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正文內(nèi)容

jb4730-94壓力容器無損檢測(cè)-展示頁

2025-07-16 11:52本頁面
  

【正文】 質(zhì)指數(shù)底片上必須顯示出的最小線徑及象質(zhì)指數(shù),見表 5 — 3 。 顯影液性能的控制應(yīng)采用定期添加補(bǔ)充液的方法來維持顯影液性能的恒定。定影后的底片應(yīng)經(jīng)充分水洗和洗滌劑處理,以防止水跡的產(chǎn)生,然后自然干燥或在干燥箱內(nèi)烘干。 膠片的自動(dòng)沖洗應(yīng)注意精確控制膠片顯影、定影、水洗和干燥等工序的傳送速度及藥液補(bǔ)充。 膠片處理 膠片的處理應(yīng)按膠片的使用說明書或公認(rèn)的有效方法處理。 為達(dá)到規(guī)定的底片黑度,推薦采用不低于 15mA如在較淡背景上出現(xiàn)“ B ”的較黑影象,則不能作為該底片判廢的依據(jù)。圖 57 減少散射線影響的方法 為檢查背散射,可在暗盒背面貼附一個(gè)“ B ”的鉛字標(biāo)記(其高度為 13mm, 厚度為 )。為避免從其它工件或膠片后方和側(cè)面物體上產(chǎn)生的散射線對(duì)膠片的影響,可采用加厚增感屏,或在膠片與增感屏后再加上一塊鉛板,其厚度約 1 ~ 4mm 。 為減少散射線的影響,應(yīng)采用適當(dāng)?shù)钠帘畏椒ㄒ韵拗剖軝z部位的受照面積。圖 56 是透照不同厚度材料時(shí)允許使用的最高 X 射線管電壓,表 56 是不同射線源適用的材料透照厚度范圍。通常情況下,隨著射線能量的減低,透照?qǐng)D象的對(duì)比度增加。 透照厚度應(yīng)按附錄 C(補(bǔ)充件)確定。如需要時(shí),也可從有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的其它方向進(jìn)行透照。 T ′一射線束斜向透照最大厚度,mm 。縱縫的 A 級(jí)和 AB 級(jí)的 K 值不大于 ,B 級(jí)的 K 值不大于 。 焊縫的透照厚度比 K,按圖 55 和式 51 來確定。 d 為射線源有效焦點(diǎn)尺寸,可按附錄 B(補(bǔ)充件)求出。 幾何條件 射線源至工件表面距離 L 1 , L 1 /d 與透照厚度的關(guān)系如圖 52 所示。②鉭箔或鎢箔增感屏獲得的檢測(cè)靈敏度比鉛箔高。在個(gè)別情況下,允許使用熒光增感屏或金屬熒光增感屏,但只限于 A 級(jí)。表 54 工業(yè)射線透照膠片的類型膠片型號(hào) 速度 反差 粒度1 低 高 細(xì)2 中 中 中3 高 低 粗 增感屏射線透照應(yīng)采用金屬增感屏或不用增感屏。通常,如需縮短曝光時(shí)間,則需使用表 54 中號(hào)數(shù)較大的膠片。不同材料、不同厚度的工件采用 A 級(jí)、 AB 級(jí)或 B 級(jí)時(shí),在射線底片上必須顯示的最小象質(zhì)計(jì)線徑及相應(yīng)的象質(zhì)指數(shù)見表 5 — 3 。放置一個(gè)。象質(zhì)計(jì)放在膠片一側(cè)工件表面上時(shí),應(yīng)附加“ F ”標(biāo)記以示區(qū)別。金屬絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直,細(xì)絲置于外側(cè)。表 52 不同線型象質(zhì)計(jì)適用的材料范圍象質(zhì)計(jì)材料 Fe 碳素鋼、不銹鋼 Ti 鈦合金 Al 鋁合金 Cu 銅合金適用材料范圍 黑色金屬 鈦及鈦合金 鋁及鋁合金 銅及銅合金 象質(zhì)計(jì)標(biāo)志及代號(hào)象質(zhì)計(jì)應(yīng)具有下列標(biāo)志:標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)—— JB 4730 線材代號(hào)—一 Fe 、 Ti 、 Al 、 Cu 等線徑編號(hào)—— R 10 系列。 線型象質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格線型象質(zhì)計(jì)金屬絲的材料應(yīng)與被透照容器的材料相一致,見表 52 。衡量質(zhì)量的參數(shù)是象質(zhì)指數(shù)。產(chǎn)品上不適合打印標(biāo)記時(shí),應(yīng)采用詳細(xì)的透照部位草圖或其它的有效方式標(biāo)注。搭接標(biāo)記的安放位置見附錄 A(補(bǔ)充件)。返修透照部位還應(yīng)有返修標(biāo)記 R 1 、 R 2 ……(其數(shù)碼 1 、 2 指返修次數(shù))。當(dāng)抽查時(shí)搭接標(biāo) 記稱為有效區(qū)段透照標(biāo)記。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的圖像應(yīng)不掩蓋焊縫中的缺陷或與之相混淆,否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)男蘩?。圖 51 透照方式示意圖(a)縱縫透照法 (b)環(huán)縫外透法 (c)環(huán)縫內(nèi)透法 (d)雙壁單影法 (e)雙壁雙影法注: C1 射線源不在部件中心; C2 射線源在部件中心。將此系數(shù)乘以待檢容器材料的厚度,即能得到相當(dāng)于多少厚度鋼的吸收效果。 檢測(cè)人員應(yīng)符合 條的有關(guān)規(guī)定。安全線上應(yīng)有明顯警告標(biāo)志,夜間應(yīng)設(shè)紅燈。γ射線檢測(cè)操作中,每次都應(yīng)測(cè)定工作場(chǎng)所和γ射線源容器附近的射線劑量,以便了解射源位置,免受意外照射。 防護(hù) X 射線和γ射線對(duì)人體有不良影響,應(yīng)盡量避免射線的直接照射和散射線的影響。第二篇 焊縫射線透照檢測(cè)5 —般要求 檢測(cè)范圍本章規(guī)定了在焊縫透照檢測(cè)過程中,為獲得合格透照底片所必須遵循的程序和要求。 驗(yàn)收標(biāo)記如果檢測(cè)內(nèi)容作為壓力容器產(chǎn)品驗(yàn)收的項(xiàng)目,則檢測(cè)合格的所有工件上都應(yīng)作永久性或半永久性的標(biāo)記,標(biāo)記應(yīng)醒目。 無損檢測(cè)責(zé)任人員的職責(zé) 參與壓力容器及零部件制造的無損檢測(cè)責(zé)任工程師,有責(zé)任保證本標(biāo)準(zhǔn)在使用中的正確實(shí)施,有權(quán)拒絕受理不按本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行的任何檢測(cè)內(nèi)容。 從事磁粉、滲透檢測(cè)工作的人員,不得有色盲、色弱。取得不同無損檢測(cè)方法的各技術(shù)等級(jí)人員,只能從事與該等級(jí)相應(yīng)的無損檢測(cè)工作,并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。 檢測(cè)人員 凡從事壓力容器及零部件檢測(cè)的人員,都必須經(jīng)過技術(shù)培訓(xùn),并按照勞動(dòng)部文件“鍋爐壓力容器無損檢測(cè)人員資格鑒定考核規(guī)則”及 GB9445 進(jìn)行考核鑒定。 檢測(cè)檔案中,對(duì)于檢測(cè)人員承擔(dān)檢測(cè)項(xiàng)目的相應(yīng)資格等級(jí)和有效期應(yīng)有記錄。檢測(cè)記錄、報(bào)告等保存期不得少于 7 年。每一檢測(cè)規(guī)程至少應(yīng)復(fù)制一份副本,以供制造廠所有無損檢測(cè)人員參考和使用。 凡鐵磁性材料制成的壓力容器及零部件,應(yīng)使用磁粉檢測(cè)方法檢測(cè)表面缺陷,確因結(jié)構(gòu)形狀等原因不能使用磁粉檢測(cè)時(shí),方可采用滲透檢測(cè)。串列基準(zhǔn)線橫方形掃查 縱方形掃查圖 33 橫方形掃查及縱方形掃查 縱方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭,使其入射點(diǎn)相對(duì)串列基準(zhǔn)線保持等距離且垂直于焊縫移動(dòng)的掃查方法,見圖 33 。該線即為參考線。 串列基準(zhǔn)線串列掃查時(shí),作為一發(fā)一收兩探頭等間隔移動(dòng)的基準(zhǔn)線,一般設(shè)在離檢測(cè)截面距離為 倍跨距的位置,見圖 31 。 由缺陷引起的底波降低量 BG/BF(dB) 在靠近缺陷處的無缺陷完好區(qū)內(nèi)第一次底波幅度 BG 與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度 BF 之比,用聲壓級(jí)(dB)值來表示。或是在 50mm 50mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有 5 個(gè)或 5 個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)。2 引用標(biāo)準(zhǔn)GB 150 鋼制壓力容器GB 3721 磁粉探傷機(jī)GB 5097 黑光源的間接評(píng)定方法GB 5616 常規(guī)無損探傷應(yīng)用導(dǎo)則GB 5618 線型象質(zhì)計(jì)GB 9445 無損檢測(cè)人員技術(shù)資格鑒定通則GB/ ~ 6 無損檢測(cè)術(shù)語JB 4126 超聲波檢驗(yàn)用鋼質(zhì)試塊的制造和控制ZBJ04001 A 型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法ZB Y230 A 型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件ZB Y231 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法ZB Y232 超聲探傷用 1 號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件ZB Y344 超聲探傷用探頭型號(hào)命名方法3 術(shù)語本標(biāo)準(zhǔn)所用術(shù)語除應(yīng)符合 GB/ ~ 6 的規(guī)定外,還應(yīng)符合下述規(guī)定。中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB 4730 — 94壓 力 容 器 無 損 檢 測(cè)Nondestructive testing of pressure vessels19940129 發(fā)布 19940501 實(shí)施中華人民共和國(guó)機(jī)械工業(yè)部中華人民共和國(guó)化學(xué)工業(yè)部 發(fā) 布中華人民共和國(guó)勞動(dòng)部中國(guó)石油化工總公司第—篇 總 則1 主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)和渦流檢測(cè)五種無損檢測(cè)方法及缺陷等級(jí)評(píng)定。本標(biāo)準(zhǔn)所述各種無損檢測(cè)方法,適用于金屬材料制壓力容器的原材料、零部件和焊縫。 密集區(qū)缺陷在熒光屏掃描線相當(dāng)于 50mm 聲程范圍內(nèi)同時(shí)有 5 個(gè)或 5 個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)。其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅。 檢測(cè)截面串列掃查檢測(cè)時(shí),作為檢測(cè)對(duì)象的截面,一般以焊縫截面作為檢測(cè)截面,見圖 31 。串列基準(zhǔn)線檢測(cè)截面 檢測(cè)面圖 31 檢測(cè)截面及串列基準(zhǔn)線 參考線施焊前預(yù)先在母材檢測(cè)面上,離焊縫坡口一定距離處畫出一標(biāo)記線,以其作為確定串列基準(zhǔn)線的依據(jù),見圖 3 — 2 。熔合面參考線 坡口面 參考線圖 32 參考線 橫方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭,使其入射點(diǎn)相對(duì)串列基準(zhǔn)線保持等距離且平行于焊縫移動(dòng)的掃查方法,見圖 33 。4 —般要求 選擇原則 壓力容器射線、超聲、磁粉、滲透、渦流檢測(cè)方法的選擇、檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率等,應(yīng)按《壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》、 GB150 、 GB5616 及有關(guān)技術(shù)文件的要求和原則執(zhí)行。 制造廠的檢測(cè)責(zé)任 當(dāng)壓力容器及零部件需按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)時(shí),制造廠、裝配或組裝部門應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定制定出符合有關(guān)規(guī)范要求的無損檢測(cè)規(guī)程。 檢測(cè)程序及結(jié)果應(yīng)正確、完整并有相應(yīng)責(zé)任人員簽名認(rèn)可。 7 年后,若用戶需要可轉(zhuǎn)交用戶保管。 檢測(cè)用儀器、設(shè)備的性能應(yīng)定期檢驗(yàn)合格并有記錄。 無損檢測(cè)人員按技術(shù)等級(jí)分為高、中、初級(jí)。 凡從事壓力容器及零部件無損檢測(cè)工作的人員,除具有良好的身體素質(zhì)外,視力必須滿足下列要求: 校正視力不得低于 ,并一年檢查一次。 從事射線評(píng)片人員應(yīng)能辨別距離 400mm 遠(yuǎn)的一組高為 、間距為 。 無損檢測(cè)責(zé)任工程師,應(yīng)由具有鍋爐壓力容器無損檢測(cè)高級(jí)或中級(jí)的資格者擔(dān)任。產(chǎn)品上不適合打印標(biāo)記時(shí),應(yīng)采取詳細(xì)的檢測(cè)草圖或其它有效方式標(biāo)注,使下道工序或最后的檢測(cè)人員能夠辨明。本章適用于碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金材料制壓力容器焊縫及鋼管對(duì)接環(huán)縫的射線透照檢測(cè)。 從事射線檢測(cè)的人員應(yīng)備有劑量?jī)x或其它劑量測(cè)試設(shè)備,以測(cè)定工作環(huán)境的射線照射量和個(gè)人受到的累計(jì)劑量。 在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)應(yīng)設(shè)置安全線。 檢測(cè)人員每年允許接受的最大射線照射劑量為 5 10 2 Sv,非檢測(cè)人員每年允許接受的最大劑量為 5 10 3 Sv 。 射線透照等效系數(shù)材料的射線透照等效系數(shù)見表 51 。表 51 某些金屬的射線透照等效系數(shù)射 線 能 量金屬 100 kV 150 kV 220 kV 250 kV 400 kV 1 MeV 2 MeV 4~25 MeV Ir (銥)Co (鈷)鐵/鋼鎂鋁鋁合金鈦銅鋅黃銅因康鎳合金蒙乃爾合金鋯鉛 透照方式按射線源、工件和膠片三者間的相互位置關(guān)系,透照方式分為縱縫透照法、環(huán)縫外透法、環(huán)縫內(nèi)透法、雙壁單影法和雙壁雙影法五種,見圖 51 。 表面要求焊縫的表面質(zhì)量(包括焊縫余高)應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。 定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記 定位標(biāo)記焊縫透照部位應(yīng)有搭接標(biāo)記(↑),如有需要也可放置中心標(biāo)記( )。 識(shí)別標(biāo)記被檢的每段焊縫附近均應(yīng)貼有下列鉛質(zhì)識(shí)別標(biāo)記::產(chǎn)品編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)和透照日期。 標(biāo)記位置上述定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記均應(yīng)放在膠片的適當(dāng)位置,并離焊縫邊緣至少 5mm 。工件表面應(yīng)作出永久性標(biāo)記,以作為對(duì)每張底片重新定位的依據(jù)。 象質(zhì)計(jì)象質(zhì)計(jì)是用來檢查透照技術(shù)和膠片處理質(zhì)量的。它等于底片上能識(shí)別出的最細(xì)金屬絲的線編號(hào)。線型象質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合 GH5618 的規(guī)定。1/7 、 6/12 、 10/16 象質(zhì)計(jì)的放置線型象質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線源一側(cè)的工件表面上被檢焊縫區(qū)的一端(被檢區(qū)長(zhǎng)度的 1/4 部位)。當(dāng)射線源一側(cè)無法放置象質(zhì)計(jì)時(shí),也可放在膠片一側(cè)的工件表面上,但象質(zhì)計(jì)指數(shù)應(yīng)提高一級(jí)或通過對(duì)比試驗(yàn),使實(shí)際象質(zhì)指數(shù)達(dá)到規(guī)定的要求。采用射線源置于圓心位置的周向爆光時(shí),象質(zhì)計(jì)應(yīng)在內(nèi)壁每隔 90 176。 射線透照質(zhì)量等級(jí)射線透照的質(zhì)量等級(jí)分為 A 級(jí)(普通級(jí))、 AB 級(jí)(較高級(jí))和 B 級(jí)(高級(jí))。表 53 象質(zhì)計(jì)的選用適合的透照厚度 TAmm 要求達(dá)到的象質(zhì)指數(shù) 線 徑 mm A 級(jí) AB 級(jí) B 級(jí)16 — — ≤ 6 15 — ≤ 6 6 ~ 8 14 ≤ 6 6~8 8 ~ 10 13 6 ~ 8 8~12 10 ~ 16 12 8 ~ 10 12~16 16 ~ 25 11 10 ~ 16 16~20 25 ~ 32 10 16~25 20~25 32~40 9 25~32 25~32 40~50 8 32~40 32 ~ 50 50~80 7 40~60 50 ~ 80 80 ~ 150 6 60~80 80 ~ 120 150 ~2005 80~150 120~150 200~2504 150 ~ 170 150 ~200 ─3 170 ~ 180 200~250 ─2 180 ~ 190 ─ ─1 190 ~ 200 ─ ─ 膠片和增感屏 膠片的分類和選擇工業(yè) X 射線膠片的類型見表 54 。如需提高射線透照的底片質(zhì)量,則需使用號(hào)數(shù)較小的膠片。金屬增感屏按表 55 選用。表 55 增感屏的選用射線種類 增感屏材料 前屏厚度mm 后屏厚度mm 120kV 鉛箔 — ≥ 120 ~ 250kV 鉛箔 ~ ≥ 250~450kV 鉛箔 ~ ≥ 1 ~ 3MeV 鉛箔 ~ ~ 3 ~ 8MeV 銅箔、鉛箔 ~ ~8 ~ 35MeV 鉭箔、鎢箔、鉛箔 ~ —Ir 192 鉛箔 ~ ≥ Co 60 銅箔、鋼箔、鉛箔 ~ ~ 注:① 120kV 以下 X 射線可不用前屏。③用銅箔或鋼箔能獲得最佳檢測(cè)靈敏度,但比使用鉛箔所需曝光時(shí)間長(zhǎng)。 L 1 的諾模圖見圖 5 — 3 和圖 5 — 4 。工件表面至膠片距離 L2, mm 圖 52 工件表面至膠片距離 L2 與最小 L1/d 值的關(guān)系圖圖 53 確定焦點(diǎn)至工件距離的諾模圖圖 54 確定焦點(diǎn)至工件距離的諾模圖 一次透照長(zhǎng)度是指采用分段曝光時(shí),每次曝光所檢測(cè)的焊縫長(zhǎng)度,應(yīng)符合相應(yīng)透照質(zhì)量等級(jí)的黑度和象質(zhì)指數(shù)規(guī)定。環(huán)縫的 A 級(jí)和 AB 級(jí)的 K 值不大于 ,B
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