【正文】 9:PPK、 CPK、 CMK有何區(qū)別？ PPK CPK CMK 名稱 過程性能指數(shù) 過程能力指數(shù) 機(jī)器能力指數(shù) 值要求 》 1?67 》 1?33 》 1?67 長短期 短期能力指數(shù) 長期能力指數(shù) 短期能力指數(shù) 抽樣要求 隨機(jī)抽樣 隨機(jī)抽樣 連續(xù)抽樣》 50件 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制 THANK YOU! 158 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 B14： 若沿用試生產(chǎn)控制限樣本大小應(yīng)一樣。 B12： 遵循 PDCA循環(huán)。 B10： 生產(chǎn)控制圖先有控制限然后收集一組數(shù)據(jù)就分析是否受控。 B7： 計(jì)算工序能力指數(shù)： 對于均值極差圖、均值標(biāo)準(zhǔn)差圖要求： CPK》 1?33 B8： 若指數(shù)不滿足要求 進(jìn)行原因分析采取針對 4M1E的 措施、驗(yàn)證效果。 B5： 將數(shù)據(jù)點(diǎn)標(biāo)在控制圖上對控制圖進(jìn)行點(diǎn)分析有無異常 ， 若有圈出來并進(jìn)行原因分析采取針對 4M1E的措施 、 驗(yàn)證效果 。 B2： 根據(jù)計(jì)劃準(zhǔn)備空白控制圖發(fā)放給車間并填好相關(guān)欄目： 工廠、部門、工序、計(jì)算控制限的日期、工程規(guī)范、零件號、 機(jī)器編號 、 日期 、 特性 、 樣本容量 /頻率 、 零件名稱 B3： 對于均值極差圖將 UCL、 LCL三個(gè)虛線 、 兩個(gè)實(shí)線畫在控制圖上 。 A16： 試生產(chǎn)控制圖得到以下成果： 1： 消除 4M1E中影響工序穩(wěn)定的因素； 2：消除 4M1E中影響工序能力的因素； 3：為量產(chǎn)控制圖提供上下控制限 UCL、 LCL。 A14： 試生產(chǎn)控制圖稱為分析用控制圖。 A12： 一般試生產(chǎn)控制圖先收集完所有數(shù)據(jù)、計(jì)算、再分析 點(diǎn)線面是否受控。 A9： 計(jì)算工序能力指數(shù)： 對于均值極差圖、均值標(biāo)準(zhǔn)差圖要求： PPK》 1?67 A10： 若指數(shù)不滿足要求 進(jìn)行原因分析采取針對 4M1E的 措施、驗(yàn)證效果。 A7： 將數(shù)據(jù)點(diǎn)標(biāo)在控制圖上并連成線 。 A5： 計(jì)算均值 、 極差 、 均值極差 、 UCL、 LCL等數(shù)據(jù) 。 A2： 根據(jù)計(jì)劃準(zhǔn)備空白控制圖發(fā)放給車間并填好相關(guān)欄目： 工廠、部門、工序、計(jì)算控制限的日期、工程規(guī)范、零件號、 機(jī)器編號 、 日期 、 特性 、 樣本容量 /頻率 、 零件名稱 A3： 在試生產(chǎn)時(shí)根據(jù)樣本容量 /頻率抽樣并記錄在控制圖 “ 讀數(shù) ”欄 。 G： 質(zhì)量部門準(zhǔn)備空白控制圖并保存控制圖。 D： 試生產(chǎn)時(shí)質(zhì)量管理人員或技術(shù)人員描點(diǎn)、組織相關(guān)人員分析、 采取措施使工序受控且滿足工序能力要求如： PPK》 1?67。 B： 控制計(jì)劃編制小組在編制量產(chǎn)控制計(jì)劃時(shí)確定批量生產(chǎn) 要做控制圖的產(chǎn)品特性（一般來源于特殊特性和試生產(chǎn)）、 控制圖類型、樣本大小 /頻率。 5：何時(shí)做 SPC？ A： 小批量生產(chǎn)時(shí)； B： 批量生產(chǎn)時(shí)； C： 樣件階段不需做。 B： 產(chǎn)品特殊特性：尺寸。 3： 為什么要做 SPC？ 預(yù)防不合格的發(fā)生，而不是不合格的檢驗(yàn)。 常見問題解答 : 1：什么是 SPC？ A： 通過使用控制圖對可能造成產(chǎn)品不合格的工序因素： 4M1E： 人、機(jī)、料、法、環(huán)進(jìn)行分析、采取措施使 4M1E處于 受控狀態(tài)及滿足工序質(zhì)量能力要求，預(yù)防不合格的發(fā)生。 ? 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n ? 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量 (檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中?！?u”圖和“ c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個(gè)“單位產(chǎn)品”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用“ u”圖，并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用“ u”圖。 單位產(chǎn)品缺陷數(shù) u圖 ? “u”圖用來測量具有容量不同的樣本 (受檢材料的量不同 )的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。 ? 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格 (例如：在一個(gè)修理部記錄，每輛車或組件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格 )。 B計(jì)算控制限 )1()1(3)1(3.....21ppnppnpnLCLppnpnUCLkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk?????????????????過程控制解釋、過程能力解釋 ? C過程控制解釋：同 “p”圖的解釋。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量?！?np”圖的詳細(xì)說明與p圖很相似，不同之處如下： A收集數(shù)據(jù) ? 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。 p圖和 np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用 np圖 ? 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。但是還應(yīng)對繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。這個(gè)變化時(shí)期對系統(tǒng)操作會是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實(shí)效果。但是如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利于問題的解決 改善過程能力 過程穩(wěn)定，不良率維 持在一定的水平當(dāng)中 降低不良率 采取管理上的措施 降低偶因，如此才能 縮小控制界限，降低不良率 縮小控制限 繪制并分析修改后過程控制圖 ? 當(dāng)對過程采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來； 控制圖成為驗(yàn)證措施有效性的一種途徑。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。這些連續(xù)的受控的時(shí)期子組的 p值是該過程當(dāng)前能的更好的估計(jì)值。 ? 對于過程能力的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)。 Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率 B2計(jì)算上、下控制限 B3畫線并標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線計(jì)算平均不合格率及控制限 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計(jì)算控制界限 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 建立 p圖的步驟 C Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程能力 D2評價(jià)過程能力 D3改進(jìn)過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 計(jì)算過程能力 ? 對于 p圖，過程能力是通過過程平均不合率來表示，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值。 ? 當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計(jì)算是否正確?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 ? 子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。 P控制圖的制做流程 A收集數(shù)據(jù) B計(jì)算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 p圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 A4將不合格品率描繪在控制圖 A1子組容量、頻率、數(shù)量 ? 子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。 驗(yàn)收規(guī)范舉例 評述 ? 表面應(yīng)沒有斑點(diǎn) ? 在彩色紋理、光澤度和缺陷數(shù)幾方面，表面應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn) ? 為防止剝落而敷到鏡子背面的任何材料不應(yīng)引起鏡子背襯有可見的斑點(diǎn)。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時(shí)，可能會給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號 ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： ?式中， R為移動極差的均值， d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。由于這個(gè)原因，在解釋趨勢時(shí)要特別注意。 管制圖mRX ?mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422~????????全距管制圖值管制圖管制圖mRX ??B計(jì)算控制限 注：正常情況下，樣本 n=2此時(shí)E2= D4= D3=0 E D D3是用來計(jì)算移動極差分組 管制圖mRX ?? C過程控制解釋 ? 審查移動極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。 ? 由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到 100個(gè)以上。 ? 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。在這種情況下沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。 群體 平均值 =μ 標(biāo)準(zhǔn)差 =σ 對 σ的估計(jì) 1)(????242????????nxxcSdRSnninix????群體標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì) 管制圖sX ?? A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下： 554321 xxxxxx ?????1)( 2??? ?nxxs iSBLCLSBUCLSCLSAXLCLSAXUCLXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差管制圖平均值管制圖? B計(jì)算控制限 管制圖sX ? 上述公式中 A3,B3,B4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 過程績效指數(shù) Ppk Cpk和 Ppk差異 ? Cpk： 只考慮了組內(nèi)變異，而沒有考慮組間變異，所以一定是適用于制程穩(wěn)定時(shí)，其組間變異很小可以忽略時(shí)，不然會高估了制程能力；另句話也可以說明如果努力將組間變異降低時(shí)所能達(dá)到的程度。 1