【正文】
紋是透射電子束和衍射電子束相互干涉后的干涉條紋,其間距恰好與參與衍射的晶面間距相同,并非晶面上原子的實際形貌相。(2)透射電子顯微鏡分辨率取決于電磁透鏡的制造水平,球差系數(shù),透射電子顯微鏡的加速電壓。電鏡的哪些主要參數(shù)控制著分辨率與放大倍數(shù)?答:(1)分辨率:可用真空蒸鍍法測定點分辨率;利用外延生長方法制得的定向單晶薄膜做標樣,拍攝晶格像,測定晶格分辨率。(2)聚光鏡的作用是限制照明孔徑角,在雙聚光鏡系統(tǒng)中,它常裝在第二聚光鏡的下方;物鏡光闌通常安放在物鏡的后焦面上,擋住散射角較大的電子,另一個作用是在后焦面上套取衍射來的斑點成像;選區(qū)光闌是在物品的像平面位置,方便分析樣品上的一個微小區(qū)域??偠灾?,在照相暴光期間樣品圖像漂移量應相應情況下的顯微鏡的分辨率。首先必須使樣品臺牢固地夾持在樣品座中并保持良好的熱;在2個相互垂直方向上樣品平移最大值為177。透射電鏡的樣品臺是放置在物鏡的上下極靴之間,由于這里的空間很小,所以透射電鏡的樣品臺很小,通常是直徑3mm的薄片。樣品臺的結構與功能如何?它應滿足哪些要求?答:結構:有許多網(wǎng)孔,外徑3mm的樣品銅網(wǎng)。答:如果把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合,則在熒光屏上得到一幅放大像,這就是電子顯微鏡中的成像操作,如圖(a)所示。(3)投影鏡:和物鏡一樣,是一個短焦距的強激磁透鏡。(1)物鏡:物鏡是一個強激磁短焦距的透鏡,它的放大倍數(shù)較高,分辨率高。要求:入射電子束波長單一,色差小,束斑小而均勻,像差小。照明系統(tǒng)的作用是什么?它應滿足什么要求?答:照明系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡和相應的平移對中、傾斜調節(jié)裝置組成。真空系統(tǒng)是為了保證光學系統(tǒng)時為真空,防止樣品在觀察時遭到污染,使觀察像清晰準確。(2)電子光學系統(tǒng)是透射電鏡的核心,為電鏡提供射線源,保證成像和完成觀察記錄任務。(3)當分辨率極高時,景深和焦長都變小。當放大倍數(shù)一定時,孔徑半角越小焦長越長。焦長為DL=2Δr0αM2/,M為透鏡放大倍數(shù)。電磁透鏡景深和焦長主要受哪些因素影響?說明電磁透鏡的景深大、焦長長,是什么因素影響的結果?假設電磁透鏡沒有像差,也沒有衍射埃利斑,即分辨率極高,此時它們的景深和焦長如何?答:(1)電磁透鏡景深為Df=2Δr0/tanα,受透鏡分辨率和孔徑半角的影響。(2)使波長減小,可降低衍射效應。穩(wěn)定加速電壓和透鏡電流可減小色差。(2)像散是由于電磁透鏡的軸向磁場不對稱旋轉引起。電磁透鏡的像差是怎樣產(chǎn)生的?如何來消除和減少像差?答:電磁透鏡的像差包括球差、像散和色差。答:電磁透鏡的聚焦原理: 利用通電短線圈制造軸對稱不均勻分布磁場,是進入磁場的平行電子束做圓錐螺旋近軸運動。(2)可見光的波長在390—760nm,在常用加速電壓下,電子波的波長比可見光小5個數(shù)量級。能產(chǎn)生衍射的晶面與試樣的自由表面平行。角,則計數(shù)管與入射線所成角度為多少?能產(chǎn)生衍射的晶面,與試樣的自由表面呈何種幾何關系?答:當試樣表面與入射X射線束成30176。(3)試樣吸收:衍射儀法吸收時間短,德拜法吸收時間長,約為10~20h。不同:衍射儀法:采用一定發(fā)散度的入射線,且聚焦半徑隨2θ變化;德拜法:通過進光管限制入射線的發(fā)散度。產(chǎn)生衍射線必須符合布拉格方程,2dsinθ=λ,對于背射區(qū)屬于2θ高角度區(qū),根據(jù)d=λ/2sinθ, θ越大,d越小。第四章 多晶體分析方法同一粉末相上背射區(qū)線條與透射區(qū)線條比較起來其θ較高還是較低?相應的d較大還是較?。考热欢嗑Х勰┑木w取向是混亂的,為何有此必然的規(guī)律。 I3=。頭4 根線的θ值如下: 答:多晶體衍射的積分強度表示晶體結構與實驗條件對衍射強度影響的總和 I = I0 λ3 32πR( e2 mc2 )2 V VC2 P|F|2φ(θ)A(θ)e?2M即:查附錄表F (p314),可知: Ir = P F 2 1+COS2θ sin2θcos θ = ; Ir = P F 2 1+COS2θ sin2 θcos θ = ; Ir = P F 2 1+COS2θ sin2θcos θ = ; = P F 2 1+COS2θ sin2 θcos θ = 不考慮A(θ) )、 e?2M 、 P 和|F|2 I1=100。(2)其{100}的多重性因子是6;(3)如該晶體轉變?yōu)樗姆骄刀嘀匦砸蜃邮?;(4)這個晶面族的多重性因子會隨對稱性不同