【正文】 CL 37 為了繼續(xù)進行控制延長控制限 a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控 制限，將其作為將來的一段時期的控制限。 b 應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 注：如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一 種或更多進行調(diào)查： d1 控制限或描點計算錯描錯 。 b 一般情況 ， 各點與 X的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ， 大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的 點應(yīng)落在控制限較近之處 （ 位于外 1/3的區(qū)域 ） 。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 341 超出控制限的點： a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點時描錯 a2 過程已更改，或是在當(dāng)時的那一點（可能是一件獨立的 事件）或是一種趨勢的一部分。而是排除受已知的特殊原因影響的點。 A2R 。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。 b 應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 注： 如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組，如果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： d1 控制限或描點計算錯或描錯。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。 b 一般情況，各點與 R 的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 注 2： 標(biāo)注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間 。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 311 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) ， 應(yīng)分析 。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進行比較，了解影響過程 8 的特殊原因。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 ? 各控制限畫成虛線。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 4 5 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計算控制限 10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 11 值和極差的變化和范圍。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立