spc統(tǒng)計實用培訓教程(ppt49頁)-文庫吧資料
2025-02-24 01:47本頁面
【正文】 * 2. 28 5 . 58 * 2. 11 6 . 48 * 2. 00 7 . 42 . 08 1. 92 8 . 37 . 14 1. 86 9 . 34 . 18 1. 82 10 . 31 . 22 1. 78對特殊原因采取措施的說明? 任何超出控制限的點? 連續(xù)7點全在中心線之上或之下? 連續(xù)7點上升或下降? 任何其它明顯非隨機的圖形采取措施的說明1 不要對過程做不必要的改變2 在此表后注明在過程因素（人員、設備、材料、方法、環(huán)境或測量系統(tǒng)）所做的調整。N為子組的樣本容量。 43 A3計算每個子組的極差和均值 畫在控制圖上的特性量是每個子組的樣本均值（ X）和樣本極差（ R），合在一起后它們分別反映整個過程的均值及其變差。 數據欄應包括每個讀數的空間。 X和 R的值為縱坐標，按時間先后的子組為橫坐標。子組容量 A2 D3 D4 2 1. 88 * 3. 27 3 1. 02 * 2. 57 4 . 73 * 2. 28 5 . 58 * 2. 11 6 . 48 * 2. 00 7 . 42 . 08 1. 92 8 . 37 . 14 1. 86 9 . 34 . 18 1. 82 10 . 31 . 22 1. 78對特殊原因采取措施的說明? 任何超出控制限的點? 連續(xù)7點全在中心線之上或之下? 連續(xù)7點上升或下降? 任何其它明顯非隨機的圖形采取措施的說明1 不要對過程做不必要的改變2 在此表后注明在過程因素（人員、設備、材料、方法、環(huán)境或測量系統(tǒng)）所做的調整。 b. 子組頻率 在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進行分組或很短的時間間隔進行分組 過程穩(wěn)定后，子組間的時間間隔可以增加。 – R圖 ? 通過計算機上的模擬試驗證實：只要 X不是非常不對稱，則 R的分布無大的變化。 23 判異準則 Criteria for abnormality 1. 點出界就判異； 2. 雖然點均未出界，但界內點排列不隨機就判異； ? 第二條準則的具體模式理論上有無窮多種，但具有實際物理意義并被廣泛使用的有少數幾種。 ? 漏發(fā)警報 (alarm missing):過程異常，但樣本正好抽到仍位于控制界限以內，根據判異規(guī)則判定過程正常。 22 判異規(guī)則（二） ? 兩種錯誤 ? 虛發(fā)警報 (false alarm)：過程正常，但樣本正好抽到 %處，根據判異規(guī)則判定過程異常。若過程異常， ?值增大，分布曲線整體上移，則點子超出 UCL的概率大大增加，可能是的幾十倍、幾百倍。 21 判異規(guī)則（一） ? 點出界就判異 ? 如上圖第四點已超出 UCL，故判斷過程異常。圖 C就是一張典型的控制圖 ——單值控制圖。?，得到圖 B；但圖 B中上端數值大，不符合視角常規(guī)，故再將圖前后旋轉 180 176。 ? 休哈特正是據此發(fā)明了控制圖。 19 控制圖原理 ? 3?原則 ? 不論 ?與 ?取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為 3 ? ，則產品質量特征值落在范圍內的為 %，這是數學計算的精確值，應該牢牢記住。無論平均值如何變化都不會改變正態(tài)分布的形狀，即標準差 ?；無論標準差如何變化，也不會影響數據的對稱中心，即平均值 ?。 ? 這條光滑的曲線就形成正態(tài)分布曲線，其特點是中間高，兩頭底，左右對稱并延伸至無窮。如 100條 PCB金手指厚度，標準 50?。 ? 由于二項分布和泊松分布數據數理統(tǒng)計理論較復雜，以下討論以正態(tài)分布為例。 ? 計件特性值：如內存合格 /不合格兩種離散性數據，最常見的是二項分布 (binomial distribution)。 12 正態(tài)分布 ? 分布 (distribution)：用來描述隨機現象的統(tǒng)計規(guī)律，說明兩個問題：變異的幅度有多大；出現這么大幅度的概率。 溫度 ? 0℃ 固體狀態(tài) 溫度 0 ℃ t 100 ℃ 液體狀態(tài) 溫度 ? 100 ℃ 氣體狀態(tài) ? 隨機現象，統(tǒng)計規(guī)律：在一定條件下事件可能發(fā)生也可能不發(fā)生的現象。 11 產品質量的統(tǒng)計觀點二 ? 產品質量的變異具有統(tǒng)計規(guī)律性 確定性現象，確定性規(guī)律：在一定條件下，必然發(fā)生或不可能發(fā)生的事情。 ? 1924年 5月 6日休哈特提出的不合格樣品率 P控制圖為世界第一張控制圖。 ? 二十世紀二十年代美國休哈特 ()首創(chuàng)過程控制 (Process Control)理論極其監(jiān)控過程的工具 —控制圖 (Control Chart)形成 SPC的基礎，后擴展到任何可以應用的數理統(tǒng)計方法。 ? 過程控制中常用 精度 這個概念來反映質
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