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材料分析測試技術(shù)部分課后答案-文庫吧資料

2025-08-16 21:55本頁面
  

【正文】 品制備的關(guān)鍵是如何將超細(xì)粉的顆粒分散開來,各自獨(dú)立而不團(tuán)聚。11限制復(fù)型樣品的分辨率的主要因素是什么答限制復(fù)型樣品的分辨率的主要因素是復(fù)型材料粒子尺寸。 補(bǔ)充:(掌握)質(zhì)厚襯度原理:非晶(復(fù)型)樣品電子顯微圖像襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在原子序數(shù)或厚度的差異而形成的,即質(zhì)厚襯度。1)所謂小孔徑角成像是指在物鏡背焦平面上沿徑向插入一個(gè)小孔徑的物鏡光闌,擋住散射角大于α的電子,只允許散射角小于α的電子通過物鏡光闌參與成像,而圖像的襯度就取決于透過物鏡光闌投影到熒光屏或照相底片上不同區(qū)域的電子強(qiáng)度差別。晶格分辨率更高。2)晶格分辨率:當(dāng)電子束射入樣品后,通過樣品的透射束和衍射束間存在位相差。10—8 點(diǎn)分辨率和晶格分辨率有何不同?同一電鏡的這兩種分辨率哪個(gè)高?為什么?1)點(diǎn)分辨率:透射電鏡剛能分清的兩個(gè)獨(dú)立顆粒的間隙或中心距離。3放大倍數(shù)的標(biāo)定方法用衍射光柵復(fù)型為標(biāo)樣在一定條件下加速電壓、透鏡電流拍攝標(biāo)樣的放大像然后從底片上測量光柵條紋像間距并與實(shí)際光柵條紋間距相比即為該條件下的放大倍數(shù)。高倍下拍攝粒子像再光學(xué)放大5倍從照片上找粒子間最小間距除以總放大倍數(shù)即為相應(yīng)的點(diǎn)分辨率。107如何測定透射電鏡的分辨率與放大倍數(shù)?電鏡的哪些主要參數(shù)控制著分辨率與放大倍數(shù)?1點(diǎn)分辨率測定方法Pt或貴金屬蒸發(fā)法。3)選區(qū)光闌(場限光闌或視場光闌)——常安放在物鏡的像平面上。1)聚光鏡光闌——第二聚光鏡下方,限制照明孔徑角。在照相暴光期間樣品圖像漂移量應(yīng)小于相應(yīng)情況下的顯微鏡的分辨率。平移是任何樣品的最基本的動(dòng)作,通常在2個(gè)相互垂直方向上樣品平移最大值為177。要求非常嚴(yán)格。透射電鏡的樣品臺(tái)是放置在物鏡的上下極靴之間,由于這里的空間很小,所以透射電鏡的樣品臺(tái)很小,通常是直徑3mm的薄片。答:成像操作時(shí)中間鏡是以物鏡的像作為物成像,然后由投影鏡進(jìn)一步放大投到熒光屏上,即中間鏡的物平面與物鏡的像平面重合;衍射操作是以物鏡的背焦點(diǎn)作為物成像,然后由投影鏡進(jìn)一步放大投到熒光屏上,即中間鏡的物平面與物鏡的背焦面重合。由于成像電子束進(jìn)入投影鏡時(shí)孔徑角很?。s105rad),因此其景深、焦長都很大。如果把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合,則在熒光屏上得到一幅放大像,這就是電子顯微鏡中的成像操作;如果把中間鏡的物平面和物鏡的背焦面重合,則在熒光屏上得到一幅電子衍射花樣,這就是透射電子顯微鏡中的電子衍射操作。中間鏡是一個(gè)弱激磁的長焦距變倍透鏡,可在0~20 倍范圍調(diào)解。物鏡是用來形成第一副高分辨率電子顯微圖像或電子衍射花樣的透鏡。為滿足明場和暗場成像需要,照明束可在2—3度范圍內(nèi)傾斜。其中電子光學(xué)系統(tǒng)通常稱鏡筒,是透射電鏡的核心,它分為三部分,即照明系統(tǒng)、成像系統(tǒng)和觀察記錄系統(tǒng)。9說明影響光學(xué)顯微鏡和電磁透鏡分辨率的關(guān)鍵因素是什么?如何提高電磁透鏡分辨率?光學(xué)顯微鏡的分辨本領(lǐng)取決于照明光源的波長;球差是限制電磁透鏡分辨本領(lǐng)的主要因素;孔徑半角α減小,球差減小,但從衍射效應(yīng)來看,α減小使Dr0變大,分辨本領(lǐng)下降,關(guān)鍵是電磁透鏡確定電磁透鏡的最佳孔徑半角,使衍射效應(yīng)Airy斑和球差散焦斑尺寸大小相等,表明兩者對(duì)透鏡分辨本領(lǐng)影響效果一樣。3) 改變激磁電流可以方便地改變電磁透鏡的焦距 9電磁透鏡的像差是怎樣產(chǎn)生的,如何消除和減少像差?像差有幾何像差(球差、像散等)和色差球差是由于電磁透鏡的中心區(qū)域和邊沿區(qū)域?qū)﹄娮拥臅?huì)聚能力不同而造成的;為了減少由于球差的存在而引起的散焦斑,可以通過減小球差系數(shù)和縮小成像時(shí)的孔徑半角來實(shí)現(xiàn) 像散是由透鏡磁場的非旋轉(zhuǎn)對(duì)稱而引起的;透鏡磁場不對(duì)稱,可能是由于極靴內(nèi)孔不圓、上下極靴的軸線錯(cuò)位、制作極靴的材料材質(zhì)不均勻以及極靴孔周圍局部污染等原因?qū)е碌摹S覉D短線圈磁場中的電子運(yùn)動(dòng)顯示了電磁透鏡聚焦成像的基本原理:結(jié)構(gòu)的影響:1) 增加極靴后的磁線圈內(nèi)的磁場強(qiáng)度可以有效地集中在狹縫周圍幾毫米的范圍內(nèi);2) 電磁透鏡中為了增強(qiáng)磁感應(yīng)強(qiáng)度,通常將線圈置于一個(gè)由軟磁材料(純鐵或低碳鋼)制成的具有內(nèi)環(huán)形間隙的殼子里,此時(shí)線圈的磁力線都集中在殼內(nèi),磁感應(yīng)強(qiáng)度得以加強(qiáng)。在一個(gè)電磁線圈中,當(dāng)電子沿線圈軸線運(yùn)動(dòng)時(shí),電子運(yùn)動(dòng)方向與磁感應(yīng)強(qiáng)度方向一致,電子不受力,以直線運(yùn)動(dòng)通過線圈;當(dāng)電子運(yùn)動(dòng)偏離軸線時(shí),電子受磁場力的作用,運(yùn)動(dòng)方向發(fā)生偏轉(zhuǎn),最后會(huì)聚在軸線上的一點(diǎn)。9分析電磁透鏡對(duì)電子波的聚焦原理,說明電磁透鏡的結(jié)構(gòu)對(duì)聚焦能力的影響。另外,可見光為電磁波。但是軸對(duì)稱的非均勻電場和磁場則可以讓電子束折射,從而產(chǎn)生電子束的會(huì)聚與發(fā)散,達(dá)到成像的目的。 178。電子波特征:電子波屬于物質(zhì)波。以均有Cu衍為外推函數(shù),請(qǐng)用柯亨法計(jì)算晶格常數(shù),精確到四位有效數(shù)字 解: ,+=1,可得下表:所以得: =6489A+① =+②由1,2得A=,C=。因?yàn)楣ぷ鲿r(shí),探測器與試樣同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng),但轉(zhuǎn)動(dòng)的角速度為2:1 的比例關(guān)系。記錄方式:衍射儀法采用計(jì)數(shù)率儀作圖,德拜法采用環(huán)帶形底片成相,而且它們的強(qiáng)度(I)對(duì)(2θ)的分布(I2θ曲線)也不同;測角儀在工作時(shí),如試樣表面轉(zhuǎn)到與入射線成30176。試樣形狀:衍射儀法為平板狀,德拜法為細(xì)圓柱狀。角時(shí),計(jì)數(shù)管與入射線成多少度角? 答:入射X射線的光束:都為單色的特征X射線,都有光欄調(diào)節(jié)光束。=,d=176。=,d=176。=,d=176。=,d=176。41 用粉末相機(jī)得到了如下角度的譜線,試求出晶面間距(數(shù)字為θ角,所用射線為Cu)。按角度增大的順序排列為: , , 。即: (hkl)分別為:(1 0 0), (0 0 1
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