儀器的性能與校正方法分析-文庫(kù)吧資料
2025-01-31 04:54本頁(yè)面
【正文】 環(huán)境噪聲來自于周圍環(huán)境的各個(gè)方面 。產(chǎn)生該噪聲的機(jī)制還不很清楚。 ? 閃變?cè)肼?（ Flicker noise） 閃變?cè)肼暣嬖谑制毡?，其大小與頻率成反比，尤其在低頻時(shí)（ 100Hz），其對(duì)測(cè)定的影響更大。 (如 UVVisible二極管陣列檢測(cè)器在 77K時(shí) ， 其噪音下降一半左右；此外 ， 減少帶寬 ， 可降低噪音 ， 但同時(shí)也會(huì)延長(zhǎng)響應(yīng)時(shí)間 ， 并降低測(cè)定的可靠性 。只有在絕對(duì)零度時(shí) ， 該噪音才會(huì)消失 。 通常將儀器噪聲分為 4類： ? 熱噪聲 （ Thermal, or Johnson, noise） ：屬于白噪音(white noise)， 由元器件中電子或電荷受熱激發(fā)所產(chǎn)生的噪音信號(hào) 。 ? 儀器噪聲 儀器的光 (電 )源 、 輸入 (出 )轉(zhuǎn)換器 、 信號(hào)處理單元等都是儀器噪聲的來源 。 RSDsxNS 1????標(biāo)準(zhǔn)偏差平均值 噪聲的來源 化學(xué)噪聲：分析體系中難以控制的一些化學(xué)因素 。 當(dāng)測(cè)量信號(hào)較小時(shí) ， 測(cè)量的相對(duì)誤差將增加 。 其中信號(hào)反映了待測(cè)物的信息 ， 是我們所關(guān)心的 ， 而噪音是不可避免的 ， 它降低分析的準(zhǔn)確度和精密度 、 提高檢出限 ， 是我們不希望的 。 sb 測(cè)定次數(shù) ， n S SDL=Sb +k1? sb 儀器噪音及方法檢出限 K1=3時(shí)，可以認(rèn)為儀器檢出的最小信號(hào)值 SDL可能性為 95% 檢出限如何計(jì)算呢 ？ ? 測(cè)定空白樣品 (或濃度接近空白值 ） 2030次 ， 求其 平均值 Sb 及其標(biāo)準(zhǔn)偏差 sb， 則可分辨的最小信號(hào) SDL= Sb+k1?sb ? 通過校正曲線的斜率 k， 將最小待測(cè)物信號(hào) SDL轉(zhuǎn)化 為濃度值 CDL， 即 經(jīng)統(tǒng)計(jì)學(xué)的 t 和 z 檢驗(yàn) ， 當(dāng) k1=3時(shí) ， 大多數(shù)情況下， 當(dāng)檢測(cè)結(jié)果的置信度為 95%。 它和分析信號(hào) （ Singnal） 與 空白信號(hào)的波動(dòng) （ 噪音 , Noise） 有關(guān) ， 或者 說與信噪比 （ S/N） 有關(guān) 。 0 10 20 30 40 50 60 0 S c 儀器和方法的靈敏度描述 k1, k2分別為兩條校正曲線的斜率，即靈敏度。 影響靈敏度的因素有二： ? 校正曲線的斜率； ? 分析的重現(xiàn)性或精密度 。 在建立新的分析方法時(shí) ， 對(duì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的測(cè)量可找出誤差的來源 ！ 并通過空白分析和儀器校正來消除誤差 。 ?標(biāo)準(zhǔn)偏差 (Absolute standard deviation)， s ?平均標(biāo)準(zhǔn)偏差 (Standard deviation of mean, sm) ? 相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (Relative standard deviation, RSD) ? 變異系數(shù) (Coefficient of variance, CV) ?方差 (Variance): s2 1)(12??????NxxsNii?? xsRSD /Nss m /?%100/ ?? xsCV 2) 誤差 （ Bias） 測(cè)量值的總體平均值 x與 “ 真值 ?
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