《材料分析測(cè)試技術(shù)》課程試卷及答案-全文預(yù)覽
【正文】 （ 10 分 /每題 2 分） 1. 形狀因子 —— 由于晶體形狀引起的衍射強(qiáng)度分布變化，又稱干涉函數(shù)。45186。對(duì)于有序固溶體，原本消光的地方會(huì)出現(xiàn) 弱衍射 。（ √ ） 8. 掃描電子顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決于質(zhì)厚襯度和衍射襯度。（ ） 4. X 射線物相定性分析可以告訴我們被測(cè)材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有什么成 分。 A. 背散射電子； B. 二次電子； C. 吸收電子； 。 A. 六方結(jié)構(gòu)； B. 立方結(jié)構(gòu)； C. 四方結(jié)構(gòu)； D. A 或 B。 A. 外標(biāo)法； B. 內(nèi)標(biāo)法； C. 直接比較法； D. K 值法。 A. 三條； B .四條； C. 五條； D. 六條。 A. 光電子； B. 二次熒光； C. 俄歇電子； D. （ A+C） 2. 有一體心立方晶體的晶格常數(shù)是 ，用鐵靶 Kα （ λ Kα =） 照射該晶體能產(chǎn)生（ B ）衍射線。 4. .測(cè)定鋼中的奧氏體含量，若采用定量 X 射線物相分析，常用方法是（ C ）。 6. 如果單晶體衍射花樣是正六邊形，那么晶體結(jié)構(gòu)是（ D ）。 8. 僅僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號(hào)是（ B ）。（ √ ） 3. 大直徑德拜相機(jī)可以提高衍射線接受分辨率，縮短暴光時(shí)間。（ ） 7. 實(shí)際電鏡樣品的厚度很小時(shí)，能近似滿足衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)理論的條件 ,這時(shí)運(yùn)動(dòng)學(xué)理論能很好地解釋襯度像。 3. 結(jié)構(gòu)振幅用 F 表示，結(jié)構(gòu)因素用 2F 表示，結(jié)構(gòu)因素 =0 時(shí)沒有衍射我們稱 結(jié)構(gòu)消光 或 系統(tǒng)消光 。 6. X 射線測(cè)定應(yīng)力常用儀器有 應(yīng)力儀 和 衍射儀 ，常用方法有 Sin2Ψ 法 和 0186。 8. 電子探針包括 波譜儀 和 能譜儀 兩種儀器。 4. 應(yīng)變場(chǎng)襯度 —— 由于應(yīng)變導(dǎo)致樣品下表面衍射波振幅與強(qiáng)度改變，
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