材料分析方法部分課后習(xí)題答案(參考版)
2025-07-01 09:53本頁面
【正文】 。你必須努力，當(dāng)有一天驀然回首時，你的回憶里才會多一些色彩斑斕，少一些蒼白無力。4. 歲月是無情的，假如你丟給它的是一片空白，它還給你的也是一片空白。既糾結(jié)了自己，又打擾了別人。用一些事情，總會看清一些人。2. 若不是心寬似海，哪有人生風(fēng)平浪靜。具體的操作分析方法是：通常采用定點分析，也可采用線掃描方式。要分析鋼中碳化物成分和基體中碳含量，應(yīng)選用哪種電子探針儀？為什么？答：對碳元素（6號元素）能譜儀分析儀誤差大，應(yīng)用波譜儀；能譜儀分析輕元素檢測困難且精度低，波譜儀可分析原子序數(shù)從4到92間的所有元素。3）結(jié)構(gòu)簡單，穩(wěn)定性和重現(xiàn)性都很好；4）不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。波譜儀和能譜儀各有什么優(yōu)缺點？答：（1）波譜儀是用來檢測X射線的特征波長的儀器，而能譜儀是用來檢測X射線的特征能量的儀器 。第十五章 電子探針顯微分析電子探針儀與掃描電鏡有何異同？電子探針如何與掃描電鏡和透射電鏡配合進行組織結(jié)構(gòu)與微區(qū)化學(xué)成分的同位分析？答：二者結(jié)構(gòu)上大體相同，但是探測器不同，電子探針檢測儀根據(jù)檢測方式有能譜儀和波譜儀，掃描電鏡探測器主要是光電倍增管，對電子和背散射電子。掃描電鏡的成像原理與透射電鏡有何不同？答：不用電磁透鏡放大成像，而是以類似電視攝影顯像的方式，利用細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出來的物理信號來調(diào)質(zhì)成像的。不同信號成像時，其作用體不同，二次電子分辨率最高，其最用的體積最小。它適合做表面分析。5)特征X射線: 用特征值進行成分分析，來自樣品較深的區(qū)域 。吸收電子能產(chǎn)生原子序數(shù)襯度，即可用來進行定性的微區(qū)成分分析。3)吸收電子:其襯度恰好和SE或BE信號調(diào)制圖像襯度相反。要觀察鋼中基體和析出相的組織形態(tài)，同時要分析其晶體結(jié)構(gòu)和共格界面的位向關(guān)系，如何制備樣品？以怎樣的電鏡操作方式和步驟來進行具體分析？答：把析出相作為第二相來對待，把第二相萃取出來進行觀察，分析晶體結(jié)構(gòu)和位向關(guān)系；利用電子衍射來分析，用選區(qū)光闌套住基體和析出相進行衍射，獲得包括基體和析出相的衍射花樣進行分析，確定其晶體結(jié)構(gòu)及位向關(guān)系。 3）層錯的明場像，外側(cè)條紋襯度相對于中心對稱，當(dāng)時，明場像外側(cè)條紋為亮襯度，當(dāng)時，外側(cè)條紋是暗的；而暗場像外側(cè)條紋相對于中心不對稱，外側(cè)條紋一亮一暗。其一般特征是： 1）平行于薄膜表面的層錯襯度特征為，在衍襯像中有層錯區(qū)域和無層錯區(qū)域?qū)⒊霈F(xiàn)不同的亮度，層錯區(qū)域?qū)@示為均勻的亮區(qū)或暗區(qū)。答：（1）孿晶的襯度特征是：孿晶的襯度是平直的，有時存在臺階，且晶界兩側(cè)的晶粒通常顯示不同的襯度，在傾斜的晶界上可以觀察到等厚條紋。（2）影響因素：晶體特征，成像透鏡的參數(shù)。質(zhì)厚襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在的原子序數(shù)或厚度的差異而形成的。雙噴減薄：1）不易于腐蝕的裂紋端試樣；2）非粉末冶金樣式；3）組織中各相電解性能相差不大的材料；4）不易于脆斷、不能清洗的試樣。工藝為：（1）；（2）樣品薄皮的預(yù)先減薄，有機械法和化學(xué)法兩種；（3）最終減薄。答：單晶衍射斑是零層倒易點陣截面上的斑點，是有規(guī)律的斑點；多晶衍射斑是由多個晶面在同一晶面族上構(gòu)成的斑點，構(gòu)成很多同心圓，每個同心圓代表一個晶帶；非晶衍射不產(chǎn)生衍射斑，只有電子束穿過的斑點。又由g*=R* HK，2sinθ1/λ=g*，2sinθ1/λ=1/d，2dsinθ=λ，證畢。當(dāng)上述條件滿足時，矢量（K K0）就是倒點陣原點O至倒結(jié)點P（HKL）的聯(lián)結(jié)矢量OP，即倒格失R* K0=R* HKL得到了滿足。然后用與矢量K0相同的比例尺作倒點陣。用愛瓦爾德圖解法證明布拉格定律。（4）原子對電子的散射能力遠高于它對X射線的散射能力（約高出四個數(shù)量級）倒易點陣與正點陣之間關(guān)系如何？倒易點陣與晶體的電子衍射斑點之間有何對應(yīng)關(guān)系？答：倒易點陣是在正點陣的基礎(chǔ)上三個坐標軸各自旋轉(zhuǎn)90度而得到的。但電子波作為物質(zhì)波，又有其自身的特點：（1）電子波的波長比X射線短得多，通常低兩個數(shù)量級；（2）在進行電子衍射操作時采用薄晶樣品，薄樣品的倒易點陣會沿著樣品厚度方向延伸成桿狀，因此，增加了倒易點陣和愛瓦爾德球相交截的機會，結(jié)果使略微偏離布拉格條件的電子束也可發(fā)生衍射。所以，晶格分辨率更高。點分辨率和晶格分辨率有何不同？同一電鏡的這兩種分辨率哪個高？為什么？答：（1）點分辨率像是實際形貌顆粒，晶格分辨率測定所使用的晶格條
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