粒度分析原理與應(yīng)用-在線瀏覽
2024-07-10 22:03本頁面
【正文】 顆粒投影像的某種線度 短軸徑（寬度） b 長軸徑（長度） l 定方向徑 Dy 沿一定方向夾顆粒投影像的兩條平行線之間的距離 .對一個顆粒 ,隨方向而異 ,可取其按所有方向的平均值 .但對于取向隨機的顆粒群 ,可沿一定方向 . 定方向等分徑 DM 沿一定方向?qū)㈩w粒投影像等分的線段的長度 .其它說明同上 . 周長徑 DL=L/? 顆粒某些線度的平均 二軸平均徑 （ b+l） /2 三軸平均徑 （ b+l+h） /3 名稱、符號與定義 意義 按顆粒投影像面積 正方形相當徑 a1/2 與顆粒投影像面積的正方形的邊長 圓形相當徑 Da=(4a/?)1/2 與顆粒投影像面積的圓的直徑 按表面積 外接長方體表面積相當徑[(bl+lh+hb)/3]1/2 與顆粒的外接長方體等表面積的立方體的邊長 表面積相當直徑 DS=(S/?) 與顆粒等表面積的球的直徑 ,S=?DS2 按體積 外接長方體體積相當徑 (blh)1/3 與顆粒的外接長方體等體積的立方體的邊長 柱狀體體積相當徑 (ah)1/3 與以顆粒的透影像為底 ,和顆粒同高的柱狀體等體積的立方體的邊長 立方體相當徑 (v)1/3 與顆粒等體積的立方體的邊長 體積相當直徑 DV=(6v/?)1/3 與顆粒等體積的球的直徑 V=?DV3/6 按顆粒的比表面 表面積體積相當直徑 Dsv=6v/s=6/Sv 與顆粒具有相同的表面積對體積之比即具有相同的體積比表面 Sv球的直徑 顆粒群粒度分布的圖形和函數(shù)表示 顆粒群是指含有許多顆粒的粉末或分散體系中的分散相。粒度分布范圍越窄，就說分布的分散程度越小，其集中度越高。在實際測量中，往往將連續(xù)的粒度分布范圍視為許多個離散的粒級，測出各粒級中的顆粒個數(shù)百分比或重量百分比 ??；或測出小于各 粒度的累積個數(shù)百分比或累積重量百分比?。列表法的特點是量化特征突出，但變化趨勢規(guī)律不直觀。目前，粉末粒度的測試方法主要有以下幾種測試方法： ； （ SEM或 TEM）； ； ； 原理：將被測樣品經(jīng)過不同大小 孔徑的篩網(wǎng)過篩，然后再稱重，結(jié)果 是質(zhì)量對應(yīng)篩網(wǎng)目數(shù)的分布。 優(yōu)缺點：篩分法是一種最簡便的 粒度測試方法，該方法簡單，但準確 性差，較費時，難于測量粘結(jié)的及團 聚的粉末顆粒。 優(yōu)缺點：直觀性強，是直接觀察顆粒形狀、大小的最好方法，同時也可判斷顆粒的分散程度；缺點是僅能檢查到比較少的顆粒，有時不能反映整個樣品的水平，不適用于質(zhì)量和生產(chǎn)控制等。顆粒尺寸 越大，散射角越小；顆粒尺寸越小，散射角越大?，F(xiàn)在先進的激光粒度儀的動態(tài)范圍可達 1∶1000 （動態(tài)范圍是指儀器同時能測量的最小顆粒與最大顆粒之比）。測量一個樣品一般只需 1～ 2ｍｉｎ。 (4)操作方便，不受環(huán)境溫度的影響。 主要缺點 :分辨率較低 ,不適于測量粒度分布范圍很窄的樣品。當 F=Wf時， du/dt=0，球體達到一恒定的最終沉降速度 ust， 又稱 Stokes速度。因此可以認為在
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