材料分析測(cè)試技術(shù)課程試卷及答案(更新版)
【正文】 86。（ √ ） 8. 掃描電子顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決于質(zhì)厚襯度和衍射襯度。 A. 背散射電子； B. 二次電子； C. 吸收電子； 。 A. 外標(biāo)法； B. 內(nèi)標(biāo)法； C. 直接比較法； D. K 值法。 A. 光電子； B. 二次熒光； C. 俄歇電子； D. （ A+C） 2. 有一體心立方晶體的晶格常數(shù)是 ，用鐵靶 Kα （ λ Kα =） 照射該晶體能產(chǎn)生（ B ）衍射線。 6. 如果單晶體衍射花樣是正六邊形，那么晶體結(jié)構(gòu)是（ D ）。（ √ ） 3. 大直徑德拜相機(jī)可以提高衍射線接受分辨率，縮短暴光時(shí)間。 3. 結(jié)構(gòu)振幅用 F 表示，結(jié)構(gòu)因素用 2F 表示，結(jié)構(gòu)因素 =0 時(shí)沒(méi)有衍射我們稱(chēng) 結(jié)構(gòu)消光 或 系統(tǒng)消光 。 8. 電子探針包括 波譜儀 和 能譜儀 兩種儀器。 2. 圖題為某樣品德拜相（示意圖），攝照時(shí)未經(jīng)濾波。背散射電子的產(chǎn)生范圍深，由于背散射電子的產(chǎn)額隨原子序數(shù)的增加而增加，所以，利用背散射電子作為 成像信號(hào)不僅能分析形貌特征，也可用來(lái)顯示原子序數(shù)襯度，定性地進(jìn)行成分分析。若在樣品和地之間接入一個(gè)高靈敏度的電流表，就可以測(cè)得樣品對(duì)地的信號(hào)。如果用 X 射線探測(cè)器測(cè)到了樣品 微區(qū)中存在某一特征波長(zhǎng)，就可以判定該微區(qū)中存在的相應(yīng)元素。（詳細(xì)寫(xiě)出標(biāo)定步驟和注意事 項(xiàng)，不作具體標(biāo)定） 解： 1）各選一個(gè)約化四邊形，確定 R1， R2， φ 角； 2）測(cè)量確定 R1， R2， φ 角數(shù)值； 3）分別查 bcc 和 fcc 表，找到對(duì)應(yīng)的 {H1K1L1}{H2K2L2}； 4）根據(jù) φ 角數(shù)值與 {H1 K1L1}{H2 K2L2}計(jì)算的 φ 角對(duì)照，吻合后即可確定（ h1k1l1）（ h2k2l2）； 5）根據(jù)（ h1k1l1） （ h2k2l2） =[UVW]求得晶帶軸指數(shù)
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