通用電子元件進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)[詳]-文庫(kù)吧資料
2025-04-14 05:32本頁(yè)面
【正文】 率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。測(cè)試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢 測(cè) 方 法 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體, 再接通電源開(kāi)機(jī)。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA，難以辨認(rèn)不可接受；，不可接受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可接受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。5. 參考文件《數(shù)字頻率計(jì)操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA 正確,任何有誤,均不可接受。主要缺點(diǎn)(MA): 。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀量測(cè)（三） 晶體類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類(lèi)物料之依據(jù)。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取5~10PCS在 小錫爐上驗(yàn) 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA，難以辨認(rèn)不可接受；、脫落，不可接受；，破損等不可接受；，均不可接受。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA 都正確,任何有誤,均不可接受。次要缺點(diǎn)(MI): 。（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0。2. 適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。檢驗(yàn)方法見(jiàn)＂LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指引＂和＂數(shù)字萬(wàn)用表操作指 引＂。 注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。 注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA,若不同不可接受；實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。5. 參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬(wàn)用表操作指引》檢驗(yàn)
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