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2025-02-23 23:03本頁面
【正文】 (均值圖 ) 排除所有受已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組 ,重新計算新的過程均值和控制限并畫圖 。 如果少于 40%的點落在中間 1/3的區(qū)域 ,則應(yīng)調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯 。 過程或取樣方法被分層 。1/20的點應(yīng)落在控制限較近之處 .大約 1/150的點落在控制限之外 ,可認為系統(tǒng)受控 ,就是說 %的點位于控制限內(nèi) 。 測量系統(tǒng)改變 。 連續(xù) 7點上升或下降 。 測量系統(tǒng)變化 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 a)超出控制限的點 : 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 子組數(shù)據(jù)包含了多個不同過程流的測量值 。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 。 如果超過 90%的點落在控制限 1/3的區(qū)域內(nèi) ,則應(yīng)調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯 。 測量系統(tǒng)改變 ,掩蓋過程的真實性 。 測量系統(tǒng)改變 。 連續(xù) 7點上升或下降 。 ?測量系統(tǒng)已改變 。 ?超出下控制限說明 : 控制限或描點錯誤 。 分布寬度增大 。 初始階段稱為試驗控制限 。 均值下控制限 :LCLX=XA2R。 極差下控制限 :LCLR=D3R。 將均值和極差畫到控制圖上 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 B. 計算控制限 計算平均極差 (R)及過程均值 (X)。 計算每個子組的均值 (X)和極差 (R) 選擇控制圖的刻度 X圖 :刻度值的最大值與最小值差的 2倍 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) X和 R值為縱坐標 ,子組的時間先后次序為橫坐標 。 b. 子組頻率 :過程初期在很短的時間間隔分組 ,穩(wěn)定后 , 可增加時間間隔 。 使不必要的變差最小化 。 確定作圖的特性 :顧客需求 ,潛在問題 ,特性之間的關(guān)系 。 2 計量型數(shù)據(jù)控制圖 均值和極差圖 (XR圖 ) 作圖準備 : 適合的環(huán)境 。 c) 中位數(shù)圖 (XR圖 ):易于使用 。 常用的計量型控制圖 a) 均值極差圖 (XR圖 ):適用于樣本容量較多的情況 。 計量型控制圖的特點 : 描述位置的 X圖 。 d) 檢查數(shù)量少 ,可提高效率 。 b) 包含信息較多 。 1 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 控制圖的益處 供正在進行過程控制的操作者使用； 有助于過程在質(zhì)量和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去； 使過程達到：更高的質(zhì)量 更低的單件成本 更高的有效能力 為討論過程的性能提供共同的語言； 區(qū)分變差的原因，采取對應(yīng)的措施 。 :利用數(shù)據(jù)計算試驗控制限 ,并畫在圖上 。 1 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 控制圖 過程控制的工具 控制圖 :區(qū)分變差的普通及特殊原因的工具 。用于判定是否受控 ,是否采取解決特殊原因的措施 。 能力指數(shù)的分類 :長期 /短期 。 1 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 能力與能力指數(shù) 能力指數(shù) :過程的分布寬度或不合格的平均比例 /比率 。 3類過程 :符合要求 ,可接受 ,但不受控 ,需識別特殊原因 并消除 。 1類過程 :受統(tǒng)計控
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