ict測試原理及程式簡介(更新版)
【正文】 ? diodes ? FETs ? fuses ? inductors ? jumpers ? resistors ? switches ? transistors ? zeners Part 6 Testjet amp。 threshold low 450 high 10000 ! test pins 7 ! Ground pins mented by IPG test pins 8 … ! test pins 13 !! Test measures 9 test pins 8 test pins 14 ! Fixed pins mented by IPG device “u2” bottom。 threshold low 15 high 10000 test pins 2 test pins 3。 iVTEP The VTEP/iVTEP/TestJet Test BGA with floating metal tops/heat spreaders are testable! PCB AC Signal Ground VTEP Sensor plate C measured Electronics board (Amplifier) To Multiplex Card Metal BGA UnderTest Floating Metal Top TestJet測試能力的極限值為 20fF， VTEP測試能力的極限值為 5fF。隔離點無法 測 ) Pins Test “ A” “ B” “ C” “ D” “ E” “ F” “ G” “ Node_Names” + 10K DVM S Node E has no current flow. It is capacitively isolated and cannot be tested in Pins Test. Pins Test Syntax nodes A nodes B nodes C nodes D !nodes E” ! node capacitively isolated nodes ”F nodes ”G Pins Test Called from testplan Pins test的預(yù)定義 sub Set_Custom_Option …… global Off, Pretest, Failure ！設(shè)置全局常量 global Chek_Point_Mode …… Chek_Point_Mode=Pretest !choose {Off, Pretest, Failure} ！選擇 pins測試模式， off＝不進行 pins測試 ！ pretest＝在其它測試前進行 pins測試 ！ failure＝其它測試 fail后，進行 pins測試 end sub Pins測試的調(diào)試 ① Pins測試中的節(jié)點排列順序不影響測試結(jié)果 ② Pins測試中沒有其他測試選項 ? 所以 pins測試只有 node的取舍 哪些節(jié)點 pins不可測 ? ? 電容阻隔的點（ capacitively isolated）－ IPG自動注釋 ? 只連到 IC的 NC腳的 － IPG自動注釋 ? 所連器件在板上都沒有放 (no pop)的 － 手動確認 Part 4 ? Shorts Test amp。 C. 環(huán)境濕度 : 25% RH75%RH. 最小工作空間 : 深： 公尺。可測元件包 括：電阻，電容，二極管，三極管，電感，變壓器， IC等絕大多數(shù)電子元件。 TRI 8001測試畫面 公司 : TRI (Test Research Inc.)德律科技 產(chǎn)地 : 臺灣 工作條件 電源 :3216。 b).設(shè)置從加信號到開始測量的延時，以致等待信號穩(wěn)定。 test pins 1 test pins 2 ... Turn On AutoDebug for iVTEP + VTEP AutoDebug calculates the threshold limit Before ADB After ADB The TestJet Test After Debug default threshold low 20 high 10000 device “u1”。 More Questions ?
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