粒度分析原理與應(yīng)用(文件)
【正文】 。(5)不允許對(duì)設(shè)備有腐蝕作用 .最常用的介質(zhì)是蒸餾水 +甘油 .粒度較粗或密度較大時(shí) ,甘油比例一般為 40%60%之間 。 應(yīng)反復(fù)用蒸餾水或去離子水進(jìn)行清洗，直到洗凈為止！ 實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng) 取樣 :粒度分析是通過(guò)對(duì)少量樣品進(jìn)行粒度分布測(cè)定來(lái)表征大量粉體粒度分布狀態(tài)的 .因此 ,要求取樣具有充分的代表性 ,否則測(cè)試將沒(méi)有任何意義 . 沉降介質(zhì) :用做沉降介質(zhì)的液體一般要求為 (1)不與樣品發(fā)生物理和化學(xué)反應(yīng) 。 （ 2）均勻分散。在現(xiàn)在情況 ??ln(I0/I)/l=?niKi?iDi2 若令消光度 G ?log(I0/I) 定義各 ?Gij=G始 G1， G1G2， … ， GjGk， … ，則 ?Gij = GjGk==logIklogIj 將粒度 Dj?Dk的平均粒度 Di=(Dj+Dk)/2作為粒級(jí)中所有顆粒不同粒度的代表，此粒級(jí)對(duì)消光度的貢獻(xiàn) ?Gi= ?Gij = （ l/)niKi?iDi2 迎光截面積形狀系數(shù) ?I常可以假設(shè)與粒度 Di無(wú)關(guān) ,則 niDi2 ? ?Gi/Ki 故 niDi2/ ?niDi2 =(?Gi/Ki)/ ? ?Gi/Ki 由此可獲得表面積分布 . niDi3/ ?niDi3 =(Di?Gi/Ki)/ ? Di?Gi/Ki 可求重量 (體積 )分布 . 離心沉降法 對(duì)于細(xì)顆粒 ,為了加快其定向運(yùn)動(dòng)的速度從而避免布朗運(yùn)動(dòng)的干擾以及縮短測(cè)定時(shí)間 ,常采用大得多的離心力代替重力 .此時(shí)顆粒在離心力場(chǎng)中沿旋轉(zhuǎn)半徑的方向運(yùn)動(dòng) ,稱為離心沉降法 .介質(zhì)都采用液體 ,其適用范圍約為 10~?是 ,即使轉(zhuǎn)速恒定 ,對(duì)于一定 D的顆粒 ,離心加速度以及離心沉降速度都與顆粒的離心半徑成正比 ,即在沉降過(guò)程中一直增加 .可計(jì)算出相應(yīng)的計(jì)算粒度的公式為 D=[18?ln(r/s)/(?s?f)?2t]1/2 目前常用的離心沉降粒度分析設(shè)備大都采用鋪層增量消光法 .在離心盤轉(zhuǎn)動(dòng)的情況下 ,注入一定量的純沉降介質(zhì) ,使它進(jìn)入離心盤內(nèi) .然后正對(duì)軸心注入少量待測(cè)的懸浮液作為鋪層 .在恒定轉(zhuǎn)速下鋪層后 ,一細(xì)光束在某位置 r透過(guò)離心盤及其中的液體 ,立即記錄透過(guò)光強(qiáng)隨時(shí)間的變化 . 優(yōu)缺點(diǎn)：可測(cè)試粒徑 － 45μm 的超細(xì) 粉體 粒徑，缺點(diǎn)是測(cè)量速度慢，時(shí)間長(zhǎng)，測(cè)量結(jié)果 易受環(huán)境溫度、操作手法等因素的影響，重復(fù)性不 是很好。上式表明，相同強(qiáng)度的平行入射光束經(jīng)過(guò)長(zhǎng)度為 l的均勻懸浮液光路后，因衰減達(dá)到的光強(qiáng) I與空白光強(qiáng)（通過(guò)同樣長(zhǎng)度沉降介質(zhì)連同槽壁后的光強(qiáng)）I0的關(guān)系。對(duì)測(cè)量區(qū)無(wú)限薄的情況，由以上討論可見(jiàn)，測(cè)量區(qū)中已無(wú)大于 D(h,t)的顆粒；凡小于 D(h,t)的所有顆粒，其粒度分布和各自對(duì)濃度的貢獻(xiàn)與起始均勻懸浮液中是相同的。因此一定時(shí)間 t后，上面有一層澄清介質(zhì)，
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