材料分析測(cè)試技術(shù)課程試卷及答案-文庫(kù)吧資料
2024-11-04 14:14本頁(yè)面
【正文】 研究晶體對(duì) X 射線的衍射規(guī)律，由此可以通過(guò) X 射線衍射研究晶體結(jié)構(gòu)與進(jìn)行物相分析等；X 射線光譜學(xué)研究特征 X 射線與物質(zhì)元素的關(guān)系，由此可以根據(jù)特征 X 射線分析樣品組成。 5. 背散射電子 —— 入射電子被樣品原子散射回來(lái)的部分；它包括彈性散射和非彈性散射部分；背散射電子的作用深度大，產(chǎn)額大小取決于樣品原子種類(lèi)和樣品形狀。 3. 景深與焦長(zhǎng) —— 在成一幅清晰像的前提下，像平面不變，景物沿光軸前后移動(dòng)的距離稱(chēng)“景深”；景物不動(dòng)，像平面沿光軸前后移動(dòng)的距離稱(chēng)“焦長(zhǎng)”。 四、 名詞解釋?zhuān)海?10 分 /每題 2 分） 1. 形狀因子 —— 由于晶體形狀引起的衍射強(qiáng)度分布變化，又稱(chēng)干涉函數(shù)。 7. 運(yùn)動(dòng)學(xué)理論的兩個(gè)基本 假設(shè)是 雙束近似 和 柱體近似 。45186。 5. 衍射儀的核心是測(cè)角儀圓，它由 輻射源 、 試樣臺(tái) 和 探測(cè)器 共同組成 測(cè)角儀 。對(duì)于有序固溶體，原本消光的地方會(huì)出現(xiàn) 弱衍射 。 2. 當(dāng) X 射線 管電壓低于臨界電壓僅 可以產(chǎn)生 連續(xù)譜 X 射線 ；當(dāng) X 射線 管電壓超過(guò)臨界電壓就可以產(chǎn)生 連續(xù)譜 X 射線 和 特征譜 X 射線 。（ √ ） 8. 掃描電子顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決于質(zhì)厚襯度和衍射襯度。（ √ ） 6. 電子衍射和 X 射線衍射一樣必須嚴(yán)格符合布拉格方程。（ ） 4. X 射線物相定性分析可以告訴我們被測(cè)材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有什么成 分。（ √ ） 2. 倒易矢量能唯一地代表對(duì)應(yīng)的正空間晶面。 A. 背散射電子； B. 二次電子； C. 吸收電子； 。 A. 明場(chǎng)像； B. 暗場(chǎng)像； C. 中心暗場(chǎng)像； 。 A. 六方結(jié)構(gòu)； B. 立方結(jié)構(gòu)； C. 四方結(jié)構(gòu)； D. A 或 B。 A. 第二聚光鏡光欄 ； B. 物鏡
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