led芯片進(jìn)料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)[詳-文庫吧資料
2025-07-20 16:55本頁面
【正文】 標(biāo)準(zhǔn)：標(biāo)簽波長177。且平均值在標(biāo)簽范圍內(nèi)；無裸晶測試儀/積分球/IS機(jī)CR檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及標(biāo)準(zhǔn)不良圖示及說明抽樣水準(zhǔn)檢驗(yàn)方法、工具缺陷反向電流；未校正的廠商芯片每批進(jìn)料抽10PCS測試，測試條件和判定按規(guī)格書標(biāo)準(zhǔn)。允收標(biāo)準(zhǔn)：DVF無裸晶測試儀CR閘流體，未校正的廠商芯片暫無法測試允收標(biāo)準(zhǔn)：電流5mA時(shí)3V檔芯片VFD29V檔芯片VFD218V檔芯片VFD2無裸晶測試儀CR正向電壓；未校正的廠商芯片每批進(jìn)料抽10PCS測試。10張藍(lán)膜/批顯微鏡*20MA電極刮花芯片表面的電極區(qū)域有刮傷的痕跡允收標(biāo)準(zhǔn)：電極區(qū)：芯片任一電極刮傷面積＜該電極面積的1/5非電極區(qū)：非電極區(qū)刮傷面積＜該芯片面積的1/4且不可損傷到PN結(jié)。，承認(rèn)書和環(huán)保資料齊全，才可進(jìn)行下一步，否則拒絕檢驗(yàn)。4. 權(quán)責(zé) 品保部：品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的建立、修改、執(zhí)行及相關(guān)品質(zhì)記錄。MA：成品質(zhì)量有明顯性或潛在性的影響而不能正常使用。避免不合格原材料流入產(chǎn)線，提高生產(chǎn)良率。.. . . ..修訂記錄日期版次修訂條款修訂內(nèi)容簡述修訂人備注
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