疲勞與斷裂第二章應(yīng)力疲勞(1)-文庫吧資料
2024-10-22 19:20本頁面
【正文】 it is necessary to reduce the plex history into a number of events which can be pared to the available constant amplitude test data. This process of reducing a plex load history into a number of constant amplitude events is termed cycle counting. 為預(yù)測承受變幅載荷歷程構(gòu)件的壽命，需要將復(fù)雜歷程簡化為一些與可用恒幅試驗(yàn)數(shù)據(jù)相比的事件。 變程 ： 相鄰峰、谷點(diǎn)載荷值之差。一是沒有考慮次序影響，某應(yīng)力循環(huán)引起的損傷與該循環(huán)在載荷歷程中的位置無關(guān)；二是線性損傷理論與載荷幅度無關(guān)，后者與實(shí)驗(yàn)觀察并不相符。 典型應(yīng)力譜 (Si, ni) 判據(jù) ?D=1 SN曲線 Ni=C/Sm Di=ni /Ni D=?ni /Ni 壽命 ?=1/D 2) 已知應(yīng)力譜型和壽命，估計(jì)可用應(yīng)力水平。 14 解：由 Miner理論有： NA?(n/N)A=1 得到 ： NA=1/= 例 4 已知某構(gòu)件使用一年的損傷為 ?(n/N)B=， 實(shí)際使用壽命為 6年，現(xiàn)改型設(shè)計(jì)，應(yīng)力水平 減輕后，一年的損傷和為 ?(n/N)A=, 試用估 計(jì)其壽命。 N n N QA i i A A( )? =待求的另一相似構(gòu)件 在 A譜下的壽命為 NA，又有： 13 使用條件 ： ，主要是疲勞破壞發(fā)生的高應(yīng)力區(qū) 幾何相似； ，主要是載荷譜型（次序）相似， 載荷大小可以不同。事實(shí)上應(yīng)為： =Q Q與載荷譜型、作用次序及材料分散性有關(guān)。 設(shè)構(gòu)件壽命為 ?年，則總損傷應(yīng)當(dāng)是 D=??(ni/Ni)。 再取 S=150MPa, 算得： D=1, 可達(dá)設(shè)計(jì)壽命。 由 SN曲線得到 Ni, 計(jì)算損傷 Di，列入表中。試估計(jì)最大可用應(yīng)力水平 S。 若 D1，則應(yīng)降低應(yīng)力水平或縮短使用壽命。 已知一典型周期內(nèi)的應(yīng)力塊譜，估算使用壽命。 若構(gòu)件在 k個應(yīng)力水平 Si作用下，各經(jīng)受 ni次循環(huán)，總損傷為： ( i=1,2,...k ) D D n N i k i i = = ? ?1 Miner 線性 累積損傷理論 的 破壞準(zhǔn)則為： D n N i i = = ? 1 8 A 0 1 D n N2 N1 B D1 D2 n1 n2 線性 累積損傷理論與 載荷的作用次序無關(guān)。 疲勞破壞判據(jù)為： D=1 Di=ni /Ni 7 Miner累積損傷理論是線性的 ； 損傷和 D與載荷 Si的作用次序無關(guān)。 設(shè)計(jì)壽命期內(nèi)的載荷總譜 。 總譜是典型塊的重復(fù) 。然而事實(shí)上，大多數(shù)使用載荷歷程具有可變的幅度且可能相當(dāng)復(fù)雜。一般地說，疲勞缺口系數(shù) Kf 小于理論彈性應(yīng)力集中系數(shù) Kt 。1 第二章 應(yīng)力疲勞 SN曲線 平均應(yīng)力的影響 影響疲勞性能的若干因素 缺口疲勞 變幅載荷譜下的疲勞壽命 隨機(jī)譜與循環(huán)計(jì)數(shù)法 返回主目錄 2 缺口疲勞 (notch effect) 實(shí)際零構(gòu)件 缺口 應(yīng)力集中 疲勞性能下降。 Almost all machine ponents and structural m
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1