 ?采用 分析用控制圖 分析過程是否受控和穩(wěn)定，如果發(fā)現(xiàn)不受控 ， 有 導(dǎo)致 變差的 特殊原因 ，應(yīng)采取措施。 + A2 R ? ? LCL x = 181。 ?管制 圖用于識(shí)別 特殊原因與普通原因 ?當(dāng)過程僅受隨機(jī)因素影響時(shí) ，過程 處于統(tǒng)計(jì)控制 狀態(tài) ? 當(dāng)過程有非隨機(jī)因素 影響時(shí) ，管制圖會(huì)顯示異常狀態(tài) 制程波動(dòng)大 制程波動(dòng)小 管制圖的類型 ?不良率管制圖 ( P Chart ) ?不良數(shù)管制圖 ( PChart or d Chart ) ?缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ( C Chart ) ?單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ( U Chart ) ?計(jì)量值管制圖 ?平均值與全距管制圖 ( XR Chart ) ?中位值與全距管制圖 ( XR Chart ) ?個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 ( XRm Chart ) ?平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 ( Xσ Chart ) ?計(jì)數(shù)值管制圖 ? ： ? A） 確定抽樣頻率和抽樣數(shù)目 ? 2 – 6 平均值 全距 管制圖 6 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差 管制圖 ? = 1 個(gè)別值 移動(dòng)全距 管制圖 ? 根據(jù)制程狀況，一般情況下每 2小時(shí)抽樣一次，為便于數(shù)據(jù)處理，每次抽樣數(shù)為5PCS， 共抽取 25個(gè)子組。 非機(jī)遇原因之變異，不但可以找出其原因 ， 經(jīng)濟(jì)立場上應(yīng)予以消除 ﹐ 且是可避免的。 制程中不能管制的變異，是 隨時(shí)在變動(dòng)， 既不穩(wěn)定 ，亦非經(jīng)常存在， 并不是制程中的一部分。 對(duì)工廠而言 ﹐ 是一種正常變化且不可避免 ﹐ 在制程管制時(shí) ﹐ 如希望予以減少或 去除 通常 是不經(jīng)濟(jì) 的。 一個(gè)成熟的過程是工廠的財(cái)富 隨機(jī) 原因 ——服從正態(tài)分布 ?大量之微小原因所引起 ?原料在一定范圍內(nèi)之微小變異 ?機(jī)械之微小振動(dòng) ?儀器測定時(shí)，不十分精確之做法 ?依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè)的 變化 ?通過 CPK分析可發(fā)現(xiàn) ?須管理階層采取系統(tǒng)的改善對(duì)策 ?大約可以解決 85%之制 程問題 ?采取加工精度更高的設(shè)備，縮 小控制界限 也叫普通 原因， 共同原因，固有變異 ： 即來自制程中的例行操作又稱正常原因 ， 是原料 ﹐設(shè)備 ﹐ 人員 ﹐ 方法在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)的變化 ﹐ 因微小原因引起 ﹐ 所以變化相當(dāng)小。 過程中存在許多波動(dòng)源，每個(gè)波動(dòng)源對(duì)質(zhì)量特性 X的 影響都是很小的 ，通常 X服從正態(tài)分布，且其分布不隨時(shí)間的變化而改變。 這些強(qiáng)的波動(dòng)源使 X的分布會(huì)隨時(shí)間的變化而發(fā)生改變，改變分布的位置、或分布的標(biāo)準(zhǔn)差，有時(shí)又會(huì)使分布的形狀發(fā)生變化。假定工序過程處于 控制狀態(tài)，一旦顯示出偏離這一狀態(tài)， 極可能是工序過程失控。 中心極限定理 計(jì)量值：正態(tài)分布 計(jì)件值：二項(xiàng)分布 計(jì)點(diǎn)值：泊松分布 如果一個(gè)量是 由大量相互獨(dú)立的隨機(jī)因素 的影響所造成，而每一個(gè)別因素在總影響中所起的作用不大，則這種量一般都服從或近似服從 正態(tài)分布 獨(dú)立隨機(jī)變量之和 所特有的規(guī)律性：大量獨(dú)立隨機(jī)變量的和近似分布問題，當(dāng)一個(gè)量受許多隨機(jī)因素 (主導(dǎo)因素除外 ) 的共同影響而隨機(jī)取值 , 則它的分布就近似服從 正態(tài)分布，把 和的分布收斂于正態(tài)分布這一類定理都叫做 中心極限定理 若某隨機(jī)變量可以看作是有相互獨(dú)立的大量隨機(jī)變量綜合作用的結(jié)果，每一個(gè)因素在總的影響中的作用都很微小，則綜合作用的結(jié)果服從 正態(tài)分布 舉例： 射擊發(fā)射炮彈 的 落點(diǎn)與目標(biāo)的偏差 ，就受著許多隨機(jī)因素的 影響 如瞄準(zhǔn)時(shí)的 誤差 空氣阻力所產(chǎn)生的 誤差， 炮彈、炮身結(jié)構(gòu)所 引起的誤差 等 測量中 產(chǎn)生的 誤差 都是 服從正態(tài)分布的 隨機(jī)變量： 儀器偏差 溫度 變化 偏差 估 讀誤差造成的 偏差 測試參數(shù)造成的偏差 小概率事件原理： 假定異常波動(dòng)已經(jīng)消除，只有偶然波動(dòng)，以偶然波動(dòng)為基準(zhǔn)，設(shè)計(jì)控制界限，當(dāng)過程正常時(shí)，點(diǎn)子出界的幾率為 %，根據(jù)小概率事件幾乎不會(huì)發(fā)生的原理，有點(diǎn)出界時(shí)就可以判異。 中心極限定理 就是一般在同分布的情況 下，樣本值 的和在總體數(shù)量趨于無窮時(shí)的極限分布近似于正態(tài)分布。 大數(shù) 定律指用于單一特征值，中心極限定理則表明變量在分布上的 特征。 最 普通 的 例子是 擲 硬幣實(shí)