粒度分析原理與應用-文庫吧資料
2025-05-22 22:03本頁面
【正文】 . niDi3/ ?niDi3 =(Di?Gi/Ki)/ ? Di?Gi/Ki 可求重量 (體積 )分布 . 離心沉降法 對于細顆粒 ,為了加快其定向運動的速度從而避免布朗運動的干擾以及縮短測定時間 ,常采用大得多的離心力代替重力 .此時顆粒在離心力場中沿旋轉(zhuǎn)半徑的方向運動 ,稱為離心沉降法 .介質(zhì)都采用液體 ,其適用范圍約為 10~?是 ,即使轉(zhuǎn)速恒定 ,對于一定 D的顆粒 ,離心加速度以及離心沉降速度都與顆粒的離心半徑成正比 ,即在沉降過程中一直增加 .可計算出相應的計算粒度的公式為 D=[18?ln(r/s)/(?s?f)?2t]1/2 目前常用的離心沉降粒度分析設備大都采用鋪層增量消光法 .在離心盤轉(zhuǎn)動的情況下 ,注入一定量的純沉降介質(zhì) ,使它進入離心盤內(nèi) .然后正對軸心注入少量待測的懸浮液作為鋪層 .在恒定轉(zhuǎn)速下鋪層后 ,一細光束在某位置 r透過離心盤及其中的液體 ,立即記錄透過光強隨時間的變化 . 優(yōu)缺點：可測試粒徑 － 45μm 的超細 粉體 粒徑，缺點是測量速度慢，時間長，測量結(jié)果 易受環(huán)境溫度、操作手法等因素的影響，重復性不 是很好。 在光路中的顆粒大小是不同時 ,設光路中單位體積含有某顆粒直徑為 Di的顆粒 ni個，該顆粒的迎光截面積 ai=?iDi2， ?i是與 Di相關(guān)的迎光截面積形狀系數(shù)，其值與顆粒的形狀及其對光的取向有關(guān)。上式表明，相同強度的平行入射光束經(jīng)過長度為 l的均勻懸浮液光路后，因衰減達到的光強 I與空白光強（通過同樣長度沉降介質(zhì)連同槽壁后的光強）I0的關(guān)系。 設在時間 t，深度 h，測量出懸浮液的顆粒重量濃度或與之成正比的任何性質(zhì)，概以 C(h,t)表示；對于原均勻懸浮液，以 C0表示。對測量區(qū)無限薄的情況，由以上討論可見，測量區(qū)中已無大于 D(h,t)的顆粒；凡小于 D(h,t)的所有顆粒，其粒度分布和各自對濃度的貢獻與起始均勻懸浮液中是相同的。在某一定的深度 h以上的范圍內(nèi)，凡粒徑大于與此 h相對應的 D的顆粒都不復存在。因此一定時間 t后，上面有一層澄清介質(zhì)，其厚度為相當于最小粒徑 Dmin的深度hmin。 原來存在于從底部向上高度為 h3范圍內(nèi)的 D3顆粒，這時已完全沉積到底部。 就直徑為 D3顆粒而言，起始時處于任何位置的顆粒在時間 t后都應下降 h3這么長的距離。 均勻懸浮體增量法基本理論 考察以下含三種粒徑顆粒的均勻懸浮液作重力沉降，由開始經(jīng)時間 t后懸浮液中濃度分布的情況。如懸浮體密度與其介質(zhì)密度之差， X光濁度，相應薄層兩界面處的壓力差等。凡是測量懸浮體在 h處的某個量隨 h和時間 t的變化，都稱為增量法。采用鋪層，所有顆?？梢詫嶋H上視為從同一高度開始沉降。 鋪層方式與均勻懸浮體方式：沉降開始時，顆粒物質(zhì)若都集中于沉降介質(zhì)的頂部，均勻呈一薄層，稱為鋪層。 重力沉降法 求粒度分布，就是通過測量，根據(jù) Stokes公式計算出顆粒群的一系列粒度 D和與之相應的累計分數(shù) ?(D)或分布函數(shù) F(D)。這是一切重力沉降法計算粒度的基礎?？汕蟪?Stokes速度與球直徑的關(guān)系
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