光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡介-文庫吧資料
2025-05-21 16:30本頁面
【正文】 波段：紅外、可見光、紫外； 時(shí)間：連續(xù)光與脈沖光； 頻率：單色光和復(fù)合光； 相干性：相干光源與非相干光源； 發(fā)光機(jī)制：光致發(fā)光、電致發(fā)光、場致發(fā)光、化學(xué)發(fā)光等。 光學(xué)測(cè)試：用光學(xué)方法進(jìn)行精密測(cè)試。 光學(xué)測(cè)量 (對(duì)光學(xué)參數(shù)的測(cè)量 )：D(通光孔徑 )、 f(焦距 )、 2W(視場 )、 MTF(像質(zhì) )。Testing)：測(cè)量與試驗(yàn)的總稱，側(cè)重于技術(shù)方法。 檢驗(yàn) (Inspection)：產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)估技術(shù)。 二套四個(gè)概念 計(jì)量 (Metrology)：對(duì)物理量的標(biāo)定，傳遞與控制，重點(diǎn)是確保精度。第一講 背景簡介 光學(xué)測(cè)試?yán)碚撆c技術(shù) 推薦參考書： 蘇大圖編： 光學(xué)測(cè)試技術(shù) ，北京理工大學(xué)出版社， 2021年 楊國光
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