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spc培訓(xùn)講義-v2-文庫吧資料

2025-02-23 12:19本頁面
  

【正文】 天以上。5。 ? Ppk: 考慮了總變異 (組內(nèi)和組間 ),所以是比較真實(shí)的情形,所以一般想要了解真正的過程情形應(yīng)使用 Ppk。 ? 總變異 =組內(nèi)變異 +組間變異。 UCL CL LCL 76 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ? 計(jì)算新的控制限 2?dR?? newxnewxnewRnewRnewRAxLCLRAxUCLRDLCLRDUCLdR22342???????? ?77 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 78 Case study ? 請計(jì)算出上表的 XR控制圖的控制限? ? 請判定過程是否穩(wěn)定? ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理? 79 D過程能力解釋 D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D2計(jì)算過程能力 D3評價(jià)過程能力 D4提高過程能力 D5對修改的過程繪制控制圖并分析 建立 XR圖的步驟 D 80 aC過程能力指標(biāo) 2?)()2/(dRTXCa?????雙邊規(guī)格過程準(zhǔn)確度 — 反映過程中心與規(guī)格中心偏離的狀況。 70 B計(jì)算控制限 B1計(jì)算平均極差及過程平均值 B2計(jì)算控制限 B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線 建立 XR圖的步驟 B 71 RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422????????全距控制圖平均值控制圖kRRRRkxxxxxkk?????????..........21321全距控制圖平均值控制圖控制圖RX ?72 C過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計(jì)算控制界限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計(jì)算控制界限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 建立 XR圖的步驟 C 73 控制圖的判讀 ? 超出控制界限的點(diǎn):連續(xù) 25點(diǎn)出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 74 控制圖的判讀 ? 鏈:有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變 ? 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) ? 連續(xù) 7點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降。 連續(xù)二十五點(diǎn)在控 制界限內(nèi),表示制 程基本上已穩(wěn)定, 控制界限可以延用 此時(shí)有點(diǎn)子超出控 制界限,表示此時(shí) 狀態(tài)已被改變,此 時(shí)要追查原因,必 要時(shí)必須重新收集 數(shù)據(jù),重新考慮穩(wěn) 定狀態(tài) 58 使用控制圖的注意事項(xiàng) ? 分層問題 ? 同樣產(chǎn)品用若干臺(tái)設(shè)備進(jìn)行加工時(shí) , 由于每臺(tái)設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異 , 這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)、使散差加大的原因 . 因此 , 有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層 , 也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制 , 作分層控制圖 . 另外 , 當(dāng)控制圖發(fā)生異常時(shí) , 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法 . 59 復(fù)合 層別的說明 60 使用控制圖的注意事項(xiàng) ? 控制界限的重新計(jì)算 ? 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程 , 在確定控制圖最初的控制線 CL、 UCL、 LCL時(shí) , 常常需要反復(fù)計(jì)算 , 以求得切實(shí)可行的控制圖 . 但是 , 控制圖經(jīng)過使用一定時(shí)期后 , 生產(chǎn)過程有了變化 , 例如 加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變 以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后 , 應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計(jì)算控制界限并作出新的控制圖 . 61 為何控制界限應(yīng)延用 62 使用控制圖的準(zhǔn)備 ? 建立適用于實(shí)施的環(huán)境 ? 定義過程 ? 確定待管理的特性,考慮到 ? 顧客的需求 ? 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 ? 特性間的相互關(guān)系 ? 確定測量系統(tǒng) ? 使不必要的變差最小 63 建立控制圖的四步驟 A收集數(shù)據(jù) B計(jì)算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 64 建立 XR圖的步驟 A A階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 子組大小 子組頻率 子組數(shù)大小 A2建立控制圖及記錄原始記錄 A3計(jì)算每個(gè)子組的均值 X和極差 R A4選擇控制圖的刻度 A5將均值和極差畫到控制圖上 65 取樣的方式 ? 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小,組間變異大 ? 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明 66 組數(shù)的要求 (最少 25組 ) 當(dāng)過程中心值偏差了 二個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差時(shí),它在 控制限內(nèi)的概率為 那么連續(xù) 25點(diǎn)在線內(nèi) 的概率為: 25 ?67 平均值和極差 ? 平均值的計(jì)算 554321 xxxxxx ?????? R值的計(jì)算 m inm a xxxR ??68 每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算 1 100 98 99 100 98 2 98 99 98 101 97 3 99 97 100 100 98 4 100 100 101 99 99 5 101 99 99 100 99 平均 100 極差 3 3 3 2 2 69 選擇控制圖刻度 ? X圖,坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值的最大值與最小值差的 2倍。 ? 在同樣能夠滿足對產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下 , 應(yīng)該選擇 容易測定 的控制項(xiàng)目 . 用統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行質(zhì)量控制如無質(zhì)量特性數(shù)據(jù)就無法進(jìn)行 . 53 控制特性的選擇原則 ? 在同樣能夠滿足產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下 , 應(yīng)選擇對生產(chǎn)過程 容易 采取措施的控制項(xiàng)目 . ? 為了使控制最終取得最佳效果 , 應(yīng)盡量采取影響產(chǎn)品質(zhì)量特性的 根本原因 有關(guān)的特性或接近根本原因的特性作為控制項(xiàng)目 . ? 產(chǎn)品的質(zhì)量特性有時(shí)不止一個(gè) , 則應(yīng)同時(shí)采取幾個(gè)特性 作為控制項(xiàng)目 . 54 使用控制圖的注意事項(xiàng) ? 分組問題 ? 主要是使在大致相同的條件下所收集的質(zhì)量特性值分在一組 , 組中不應(yīng)有不同本質(zhì)的數(shù)據(jù) , 以保證組內(nèi)僅有普通原因的影響 . ? 我們所使用的控制圖是以影響過程的許多變動(dòng)因素中的普通原因所造成的波動(dòng)為基準(zhǔn)來找出異常因素的 , 因此 , 必須先找出過程中普通原因波動(dòng)這個(gè)基準(zhǔn) . 55 時(shí)間 質(zhì)量特性 過程的變化 分組注意事項(xiàng) 讓組內(nèi)變化只有普通原因 讓組間變化只有非普通原因 組內(nèi)變異小 組間變化大 56 錯(cuò)誤的分組方式以及其后果 ? 如此的取樣方式會(huì)造成無法有效區(qū)別組內(nèi)變異和組間變異,造成控制界限變寬,無法有效偵測制造變異。 ? 此種問題比較不易解決,應(yīng)由技術(shù)人員、管理人員進(jìn)行處理。 ? 此種問題比較容易解決, 85%應(yīng)由現(xiàn)場人員就可以處理。 ? 同一槽之內(nèi)的變異謂組內(nèi)變異,此時(shí)就要去分析為何在同一槽之內(nèi)會(huì)有不均之現(xiàn)象。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因,隨時(shí)間的推移,過程的輸出將不穩(wěn)定。 ? 特殊原因:指的是造成不是始終作用于過程變差的原因,即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成過程的 分布改變 。 37 符合規(guī)格就真的 OK了嗎 ? 38 Spec LSL USL 我們合格 Specin就合格 I am Data (我活著 ) Specout 不合格 檢出不良 39 ? 以后 , Spec LSL USL 集中在中心 才合格 散就死 Specin 但沒有達(dá)到水準(zhǔn) 就不合格 潛在的不良 事前預(yù)測 不良 ? 呀 ! 有吃的 (不良 ) 40 41 過程的組成以及其波動(dòng)的原因 波動(dòng)原因 人 機(jī)器 材料 方法 測量 環(huán)境 42 普通原因與特殊原因 ? 普通原因:是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因,我們稱之為: “處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)” 、 “受統(tǒng)計(jì)控制” ,或有時(shí)簡稱 “受控” ,普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 ? 管制界限:應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體之量度,這種量度是從一群中各個(gè)單位產(chǎn)品所得之觀測值所計(jì)算出來者。4σ % “α”及“ β”風(fēng)險(xiǎn)說明 32 兩種錯(cuò)誤的經(jīng)濟(jì)平衡點(diǎn) ( 177。2σ % 177。4σ % 平均值移動(dòng) “β”值 177。2σ % 177。 30 控制圖兩種錯(cuò)誤的分析 ? 對于僅僅存在偶然因素的情況下 , 由于點(diǎn)子越出控制界限外而判斷過程發(fā)生變化的錯(cuò)誤 , 即將正常判斷為異常的錯(cuò)誤是可能發(fā)生的 . 這種錯(cuò)誤稱為 第一種錯(cuò)誤 . ? 當(dāng)過程具有某種非偶然因素影響 , 致使過程發(fā)生程度不同的變化 . 但由于此變化相應(yīng)的一些點(diǎn)子落在控制界限內(nèi) , 從而有可能發(fā)生判斷過程未發(fā)生變化的錯(cuò)誤 , 這種錯(cuò)誤稱為第二種錯(cuò)誤 . ? 發(fā)生第一種錯(cuò)誤時(shí) , 虛發(fā)警報(bào) , 由于徒勞地查找原因并為此采取了相應(yīng)的措施 , 從而造成損失 . 因此 , 第一種錯(cuò)誤又稱為徒勞錯(cuò)誤 . 發(fā)生第二種錯(cuò)誤時(shí) 漏發(fā)警報(bào) , 過程已經(jīng)處于不穩(wěn)定狀態(tài) , 但并未采取相應(yīng)的措施 , 從而不合格品增加 , 也造成損失 . 31 控制界限 “α”值 177。 這個(gè)試驗(yàn)說明:人工檢驗(yàn)并不一定完全可靠。3σ % % 28 “α”及“ β”風(fēng)險(xiǎn)說明 “ α”風(fēng)險(xiǎn)說明 “ β”風(fēng)險(xiǎn)說明 (第一種錯(cuò)誤 ) (第二種錯(cuò)誤) 29 案例分享 在 MBA教學(xué)中有一個(gè)著名的案例: 100個(gè)缺陷品被放進(jìn)大量的合格品中,并作100%的檢驗(yàn)。2σ % % μ177。1σ % % μ177。kσ 在內(nèi)的概率 在外的概率 μ177。 盡
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