【摘要】多晶體分析方法?目的:掌握X-ray衍射最基本的實(shí)驗(yàn)方法和裝置。?要求:學(xué)習(xí)、掌握粉末法的試樣制備方法、照相法及衍射花樣指數(shù)化、X-ray衍射儀的結(jié)構(gòu)、計(jì)算測(cè)量方法、點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定、誤差的校正等。?重點(diǎn)、難點(diǎn):掌握粉末法的試樣制備方法、照相法及衍射花樣指數(shù)化、X-ray衍射儀的結(jié)構(gòu)、計(jì)算測(cè)量方法、點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定、誤差的校正。理解衍射儀的工作
2025-07-31 11:51
【摘要】1第四章多晶體衍射分析方法(XRD)【教學(xué)內(nèi)容】1.多晶體衍射分析方法的基本原理。2.多晶體研究方法——德拜法及德拜照片計(jì)算。3.多晶體研究方法——衍射儀結(jié)構(gòu)及工作原理,衍射圖的獲得與衍射線的線形分析。2【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】1.X射線衍射儀結(jié)構(gòu)與工作原理,包括衍射儀的構(gòu)造和幾何光學(xué)、
2025-05-05 07:20
【摘要】第四章多晶體的分析方法引言多晶體衍射的照相方法采用單色(標(biāo)識(shí))X射線作輻射源,被分析的試樣多數(shù)情況為很細(xì)(10-310-5厘米)的粉末,故稱(chēng)之為粉末法。具體如下:試樣:多晶粉末集合體、粉末園柱或其它多晶試樣;輻射:標(biāo)識(shí)譜(即特征譜);記錄:照相法。用長(zhǎng)條形底片,用德拜
2025-05-01 23:57
【摘要】多晶體X射線衍射分析方法德拜照相法?粉末多晶中不同的晶面族只要滿足衍射條件都將形成各自的反射圓錐。?如何記錄下這些衍射花樣呢?一種方法是用平板底片被X射線衍射線照射感光,從而記錄底片與反射圓錐的交線。如果將底片與入射束垂直放置,那么在底片上將得到一個(gè)個(gè)同心圓環(huán),這就是針孔照相法。?但是受底片大小的限制,一張底片不能記錄下所有的衍射
2024-12-11 10:06
【摘要】第四章多晶體分析方法粉末照相法X射線衍射儀衍射花樣標(biāo)定點(diǎn)陣常數(shù)精確測(cè)定4-1粉末照相法?多晶體粉末的衍射花樣可以用照相法和衍射儀法獲得。?照相法根據(jù)試樣和底片的相對(duì)位置不同可分為三種:–德拜-謝樂(lè)法(Debye-scherrermethod):底片位于相機(jī)圓筒內(nèi)表面,試樣位于中心軸上;–聚
2025-05-01 23:24
【摘要】第三章多晶體X射線衍射分析方法?內(nèi)容提要:?引言?第一節(jié)德拜照相法?第二節(jié)X射線衍射儀法引言?粉末法的衍射原理:?對(duì)于粉末(或多晶)試樣,當(dāng)一束X射線從任意方向照射到試樣上時(shí),總會(huì)有足夠多的晶面滿足布拉格方程。?在與入射線呈2θ角的方向上產(chǎn)生衍射,衍射
【摘要】晶體的極射赤面投影多晶體織構(gòu)分析?材料中晶粒取向趨于一定方向的聚集現(xiàn)象,稱(chēng)為擇優(yōu)取向或織構(gòu)。通過(guò)衍射強(qiáng)度的異?,F(xiàn)象來(lái)推斷多晶體擇優(yōu)取向分布形式和程度的大小。第九章電子光學(xué)基礎(chǔ)?目的:掌握電磁透鏡的特性。?要求:掌握電磁透鏡的特性。?重點(diǎn)、難點(diǎn):理解電子的波長(zhǎng),電磁透鏡的結(jié)構(gòu)。掌握電磁透鏡的分辨本領(lǐng)、像差、景深和焦長(zhǎng)。
2025-07-27 22:43
【摘要】1本章知識(shí)結(jié)構(gòu)金屬的變形特性晶體的塑性變形組織與性能的變化多晶體的塑性變形單晶體的塑性變形合金的塑性變形2?彈性變形材料受外力作用時(shí)產(chǎn)生變形,當(dāng)外力去除后恢復(fù)其原來(lái)形狀,這種隨外力消失而消失的變形,稱(chēng)為彈性變形。彈性變形的實(shí)質(zhì)是在應(yīng)力的作用下,材料內(nèi)部原子間距就偏離了平衡位置,
2025-05-07 22:06
【摘要】X射線多晶衍射分析技術(shù)福州大學(xué)測(cè)試中心黃清明Email:材料:你們最關(guān)心的是什么?性能:你認(rèn)為與哪些因素有關(guān)?結(jié)構(gòu):有哪些檢測(cè)分析技術(shù)?緒論第1章晶體學(xué)基礎(chǔ)?晶體特性?晶體的結(jié)構(gòu)與空間點(diǎn)陣?均勻性:晶體內(nèi)部各個(gè)部分的宏觀性質(zhì)是相同的。
2025-05-15 01:17
【摘要】第七章晶體薄膜衍射成像分析透射電子顯微鏡樣品制備?透射電子顯微鏡成像時(shí),電子束是透過(guò)樣品成像。由于電子束的穿透能力比較低,用于透射電子顯微鏡分析的樣品必須很薄。根據(jù)樣品的原子序數(shù)大小不同,一般在50~500nm之間。制備透射電子顯微鏡分析樣品的方法很多,這里介紹幾種常用的制樣方法。?所謂復(fù)型,就是把樣品表面形貌復(fù)制出
2025-02-24 10:19
【摘要】chpt4Applicationofx-RaycrystallographyX射線衍射方法的應(yīng)用?X射線衍射揭示了晶體材料的晶胞類(lèi)型、大小和原子種類(lèi)與排列規(guī)律。因此,可以用來(lái)分析晶體結(jié)構(gòu)特征,進(jìn)行物相分析,測(cè)定單晶取向以及多晶體“織構(gòu)”,可以精確測(cè)定晶格常數(shù),可以表征材料中的應(yīng)力狀態(tài)。?Morethan85percento
2025-04-29 13:10
【摘要】第十一章成像分析多媒體制作:X.C.He南京工程學(xué)院材料教研室一、質(zhì)厚襯度和衍射襯度?像襯度:在熒光屏或照相底片上,眼睛能觀察到的光強(qiáng)度或感光度的差別。透射電鏡的像襯度來(lái)源于樣品對(duì)入射電子束的散射。?基本類(lèi)型:質(zhì)厚襯度、衍射襯度和相位襯度三種。1、非晶樣品質(zhì)厚襯度成像復(fù)型樣品
2024-08-16 10:36
【摘要】晶體結(jié)構(gòu)與X射線衍射YanLiangContents晶體學(xué)基礎(chǔ)1X射線的產(chǎn)生和性質(zhì)2晶體對(duì)X射線的衍射3X射線衍射儀的購(gòu)置1晶體學(xué)基礎(chǔ)什么是晶體空間點(diǎn)陣與晶胞基本性質(zhì)晶體學(xué)發(fā)展晶體晶體學(xué)基礎(chǔ)——什么是晶體?傳統(tǒng)概念:天然生長(zhǎng)的(非人為磨削的)、規(guī)則
2025-04-16 23:26
【摘要】§X射線多晶衍射法實(shí)驗(yàn)條件:單色的X射線、多晶樣品或粉末樣品?角要滿足布拉格方程2dh*k*l*sin?nh*nk*nl*=n?n=1,2,3?§X射線多晶衍射法常用方法有二種:照相法和衍射儀法1、照相法相機(jī)為金屬圓筒,直徑(內(nèi)徑)為,緊貼內(nèi)壁
2024-08-16 19:21
【摘要】第2節(jié)晶體的X射線衍射本節(jié)主要內(nèi)容:晶體衍射的基本方法晶體X射線衍射的幾種方法X射線衍射方程原子散射因子和幾何結(jié)構(gòu)因子晶體衍射的基本方法§晶體衍射eUh?max?eUch?min?eUhc?min?sJ106.6234????hsm103
2024-08-27 00:10