參數(shù)估計(jì)和假設(shè)檢驗(yàn)習(xí)題解答-展示頁(yè)
2025-04-02 23:27本頁(yè)面
【正文】 藥的睡眠時(shí)間為標(biāo)準(zhǔn)差為3以//(9),=,取a=502,:m =接受, ==10,n1)tatσ500185。:vs=:罐，測(cè)得其重量為(單位：克):195，510，505，498，503，492，ii02，612，407，試問(wèn)以現(xiàn)抽得50095%的把握認(rèn)為試驗(yàn)物的發(fā)熱量的期望值不是24即,n 32312100sH112100H0=(23),=323,a24,2xn1)tatσ12100,185。:12100,m12100(假定發(fā)熱量是服從正態(tài)分布的)?解:H0sx24以180。400p)56p180。,ZpH0==,采用非正態(tài)大樣本統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)法,拒絕域?yàn)?,179。:56件，能否認(rèn)為此項(xiàng)新工藝提高了產(chǎn)品的質(zhì)量(α=)?解:4O0是成立的.95%的把握認(rèn)為50即,180。50n4p)ppn=x由檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量=,接受 ==zaZ,pH1pH0H0：p≤個(gè)次品。個(gè)樣品，其中含有95%的把握認(rèn)為新工藝對(duì)此零件的電阻有顯著影響.，取100即,/m由檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量x=:m 185。,接受 = =za=zaZ已知標(biāo)準(zhǔn)差mH1=:問(wèn)新工藝對(duì)此零件的電阻有無(wú)顯著影響(α=)?解:100,:,m1H0根。根，標(biāo)準(zhǔn)差為臺(tái)布機(jī)上進(jìn)行試驗(yàn)，結(jié)果平均每臺(tái)每小時(shí)經(jīng)紗斷頭數(shù)為根，該廠進(jìn)行工藝改進(jìn)，減少經(jīng)紗上漿率，在根，各臺(tái)布機(jī)斷頭數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)差為1600.，平均每臺(tái)布機(jī)每小時(shí)經(jīng)紗斷頭數(shù)為μ26即,以150/1637,za:m =,接受 ==26,2Zn=zaZσ1600,185。:1600,mH0為5％的顯著水平下，能否認(rèn)為這批產(chǎn)品的指標(biāo)的期望值1637。26已知為參數(shù)估計(jì)和假設(shè)檢驗(yàn)習(xí)題，它的標(biāo)準(zhǔn)差σ150，今抽了一個(gè)容量為的樣本，計(jì)算得平均值為問(wèn)在μ1600?解::=H1m標(biāo)準(zhǔn)差已知,拒絕域?yàn)?取a,= =H01600===,由檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量2xm1600sn/95%的把握認(rèn)為這批產(chǎn)品的指標(biāo)的期望值為200問(wèn),新工藝上漿率能否推廣(α=)?解::179。m2H1m1m2改變加工工藝后，測(cè)得個(gè)零件的平均電阻為，如改變工藝前后電阻的標(biāo)準(zhǔn)差保持在H0m,:185。,σ=,拒絕域?yàn)?取a,==,22Z=H1,n100,sn/以504在這樣情況下，判斷假設(shè)是否成立(α=)?解::163。,:采用非正態(tài)大樣本統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)法,拒絕域?yàn)?a,=,=H0：p≤.n50,Z/180。(1///以p≤現(xiàn)對(duì)此產(chǎn)品進(jìn)行新工藝試驗(yàn)，從中抽取件檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有次品H0pH1p,Zzan400,a,=,由檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量229。xnp= =,接受:179。=400ii=1n180。(1180。400180。即,95%的把握認(rèn)為此項(xiàng)新工藝沒(méi)有顯著地提高產(chǎn)品的質(zhì)量.個(gè)樣品，測(cè)量其發(fā)熱量，計(jì)算得=11958，樣本標(biāo)準(zhǔn)差=323，問(wèn)以5％的顯著水平是否可認(rèn)為發(fā)熱量的期望值是:=H1m總體標(biāo)準(zhǔn)差未知,拒絕域?yàn)?n,==11958,s==,由檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量t = =,拒絕:m =,接受:m 185。12100,xm 11958//以12100.7．某食品
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