材料分析測試技術試卷(答案)-文庫吧資料
2025-07-04 10:09本頁面
【正文】 將OO*=1/λ，g = 1/d代入上式得：Rd=Lλ五、 綜合題：（28分）1. 為使Cukα線的強度衰減1/2，需要多厚的Ni濾波片？（Ni的 μm=,ρ=）。O*G 是倒易矢量g，O，A=R，O O，=L。2. 作圖并證明公式：Rd=Lλ?！遟=1/d；k=1/λ，∴2dsinθ=λ。證明：如圖，令入射方向矢量為k（k = 1/λ），衍射方向矢量為k，衍射矢量為g。四、 證明題：20分1. 證明衍射分析中的厄瓦爾德球圖解與布拉格方程等價。具體做法是先看到位錯，然后轉動樣品，選擇一個操作反射g1，使得位錯不可見。3. 什么是缺陷的不可見性判據(jù)？如何用不可見性判據(jù)來確定位錯的布氏矢量？答：所謂缺陷的不可見性判據(jù)是指當晶體缺陷位移矢量所引起的附加相位角正好是π的整數(shù)倍時，有缺陷部分和沒有缺陷部分的樣品下表面衍射強度相同，因此沒有襯度差別，故而看不缺陷。透射電子顯微鏡在材料科學研究中的應用非常廣泛。分析型透鏡除此以外還可以增加特征X射線探頭、二次電子探頭等以增加成分分析和表面形貌觀察功能。三、 問答題：（24分，每題8分）1. X射線衍射儀法中對粉末多晶樣品的要求是什么？答： X射線衍射儀法中樣品是塊狀粉末樣品，首先要求粉末粒度要大小適中，在1um5um之間；其次粉末不能有應力和織構；最后是樣品有一個最佳厚度（t = 2. 分析型透射電子顯微鏡的主要組成部分是哪些？它有哪些功能？在材料科學中有什么應用？答：透射電子顯微鏡的主要組成
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