x射線衍射儀原理(參考版)
2025-08-07 23:23本頁面
【正文】 ..。 單純的課本內(nèi)容，并不能滿足學生的需要，通過補充，達到內(nèi)容的完善 教育之通病是教用腦的人不用手，不教用手的人用腦，所以一無所能。但雙晶衍射儀的第二晶體最好與第一晶體是同種晶體，否則會發(fā)生色散。 在近完整晶體中，缺陷、畸變等體現(xiàn)在X射線譜中只有幾十弧秒，而半導體材料進行外延生長要求晶格失配要達到104或更小。雙晶衍射法：雙晶衍射儀用一束X射線（通常用Ka1作為射線源）照射一個參考晶體的表面，使符合布拉格條件的某一波長的X射線在很小角度范圍內(nèi)被反射，這樣便得到接近單色并受到偏振化的窄反射線，再用適當?shù)墓怅@作為限制，就得到近乎準值的X射線束。衍射儀采用具有一定發(fā)散度的入射線，也用“同一圓周上的同弧圓周角相等”的原理聚焦，不同的是其聚焦圓半徑隨 2θ的變化而變化。現(xiàn)代X射線衍射儀還配有控制操作和運行軟件的計算機系統(tǒng)。衍射儀法：X射線衍射儀以布拉格實驗裝置為原型，融合了機械與電子技術(shù)等多方面的成果。針孔法得到的衍射花樣是衍射線的整個圓環(huán)，適于研究晶粒大小、晶體完整性、宏觀殘余應力及多晶試樣中的擇優(yōu)取向等。 針孔法用三個針孔準直的單色X射線為光源，照射到平板樣品上。由于同一圓周上的同弧圓周角相等，使得多晶樣品中的等同晶面的衍射線在底片上聚焦成一點或一條線。此方法的優(yōu)點為：⑴ 所用試樣量少（）；⑵ 包含了試樣產(chǎn)生的全部反射線；⑶ 裝置和技術(shù)比較簡單。根據(jù)樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法和針孔法，其中德拜法應用最為普遍。多晶衍射法： 多晶X射線衍射方法包括照相法與衍射儀法。這樣的衍射花樣容易準確測定晶體的衍射方向和衍射強度，適用于未知晶體的結(jié)構(gòu)分析。勞埃法的衍射花樣由若干勞埃斑組成，每一個勞埃斑相應于晶面的1～n級反射，各勞埃斑的分布構(gòu)成一條晶帶曲線。根據(jù)底片位置的不同，勞埃法可以分為透射勞埃法和背射勞埃法。單晶衍射法：單晶X射線衍射分析的基本方法為勞埃法與周轉(zhuǎn)晶體法。所以X射線衍射法被認為是研究固體最有效的工具。在各種衍射實驗方法中，基本方法有單晶法、多晶法和雙晶法。 研究晶體材料，X射線衍射方法非常理想非常有效，而對于液體和非晶態(tài)物固體，這種方法也能提供許多基本的重要數(shù)據(jù)。由于步進掃描可以增加每個數(shù)據(jù)點的強度（不是某一時間的真實強度而是一段時間內(nèi)的累積強度），因而可以降低記數(shù)時的統(tǒng)計誤差，提高信噪比。從結(jié)果來看，實驗所需時間與兩個參數(shù)都有關(guān)。步進時間為1sec。掃描到80176。）分成若干步，在每一步停留若干秒（步進時間），并且將這若干秒內(nèi)記錄到的總光強度作為該數(shù)據(jù)點處的強度。 步進掃描：步進掃描方式是將掃描范圍按一定
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