ict測(cè)試原理及程式簡(jiǎn)介-展示頁(yè)
2025-05-08 04:57本頁(yè)面
【正文】 es B nodes C nodes D !nodes E” ! node capacitively isolated nodes ”F nodes ”G Pins Test Called from testplan Pins test的預(yù)定義 sub Set_Custom_Option …… global Off, Pretest, Failure ！設(shè)置全局常量 global Chek_Point_Mode …… Chek_Point_Mode=Pretest !choose {Off, Pretest, Failure} ！選擇 pins測(cè)試模式， off＝不進(jìn)行 pins測(cè)試 ！ pretest＝在其它測(cè)試前進(jìn)行 pins測(cè)試 ！ failure＝其它測(cè)試 fail后，進(jìn)行 pins測(cè)試 end sub Pins測(cè)試的調(diào)試 ① Pins測(cè)試中的節(jié)點(diǎn)排列順序不影響測(cè)試結(jié)果 ② Pins測(cè)試中沒(méi)有其他測(cè)試選項(xiàng) ? 所以 pins測(cè)試只有 node的取舍 哪些節(jié)點(diǎn) pins不可測(cè) ? ? 電容阻隔的點(diǎn)（ capacitively isolated）－ IPG自動(dòng)注釋 ? 只連到 IC的 NC腳的 － IPG自動(dòng)注釋 ? 所連器件在板上都沒(méi)有放 (no pop)的 － 手動(dòng)確認(rèn) Part 4 ? Shorts Test amp。 GUARDING的作用是使一個(gè)被測(cè)元件在測(cè)試時(shí)不受旁路元件的影響，而萬(wàn)用表做不到這一點(diǎn)。 AC 220V245V, 50/60 Hz177。 高： 公尺。 C. 環(huán)境濕度 : 25% RH75%RH. 最小工作空間 : 深： 公尺。 公司 : TRI (Test Research Inc.)德律科技 產(chǎn)地 : 臺(tái)灣 工作條件 治具類(lèi)型 : 真空治具 . 真空壓力 : 最小 56cmHg. 外部真空管 2根 . 氣壓 : 4kg/cm2 ～ 6kg/cm2. 氣壓管 1根 . 操作溫度 : 0。 二 . ICT的硬件結(jié)構(gòu) ? ICT包括 ICT系統(tǒng)主機(jī)，電腦系統(tǒng)，壓床，測(cè)試治具。 ICT測(cè)試原理及程式簡(jiǎn)介 EPDVIII ICT Randy .xiang 一 .ICT的功能 ? ICT也叫在線(xiàn)測(cè)試儀，是一臺(tái)靜態(tài)元件測(cè)試儀，它能準(zhǔn)確，高速地測(cè)量 PCB上已裝元件的不良問(wèn)題，包括元件的漏件，錯(cuò)件，裝反，空焊，來(lái)料不良， PCB上金道之間的開(kāi)短路等?？蓽y(cè)元件包 括：電阻，電容，二極管，三極管，電感，變壓器， IC等絕大多數(shù)電子元件。其中 ICT系統(tǒng)主機(jī)包括：電源部分，量測(cè)控制板， I/O卡， DC量測(cè)板， AC量測(cè)板，開(kāi)關(guān)板，HPJET量測(cè)板，高壓量測(cè)板 (選配件 )。 C ～ 30。 寬： 公尺。 TRI 8001測(cè)試畫(huà)面 公司 : TRI (Test Research Inc.)德律科技 產(chǎn)地 : 臺(tái)灣 工作條件 電源 :3216。5% 氣壓 : 4－ 6KGF／CM2 TRI 518測(cè)試操作畫(huà)面 相匹配的治具簡(jiǎn)介 相匹配的治具必需為真空治具 , 即治具下壓的動(dòng)力為真空 . 真空治具根據(jù)繞線(xiàn)長(zhǎng)度分為 : 長(zhǎng)線(xiàn)治具 ,短線(xiàn)治具和無(wú)線(xiàn)治具 . 我們現(xiàn)在使用的治具為長(zhǎng)線(xiàn)治具 . 治具內(nèi)部結(jié)構(gòu)如下 : SENSOR 壓棒 探針 彈簧 密封墊 氣管 油壓撐竿 雙絞線(xiàn)繞線(xiàn) BUFFER BOARD Interface Introduction of Agilent 3070 Agilent 3070 Family 307X, up to 5200 nodes 327X, up to 1300 nodes 317X, up to 2600 nodes Anatomy of the Agilent Medalist 3070 Agilent 3070 Hardware Agilent 3070 Electronics Cabi DUT power supplies External Instruments Testhead Flat Screen Monitor on moveable arm. Keyboard on moveable arm. End Cabi contains Computer, Power Distribution Unit, Testhead rotation switch. T
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