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正文內(nèi)容

統(tǒng)計制程管制講義spc-展示頁

2024-10-26 02:19本頁面
  

【正文】 更高的有效能力 ★ 為討論過程能力提供共同的語言 ★ 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因 ,作為采取 局部措施或特殊措施的指南 SPC 9 使用控制圖的準備 ★ 建立適用於實施的環(huán)境 (準備充分的實施條 件 ) ★ 定義過程 ★ 確定測量系統(tǒng) ★ 使不必要的變差最小 (人員 ,量具等 ) SPC 10 制作管制圖的步驟 1. 收集數(shù)據(jù) 選擇子組大小 ﹑ 頻率和數(shù)據(jù) 計量型第一個關(guān)鍵步驟 就是“合理子組的確定” 這一點將決 SPC 11 其目的是檢查經(jīng)過一段 時間后過程中的變化 . 子組數(shù)的大小應(yīng)滿 定控制圖的效果及效率 .在過程的初 期研究中 ,子組一般由 4~5件連續(xù)生產(chǎn) 的產(chǎn)品組合 (子組樣本容量需恆定 ). SPC 12 足 ,兩個原則 ,從過程的角度來看 ,收 集越多的子組可以確保變差的主要 原因有機會出現(xiàn) .一般情況下 ,包含 100或更多單值讀數(shù)的 25 或更多個 子組 ,可以很好地用來檢驗穩(wěn)定性 ,如 果過程已穩(wěn)定 .則可以得到過程位置 SPC 13 和分布寬度的有效的估計值 . 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 計算每個子組的均值 (X)和極差 (R) 對每個子組 ,計算 : R=X最大值 – X最小值 X = (X1 + X2 + ….+ Xn) / n 式中 : X1 , X2… .為子組內(nèi)的每個測量值 . SPC 14 n為子組樣本容量 . 選擇控制圖的刻度 對于 X圖 ,坐標上的刻度值的最大值與最 小值之差應(yīng)至少為子組均值 (X)的最大 值與最小值差的 2 倍 .對于 R 圖 ,刻度值 應(yīng)從最低值為 0 開始到最大值之間的差 SPC 15 值為初始階段遇到的最大極差 ( R )的 2倍 . 將均值和極差畫在控制圖上 2. 計算控制限 計算平均極差 ( R ) 及過程平均值 ( X ) 在研究階段 ,計算 : R = (R1+R2+….+R k) / k X = (X1+X2….+X k) / k SPC 16 式中 : k 為子組的數(shù)量 . 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的 普通原因時子組的均值和極差的變化 範圍 .按以下公式計算控制限 : UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX=X+A2R LCLX=XA2R SPC 17 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * A2 表一 式中 :D4 ﹑ D3 ﹑ A2為常數(shù) ,它們隨樣 本的容量不同而不同 ,見附表 1如下 : SPC 18 對於樣本容量小於 7 的情況 , LCLR技術(shù)上 為一個負值 .這種情況下沒有控制下限 . 在控制圖上作平均值和極差控制限的控制 線將極差 ( R )和過程均值 ( X )畫成水平實 線 ,各控制限 (CUCLR , LCLR , UCLx ,LCLx) 畫成水平虛線 . SPC 19 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 由于不論解釋子組極差或子組均值的 能力都取決于零件間的變差 .因此我們 先分析 R 圖 . 出現(xiàn)一個或多個 點超出任一個控制限是該點處於失控 狀態(tài)下的主要證據(jù) .通常說明存在下列 SPC 20 情況中的一種或幾種 : ★ 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 ★ 測量系統(tǒng)變化 (例如 ,不同的檢驗員或量 具 )。 ★ 連續(xù)七點上升或下降 . 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 當極差受統(tǒng)計控制時 ,則認為過程的分 SPC 22 布寬度 子組內(nèi)的變差 是穩(wěn)定 的 .然后對均值圖進行分析看在此過程 的位置是否改變 . 出現(xiàn)一點或多點 超出任一控制限就證明這點出現(xiàn)特殊 原因 .這是立即對操作進行分析的信號 SPC 23 一點超出控制限通常表明存在下列情 況之一或更多 : ★ 控制限或描點錯誤 。 ★ 測量系統(tǒng)發(fā)生變化 (如不同檢驗 員或量具 ). SPC 24 下列每一種情況都表明過程 已開始變化或有變化的趨勢 : ★ 連續(xù)七點在平均值的一側(cè) 。 1/20 的點應(yīng)落在控制限較近之處 (位于外三分之一的區(qū)域 ).另外 ,存在大約 SPC 26 1/150 的點落在控制限之外 ,但可以認為是 受控的穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部份 就是說 , 大約 %的點位于控制限之內(nèi) . 5. 計算標準差 標準差通常有下列公式 : (1) σ= R / d2 式中 ,R為子組極差的均值 , d2隨樣本容量變 SPC 27 化的常數(shù) ,見下表 : n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 SPC 28 過程能力是指按標準偏差為單位來描述的 過程均值與規(guī)范界限的距離 . Cp(Capability of Precision) 規(guī)格界限與實 際制程界限之比值 . SPC 29 Cp = = T/6σ Cp 的規(guī)格 等級 Cp 值 說明 A = Cp 續(xù)續(xù)改善 B = Cp 盡
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