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統(tǒng)計(jì)假設(shè)檢驗(yàn)原理及其在測(cè)量中的應(yīng)用畢業(yè)論文-文庫(kù)吧資料

2025-06-30 05:05本頁(yè)面
  

【正文】 假設(shè):在H0成立情況下,t分布的統(tǒng)計(jì)量為自由度 拒絕域例如:如左圖所示,A,B為已知高程點(diǎn),P1,P2為待定點(diǎn),1988年進(jìn)行第一次觀(guān)測(cè),采取間接平差法,選取P1,P2點(diǎn)的高程為參數(shù),平差結(jié)果如下 1992年采用與第一次同樣的觀(guān)測(cè)方法和平差方法,對(duì)該網(wǎng)進(jìn)行第二次觀(guān)測(cè)、平差,平差后得如下有關(guān)結(jié)果 因?yàn)榫W(wǎng)形不變、觀(guān)測(cè)精度不變,因此誤差方程系數(shù)陣B和觀(guān)測(cè)值的權(quán)陣P也不變,故參數(shù)的協(xié)因數(shù)陣仍為試檢驗(yàn)兩次所得的同一點(diǎn)的平差高程參數(shù)有無(wú)顯著的差異。因此經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)得出C點(diǎn)發(fā)生了變動(dòng),其原有的高程點(diǎn)數(shù)據(jù)不能作為起算數(shù)據(jù),應(yīng)該將其當(dāng)多未知點(diǎn)處理。經(jīng)過(guò)實(shí)地踏勘,懷疑C點(diǎn)可能發(fā)生了移動(dòng),因此在平差時(shí)便將C點(diǎn)作為未知點(diǎn)處理,設(shè)P1,P2,C三點(diǎn)的坐標(biāo)為未知數(shù),經(jīng)過(guò)間接評(píng)差后得到如下結(jié)果: 試在α=。統(tǒng)計(jì)量為拒絕域?yàn)?t檢驗(yàn)法:當(dāng)未知時(shí),可采用μ檢驗(yàn)法。所以要檢核一般檢驗(yàn)平差后的某個(gè)參數(shù)與某個(gè)“一定的條件”的差異是否顯著,則可作原假設(shè)和備選假設(shè)為 如果一個(gè)平差問(wèn)題中有k個(gè)參數(shù)需要進(jìn)行上述檢驗(yàn), 即 ,,、平差參數(shù)顯著性檢驗(yàn)(以間接平差為例) 參數(shù)顯著性檢驗(yàn)常用的方法有μ檢驗(yàn)法、t檢驗(yàn)法等。數(shù)據(jù)探測(cè)法的原假設(shè)為,即觀(guān)測(cè)值不存在粗差,考慮,則采用u檢驗(yàn)法,統(tǒng)計(jì)量為如果,則否定H0,即,可能存在粗差。其誤差方程式為將和代入上式得到式子式中 由此可見(jiàn)R值取決于系數(shù)陣B和權(quán)陣P它與觀(guān)測(cè)值無(wú)關(guān)。當(dāng)在一個(gè)平差系統(tǒng)中只存在一個(gè)粗差,則可以采用荷蘭巴爾達(dá)教授在19671968年的著作中所提到的數(shù)據(jù)探測(cè)法。一般在實(shí)際作業(yè)中, 經(jīng)常會(huì)根據(jù)平差計(jì)算中觀(guān)側(cè)值改正數(shù)的大小進(jìn)行判斷來(lái)對(duì)觀(guān)側(cè)值粗差的檢驗(yàn)。服從正態(tài)分布的誤差,%,這是一個(gè)小概率事件,即因此,可取3為極限誤差。、單個(gè)系統(tǒng)參數(shù)的期望是否為零的檢驗(yàn) 統(tǒng)計(jì)量為拒絕域?yàn)橛^(guān)測(cè)方程中是否包含單個(gè)系統(tǒng)參數(shù)的檢驗(yàn) 統(tǒng)計(jì)量為拒絕域?yàn)槿绻陨蟽身?xiàng)檢驗(yàn)結(jié)果原假設(shè)H0都成立, 則沒(méi)有必要引進(jìn)該參數(shù)。經(jīng)過(guò)帶有系統(tǒng)參數(shù)的平差后求得, 相應(yīng)的多余觀(guān)測(cè)數(shù)是,與是非隨機(jī)獨(dú)立, 設(shè)或R=計(jì)算,R與隨機(jī)獨(dú)立,檢驗(yàn) 統(tǒng)計(jì)量為F=拒絕域是F引入系統(tǒng)參數(shù)后,根據(jù)平差的結(jié)果,判斷是否比原模型存在有顯著差異。用代替V作同樣檢驗(yàn),若H0不成立,則就表示要考慮引入, 但需要通過(guò)調(diào)整B Y 項(xiàng)來(lái)引入合適的系統(tǒng)參數(shù)。、模型合理性的檢驗(yàn)已知平差定權(quán)時(shí)先驗(yàn)方差為, 后驗(yàn)方差為, 多余觀(guān)測(cè)數(shù)f.則可作原假設(shè)和備擇假設(shè)是 用統(tǒng)計(jì)量檢驗(yàn): 拒絕域是 在引入系統(tǒng)參數(shù)后,經(jīng)過(guò)平差后所求得的殘差是V 而不是,當(dāng)經(jīng)過(guò)計(jì)算后用V判斷,如果原假設(shè)H O成立, 則可認(rèn)為引入系統(tǒng)參數(shù)是合理的。而在一些測(cè)量問(wèn)題中,則需要判斷其數(shù)據(jù)是否需要引入相應(yīng)的系統(tǒng)參數(shù),這就需要采用統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)的方法。在即測(cè)量數(shù)據(jù)中引入了系統(tǒng)參數(shù),而這些系統(tǒng)參數(shù)的引入,往往會(huì)改變了原來(lái)的平差模型,這就產(chǎn)生一個(gè)問(wèn)題:是否有必要引入系統(tǒng)誤差,如果應(yīng)該引入,但因?yàn)橛謺?huì)增加計(jì)算工作量,所以還需要考慮引入系統(tǒng)參數(shù)的合理性。解:閉合差,取顯著水平 正負(fù)號(hào)個(gè)數(shù)的檢驗(yàn) ,所以滿(mǎn)足式正負(fù)誤差分配順序的檢驗(yàn) ,所以滿(mǎn)足式 誤差數(shù)值和的檢驗(yàn) ,所以滿(mǎn)足最大誤差值的檢驗(yàn)本例中時(shí)一個(gè)絕對(duì)值最大的閉合差,如果以二倍中誤差為極限誤差,則閉合差超限;如果以三倍中誤差為極限誤差,則無(wú)閉合差超限。當(dāng)某一誤差的絕對(duì)值超過(guò)這一界限時(shí),可以把該誤差作為粗差處理掉,并把其對(duì)應(yīng)的觀(guān)測(cè)值剔除掉。當(dāng)n很大時(shí),可以用誤差的估值代替,則有、個(gè)別誤差值的檢驗(yàn)對(duì)于誤差服從的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布,%則有,根據(jù)偶然誤差的特性,誤差值超過(guò)某一界限的概率接近零。、誤差數(shù)值和的檢驗(yàn)現(xiàn)有一組誤差的和,根據(jù)偶然誤差的特性可知的值應(yīng)該為零?,F(xiàn)將一組誤差值按某一規(guī)則的順序排列,則為第i個(gè)與第i+1個(gè)誤差的正負(fù)號(hào)的 交替變換,當(dāng)相鄰兩個(gè)誤差的正負(fù)號(hào)相同時(shí),則與,正負(fù)號(hào)相反時(shí),則有。如果僅用上述方法檢驗(yàn),就難以發(fā)現(xiàn)是否存在著上述系統(tǒng)性的變化。若檢驗(yàn)結(jié)果,則表示服從二項(xiàng)分布的變量與之間沒(méi)有顯著差異:否則,就有理由懷疑原假設(shè)H0的正確性,即不能認(rèn)為誤差正負(fù)號(hào)出現(xiàn)的概率為(即誤差中可能存在系統(tǒng)誤差) 現(xiàn)設(shè)誤差正負(fù)號(hào)的個(gè)數(shù)為,將該式代入中得,此時(shí)聯(lián)立得,該式用正負(fù)號(hào)誤差個(gè)數(shù)之差進(jìn)行檢驗(yàn)的公式。、誤差正負(fù)號(hào)個(gè)數(shù)的統(tǒng)計(jì)假設(shè)檢驗(yàn)已知服從二項(xiàng)分布的變量其中當(dāng)為正時(shí),取,為負(fù)時(shí)。、對(duì)偶然誤差的假設(shè)檢驗(yàn)在測(cè)量中,因觀(guān)測(cè)誤差的隨機(jī)性,其觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)常常帶有偶然的因素,這會(huì)對(duì)觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)的正確性和精確性造成影響,為了提高觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)的精度,首先就應(yīng)該根據(jù)偶然誤差的特性來(lái)進(jìn)行假設(shè)檢驗(yàn)。統(tǒng)計(jì)假設(shè)檢驗(yàn)在數(shù)據(jù)處理上的應(yīng)用通過(guò)對(duì)測(cè)量?jī)x器常數(shù)等的假設(shè)檢驗(yàn),還不能認(rèn)為其觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)完全準(zhǔn)確還需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。查表得==,則,所以接受H0,即這兩臺(tái)測(cè)量?jī)x器的測(cè)量結(jié)果無(wú)顯著差異。b、根據(jù)式或計(jì)算可得,查表得,則有==,因?yàn)椤础?,所以接受原假設(shè)H0,即兩臺(tái)測(cè)量?jī)x器的方差相等?,F(xiàn)先定合適的顯著性水平定為 α=。檢驗(yàn)兩臺(tái)儀器的檢測(cè)質(zhì)量有無(wú)顯著差異 。、方差的單側(cè)檢驗(yàn)假設(shè)最大允許方差為,則可作原假設(shè),備擇假設(shè) 統(tǒng)計(jì)量為在合適的顯著性水平α下,原假設(shè) H0拒絕域?yàn)?、等方差檢驗(yàn)已知兩臺(tái)儀器的方差分別為 和 ,則可作原假設(shè)統(tǒng)計(jì)量為在合適的顯著性水平α下,原假設(shè)H0拒絕域?yàn)榛蚶纾含F(xiàn)在有兩臺(tái)測(cè)量?jī)x器 ,測(cè)得某一角值如表 1所示 。所以,在對(duì)測(cè)量?jī)x器精度進(jìn)行檢核時(shí)需要在等方差的情況下進(jìn)行。在實(shí)際工作中,一般都要求測(cè)量數(shù)據(jù)的分散程度在一定范圍之內(nèi) 。解: 由題意的 , 所以有其中自由度n1=11,顯著性水平,查t分布表得由于,所以接受原假設(shè)H0,即認(rèn)為在100m左右范圍內(nèi),視距常數(shù)正常。對(duì)儀器的視距常數(shù)懂得檢驗(yàn)可采用t檢驗(yàn)法。而在本礦區(qū)五個(gè)礦井近井點(diǎn)后視邊上測(cè)得的陀螺儀器常數(shù)均值為, 試對(duì)本次所測(cè)常數(shù)進(jìn)行t 檢驗(yàn)。例如: 在某礦近井點(diǎn)后視邊上測(cè)得陀螺儀器常數(shù)六次的均值為。一般在檢驗(yàn)時(shí)采用服從t 分布的統(tǒng)計(jì)量。已知當(dāng)六次測(cè)定時(shí),儀器常數(shù)互差不超過(guò), 則取其平均值作為最或是值。首先在工作實(shí)踐中往往總是需要對(duì)測(cè)量?jī)x器的常數(shù)進(jìn)行檢驗(yàn)或?qū)膳_(tái)測(cè)量?jī)x器的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行檢驗(yàn), 以便確定它們的檢測(cè)的質(zhì)量是否有存在顯著差異。這對(duì)消除或減弱測(cè)量誤差提出了更高的要求。比如:原假設(shè)備選假設(shè),當(dāng)原假設(shè)為真(即接受原假設(shè)),當(dāng)數(shù)值落入拒絕域時(shí)的錯(cuò)誤為第一類(lèi)錯(cuò)誤,稱(chēng)之為棄真的錯(cuò)誤;當(dāng)備選假設(shè)為真(即接受備選假設(shè)),當(dāng)數(shù)值落入接受域時(shí)的錯(cuò)誤為第二類(lèi)錯(cuò)誤,稱(chēng)之為納偽的錯(cuò)誤。因此,在進(jìn)行統(tǒng)計(jì)假設(shè)檢驗(yàn)的時(shí)候總有做出錯(cuò)誤判斷的可能性。雖然這一不可能發(fā)生的小概率事件其發(fā)生率,但不可能認(rèn)為它不會(huì)發(fā)生只不過(guò)是發(fā)生的幾率很小。、F檢驗(yàn)法當(dāng)從兩個(gè)正態(tài)母體中各自抽取一組字樣是,容量分別為nn2。如果母體方差是已知的
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