【正文】 有了n和P0，抽樣設(shè)計(jì)就完成了。兩個(gè)式子相加（為使抽樣更可靠，計(jì)算σ的p統(tǒng)一取較大值P2）再整理可得 n (Z1α+Z1β)2P2(1P2)/(P2P1)2上式中αβ為設(shè)定值（，），P1為制程不良率現(xiàn)狀可以統(tǒng)計(jì)得到，P2為設(shè)定異常不可容忍的不良率由我們自己根椐成本等狀況設(shè)定。因?yàn)槭嵌鄻右闃佑?jì)算不良率，不良率P近似服從常態(tài)分配，其標(biāo)準(zhǔn)差σ=SQRT[P(1P)/n]。抽樣設(shè)計(jì)要滿足兩個(gè)目的：一是當(dāng)制程不良率等于P1時(shí)，抽樣誤報(bào)警的概率盡量小定義為α，二是當(dāng)制程不良率等于P2時(shí)，抽樣漏報(bào)警的概率盡量小定義為β。如圖示，當(dāng)制程不良率為P1時(shí)（如A分布）為使α對應(yīng)陰影面積小于α，則要求利用常態(tài)分布表查得的Z1α(P0P1)/ σ,同理還要求Z1β(P2P0)/ σ。而我們要設(shè)計(jì)的是抽樣量n和報(bào)警平均值C。R實(shí)做的常見問題S 要在八. Go/No Go測量分析 S 要在九. 破壞性測量分析S 要在第三章 抽樣技術(shù)一. 抽樣總述測量 偏性，線性，穩(wěn)定性，一致性，均一性二. 計(jì)量型抽樣如右圖，在設(shè)計(jì)抽樣時(shí)，我們先要統(tǒng)計(jì)得出產(chǎn)品特性的現(xiàn)狀σ平均值現(xiàn)狀Xbar,另外我們還要設(shè)置一個(gè)目標(biāo)不良率p或Cpk,還要知道特性規(guī)格值LSL和USL。R分析S 要在五. 計(jì)量型線性分析S 要在六. 計(jì)量型GRamp。R實(shí)做S 要在三. 計(jì)數(shù)型GRamp。再以中央極限定理可知，如果小組抽樣量(稱子組容量)為n, σst則=n2σc。3σ中的σ(暫用σc代表)與σst，σst代表制程加工產(chǎn)品的能力，代表單個(gè)產(chǎn)品特性值的分布，而σc代表單次多個(gè)抽樣特性值的平均值的分布。在實(shí)際工作運(yùn)用中我們不宜深究這個(gè)問題，因?yàn)閮烧哂?jì)算所得差異是很小的，我們真接用樣本標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算式就可以,而在書寫時(shí)也不加以區(qū)別地記為σ。如∣Ca∣1，Cpk與Ppk的取值為0到負(fù)無窮大，表平均值落在USL和LSL之外，有超出50%的產(chǎn)品特性超出規(guī)格。5. Cpk和Ppk的取值范圍及意義當(dāng)數(shù)據(jù)相對集中時(shí)，如∣Ca∣1, Cpk與Ppk的取值為0到正無窮大。而介紹Cpk計(jì)算時(shí)用的Rbar/d2與Sbar/C4只是σ=SQRT[Σ(XiXbar)**2/(n1)]的近似計(jì)算式,如此計(jì)算的好處是可以把組間變異排除（這是一個(gè)竅門）。C: 總的說來，Cpk與Ppk的區(qū)別在于是否包含組間變異。Ppk比Cpk多出來的差異是我們可通過管理改進(jìn)來縮小的，這個(gè)差異的理想值是0（這時(shí)Cpk=Ppk）。打個(gè)比方，張三做一套數(shù)學(xué)試卷，他會(huì)做其中85分的題，但因疲勞，疏忽等原因只做對了75分的題，我們說他Cpk對應(yīng)85分，而Ppk對應(yīng)75分B: Cpk對應(yīng)組內(nèi)變異，而Ppk包括組內(nèi)變異和組間變異。我們進(jìn)一步來澄清這個(gè)問題: A: Cpk名稱為制程能力指標(biāo)，代表短期內(nèi)制程能達(dá)到的能力，而Ppk名稱是制程績效指標(biāo)，代表長時(shí)間段制程總的結(jié)果。其實(shí)Cpk制程短期能力只對應(yīng)制程組內(nèi)變異，而Ppk制程長期績效對應(yīng)制程總變異(含組內(nèi)和組間的變異)。, Cpk=)另外一個(gè)問題，以上幾率估算是基于產(chǎn)品特性分布等于可近似常態(tài)分布的前提，如果產(chǎn)品特性分布不是常態(tài)分布，則可根據(jù)實(shí)際分布選擇所用表格（如指數(shù)分布或泊松分布）。要注意，右表根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表直接查出良率，而左表要求查出對應(yīng)概率P0后再計(jì)算良率P=2P01=12(1 P0),這是因?yàn)樽蟊碇瞥虩o偏移, 大于上限和小于下限的不良率同為(1 P0)，而右表因有制程偏移，我們只考慮單邊的不良。以下是常態(tài)分布時(shí)各制程能力對應(yīng)的良率（+/4σ的意義是公差T=4σ2，σ為制程產(chǎn)品計(jì)算所得）。如果要完全計(jì)算，則還要扣除max(Cpl,Cpu)對應(yīng)的不良率（1P(max(Cpl,Cpu))。只要計(jì)算出Cpk或Ppk，將這個(gè)值乘以3后得出Z值，再利用常態(tài)分布表查出Z對應(yīng)的分布概率即為被測量特性符合規(guī)格的幾率（產(chǎn)品良率也是據(jù)此來估算）規(guī)格通常分上下規(guī)格限，產(chǎn)品特性超規(guī)格也分大于上限和小于下限。T/2,） X1,X2,X3……X30利用算式計(jì)算 (n=30,Xi代表30測量值)以上是取常見的計(jì)算式，而且只要規(guī)格形如u177。 第二位箭手要改進(jìn)的是瞄準(zhǔn)的方法，或者是糾正一個(gè)習(xí)慣性的有同樣方向的錯(cuò)誤動(dòng)作來提升精確性Ca。以下是一個(gè)經(jīng)典實(shí)例（三個(gè)箭手的成績）我們進(jìn)行一場射箭比賽，第三組肯定是最好的分?jǐn)?shù)，而第一組和第二組分?jǐn)?shù)不分上下，如果我們要提升他們的成績運(yùn)用方法是不一樣的（又如我們要提升兩位高中生的學(xué)習(xí)成績，可能一個(gè)要補(bǔ)習(xí)英語，而另一個(gè)需要補(bǔ)習(xí)的是數(shù)學(xué)）。管制圖的使用與產(chǎn)品規(guī)格無關(guān)，但制程能力研究與規(guī)格是相關(guān)的?！敖M間變異要大”不是很有意義，它指抽樣無需太過頻繁，要結(jié)合特殊原因發(fā)生的概率來定義，例如成型制程異常的可能性是三個(gè)月一次，如果設(shè)計(jì)兩個(gè)小時(shí)一次就是浪費(fèi)（一天一次就夠了），就是要