spc-002(參考版)
2025-02-20 14:12本頁面
【正文】 p 一個(gè)可接受的過程必須是處于受統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)的且其固有變差（能力）必須小于圖紙的公差。 p 滿足不滿足顧客要求，是規(guī)格界限。p SPC，強(qiáng)調(diào)的是控制界限的要求。規(guī)格是用來區(qū)分產(chǎn)品合格與不合格的，而控制圖的控制界限是用來區(qū)分偶然波動(dòng)與異常波動(dòng)，即區(qū)分普通原因與特殊原因的。p 討論過程能力時(shí)，需考慮兩個(gè)在一定程度上相對(duì)的概念： 1. 過程能力由造成變差的普通原因來確定， 通常代表過程本身的最佳性能（例如分布寬度最小） ，在處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下的運(yùn)行過程，數(shù)據(jù)收集到后就能證明過程能力， 而不考慮規(guī)范相對(duì)于過程分布的位置和 /或?qū)挾鹊臓顩r如何； 2. 然而，內(nèi)外部的顧客更關(guān)注過程的輸出以及與他們的要求（定義為規(guī)范）的關(guān)系如何，而不考慮過程的變差如何。p 如果控制界限在規(guī)格界限內(nèi)則表明過程能力初步可以接受，控制界限可作為制程穩(wěn)定預(yù)警線，一旦發(fā)現(xiàn)有過程超出或超出跡象則表明過程出現(xiàn)異常須調(diào)查加以改善。p 一個(gè)對(duì)象是產(chǎn)品，一個(gè)對(duì)象是過程。p 無論什么樣的規(guī)格界限，在實(shí)際生產(chǎn)過程中，它都應(yīng)該有控制界限的要求。p 何謂控制界限：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體的量度，這種量度是從一群中各個(gè)單位產(chǎn)品所得的觀測值計(jì)算出來的。p 三種規(guī)格：雙邊規(guī)格、單邊上規(guī)格、單邊下規(guī)格。p 實(shí)踐證明， 3σ 方式是兩類錯(cuò)誤造成的總損失最小的控制界限， μ 為總體均值， σ 為總體標(biāo)準(zhǔn)差，此時(shí)犯第 Ⅰ 類錯(cuò)誤的概率或顯著性水平 α= 。若將間距增大，則 α 減小 β 增大，反之， α 增大 β 減小。αβp 控制圖是通過抽查來監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量的，故兩類錯(cuò)誤是不可避免的。在生產(chǎn)異常情況下，產(chǎn)品質(zhì)量的分布偏離了典型分布，但總有一部分產(chǎn)品的質(zhì)量特性值在上下控制界之內(nèi)。故當(dāng)生產(chǎn)正常而根據(jù)點(diǎn)子出界判斷生產(chǎn)異常就犯了虛發(fā)警報(bào)錯(cuò)誤，發(fā)生這種錯(cuò)誤的概率記為 α 。虛發(fā)警報(bào)錯(cuò)誤，也稱第 Ⅰ 類錯(cuò)誤。不合格品是%，是小概率事件；生產(chǎn)是最經(jīng)濟(jì)的；過程的偏差是最小的。這三者統(tǒng)稱為控制線。 成圖。 成圖。可用兩個(gè)參數(shù)即均值 μ 和標(biāo)準(zhǔn)差 σ 來決定。 3σ 的控制狀態(tài)。 正態(tài)分布的參數(shù) ? ?1 ?2 ?3 標(biāo)準(zhǔn)差相同、均數(shù)不同的正態(tài)分布曲線正態(tài)分布的參數(shù) σ均數(shù)相同、標(biāo)準(zhǔn)差不同的正態(tài)分布曲線正態(tài)曲線下面積的分布有一定規(guī)律整個(gè)面積為 1%%%μ +1σ +2σ +3σ1σ2σ3σ統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)及兩種錯(cuò)誤p 了解統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，是幫助我們分析實(shí)際參數(shù)與目標(biāo)值的接近程度。 σ 越小，曲線越陡峭；σ 越大，曲線越扁平。 p 均勻變動(dòng)性：正態(tài)曲線由均數(shù)所在處開始，分別向左右兩側(cè)逐漸均勻下降。p 集中性：正態(tài)曲線的高峰位于正中央，即均數(shù)所在的位置。 SPD 就是利用統(tǒng)計(jì)技術(shù)方法對(duì)過程的各個(gè)階段進(jìn)行監(jiān)控與診斷，從而達(dá)到縮短診斷時(shí)間，以便迅速采取解決措施，減少損失，降低成本保證產(chǎn)品質(zhì)量的目的。p 而生產(chǎn)現(xiàn)場迫切需要解決診斷的問題，否則即使想要糾正異常也無從下手，故現(xiàn)場和理論都迫切需要將 SPC發(fā)展為
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