【正文】 第 40頁(yè) 第 41頁(yè) 第 41頁(yè) 謝謝！ 感謝 全國(guó)無(wú)損檢測(cè)考委會(huì)領(lǐng)導(dǎo) 的信任！ 期待 有助于無(wú)損檢測(cè)同行 對(duì)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的管理！ 祝愿 無(wú)損檢測(cè)同行 順利通過(guò) 3級(jí)復(fù)證考試！ 謝常歡 深圳市特種設(shè)備安全檢驗(yàn)研究院 13380368736 075525928238 。 九、 CNAS CL14： 2022《 檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn) 則在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng) 用說(shuō)明 》 中， 電磁軛磁粉探傷機(jī) 的核查要求是 什么？ 答：電磁軛磁粉探傷機(jī)的 提升力 ，至少 每半年 應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的提升力重力 試塊進(jìn)行核查。 七、香 港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的 《 鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可準(zhǔn)則 增補(bǔ)第 15》 中，對(duì)永久磁鐵和電磁軛的核查要求是什么？ 答：對(duì)永久磁鐵和電磁軛， 每次檢測(cè)前 ，通過(guò)測(cè)量提升力或拉脫力檢查是 否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。 六、香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的 《 鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可準(zhǔn)則 增補(bǔ)第 15》 中，對(duì)黑光幅照計(jì)的校準(zhǔn)周期是多少？校準(zhǔn)要求是什么？ 答：作為 參考標(biāo)準(zhǔn) 使用的黑光幅照計(jì)， 校準(zhǔn)周期是： 1年 ；校準(zhǔn)要求是：送 有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) 。 磁粉檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部短路、電流載荷、通電時(shí)間，原則上每年進(jìn)行一次測(cè)定（核 查）；等等。 第 33頁(yè) 第 34頁(yè) 四、 JB/T4730 2022《 承 壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 》 中，射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、磁 粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)分別對(duì)檢測(cè)儀器設(shè)備的校驗(yàn)（核查）的要求都有哪些？ 答： 黑度計(jì)至少每 6個(gè)月校驗(yàn)（核查）一次，校驗(yàn)方法可參照 JB B的規(guī)定進(jìn) 行（采用標(biāo)準(zhǔn)黑度片（密度片）校驗(yàn)） ； X射線探傷機(jī)應(yīng)制作曝光曲線，曝光曲線每年至少應(yīng)校驗(yàn)（核查）一次； 每隔 3個(gè)月至少對(duì)超聲儀器的水平線性、垂直線性進(jìn)行測(cè)定（核查）； 超聲波探頭，使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離（入射點(diǎn)） 、 K值（折射角 β ） 、主聲束偏 離、靈敏度余量、分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定（核查）； 超聲檢測(cè)系統(tǒng) 斜探頭，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定（核查）前沿距離（入射點(diǎn)） 、 K值（折射 角 β ）與主聲束偏離核查； 超聲檢測(cè)系統(tǒng) 直探頭，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定（核查）始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨 力； 電磁軛的提升力，至少半年校驗(yàn)（核查）一次（提升力重力試塊 45N、 177N、 118N）； 磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流表，至少半年校驗(yàn)（核查）一次。 凡列入 《 中華人民共和國(guó) 強(qiáng)制檢定的工作計(jì)量器具明細(xì)目錄 》 的，并直接 用于 貿(mào)易結(jié)算、安全防護(hù)、醫(yī)療衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測(cè) 的檢測(cè)儀器設(shè)備必須嚴(yán)格 依法定點(diǎn)、定期送有資格的法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)和授權(quán)計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)進(jìn)行強(qiáng) 制檢定，檢定合格的發(fā)檢定合格證書(shū)。 TSG Z7003《 特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)質(zhì)量體系要求 》 第十九 條規(guī)定： “ 檢測(cè) 儀器設(shè)備在投入工作前應(yīng)當(dāng)進(jìn)行 檢定（校準(zhǔn)）、核查， 以驗(yàn)證其能夠滿足 檢 驗(yàn)檢測(cè)的需要 ” 。 核查不屬于量值溯源 ，但需按照編制的核查作業(yè)指導(dǎo)書(shū)進(jìn)行 ， 無(wú)損檢測(cè) 儀器設(shè)備 的核查要求見(jiàn)下表： 第 43頁(yè) 儀器設(shè)備名稱(chēng) 核查所用的 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備 （含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、工作標(biāo)準(zhǔn) 等） 核查方法 （參考） 建議 核 查 周期 射線設(shè)備的曝光曲線 階梯試塊 JB/T4730 2022《 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 》 1年 黑度計(jì) (光學(xué)密度計(jì) ) 標(biāo)準(zhǔn)密度片 JB/T4730 2022《 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 》 6個(gè)月 超聲波探傷機(jī)水平線 性、垂直線性 UT標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB/T 100611999《 A型脈沖反射式超 聲探傷儀通用技術(shù) 條件 》 3個(gè)月 探頭前沿距離、 K值 與雙峰、主 聲束偏離 UT標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB/T 100621999《 超聲探傷用探頭 性 能測(cè)試方法 》 每次使 用前 超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度 余量、始脈沖寬度、 遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力 UT標(biāo)準(zhǔn)試塊 JJG 8792022《 紫外輻射照度計(jì)檢定 規(guī)程 》 每次使 用前 永久磁鐵或電磁軛磁 粉探傷機(jī)的提升力 提升力重力試塊 JB/ 2022《 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 》 6個(gè)月 磁粉檢測(cè)系統(tǒng)綜合性 能 (系統(tǒng)靈敏度 ) 磁粉檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試片 JB/ 2022《 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 》 每次使 用前 觀片燈的亮度、均勻 度 光強(qiáng)計(jì) JB/T 198022022《 無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線 照相觀片燈 最低要求 》 1年 五、結(jié)束語(yǔ) 從事無(wú)損檢測(cè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)和檢測(cè)人員，為確保無(wú)損檢測(cè) 數(shù)據(jù)準(zhǔn)確 和 結(jié)果 可靠 ，為規(guī)避無(wú)損檢測(cè) 責(zé)任風(fēng)險(xiǎn) ，須要對(duì)無(wú)損 檢測(cè)儀器設(shè)備 實(shí)施有效的 量值溯源 ，這是必須的、也是可行的。對(duì)于這類(lèi)無(wú)須量值溯源的檢測(cè)儀器設(shè)備，為了了解設(shè)備情況， 證明設(shè)備狀態(tài)良好，應(yīng)定期對(duì)檢測(cè)儀器設(shè)備進(jìn)行核查（也有稱(chēng)作為校 驗(yàn)），以證實(shí)設(shè)備能夠滿足檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求。 儀器設(shè)備名稱(chēng) 內(nèi)部校準(zhǔn)所用的 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備 （含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣 品、參考測(cè)量?jī)x器等） 內(nèi)部校準(zhǔn)方法 （參考） 建議校 準(zhǔn)周期 超聲波探傷儀 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、標(biāo)準(zhǔn)衰減 器、標(biāo)準(zhǔn)探頭、標(biāo)準(zhǔn)試塊 JJG 7462022 《 超聲波探傷儀檢定規(guī)程 》 JJG1241996《 示波器檢定規(guī)程 》 1年 UT標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì) 比試塊半徑及其它 尺寸 游標(biāo)卡尺、千分尺、塞尺、 角度規(guī) JJG1462022《 量塊檢定規(guī)程 》 4年 磁粉探傷提升力重 力試塊重量 秤重器具 JJG992022《 砝碼檢定規(guī)程 》 5年 磁粉檢測(cè)設(shè)備用電 流表 標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字式電流表 JJG1242022《 電流表、電壓表、功率表及 電阻表檢定規(guī)程 》 6個(gè)月 黑光輻照度計(jì) 高壓汞燈、黑光型高壓汞燈、 低壓汞燈、標(biāo)準(zhǔn)黑光輻照度 計(jì) JJG 8792022《 紫外輻射照度計(jì)檢定規(guī)程 》 1年 照度計(jì) 發(fā)光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)燈組、數(shù)字電 壓表、標(biāo)準(zhǔn)電阻 JJG2452022《 光照度計(jì)檢定規(guī)程 》 1年 標(biāo)準(zhǔn)密度片 基準(zhǔn)光密度計(jì)（光源、濾光 器、接收器、數(shù)字顯示器） JJG 4521986《 黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程 》 1年 超聲測(cè)厚儀 標(biāo)準(zhǔn)厚度快（階梯塊）、標(biāo) 準(zhǔn)圓管 JJF12662022《 超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范 》 1年 常 見(jiàn)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備 內(nèi)部校準(zhǔn) 的實(shí)施 無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)滿足內(nèi)部校準(zhǔn)的基本要求，其中內(nèi)部 校準(zhǔn)所使用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法 （參考） 以及建議的校準(zhǔn)周期見(jiàn)下表： 第 42頁(yè) 儀器設(shè)備名稱(chēng) 內(nèi)部校準(zhǔn)所用的 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備 （含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣 品、參考測(cè)量?jī)x器等） 內(nèi)部校準(zhǔn)方法 （參考） 建議校 準(zhǔn)周期 涂層測(cè)厚儀 標(biāo)準(zhǔn)用厚度片 JJG 8891995《 磁阻法測(cè)厚儀檢定規(guī)程 》 JJG 8182022《 磁性、電渦流式覆層厚度測(cè) 量?jī)x檢定規(guī)程 》 1年 里氏硬度計(jì) 天平、立式光學(xué)計(jì)、投影儀、 顯微鏡、標(biāo)準(zhǔn)里氏硬度塊 JJG7471999《 里氏硬度計(jì)檢定規(guī)程 》 4年 直讀光譜儀 低合金鋼或碳素鋼光譜分析 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、兆歐表 JJG7682022《 發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程 》 5年 X射線熒光光譜儀 （尼通） 標(biāo)準(zhǔn)鋼樣 制造商推薦方法或?qū)嶒?yàn)室間比對(duì) 6個(gè)月 （二） 核查 的實(shí)施 在實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可 CNASCL01《 檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則 》 第 條規(guī)定的是 “ 對(duì)結(jié)果 有重要影響的儀器的 關(guān)鍵量 或 值 ，應(yīng)制定校準(zhǔn)計(jì)劃 ” 。 （ 6） 內(nèi)部校準(zhǔn)的校準(zhǔn)證書(shū)可以簡(jiǎn)化或不出具證書(shū)，但應(yīng)確保校準(zhǔn)過(guò)程有 完整記錄且內(nèi)部校準(zhǔn)的信息應(yīng)符合內(nèi)部校準(zhǔn)方法的要求，如應(yīng)包含測(cè)量不 確定度、環(huán)境條件、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或參考測(cè)量?jī)x器溯源信息等。 四、實(shí)施有效的 內(nèi)部校準(zhǔn) 與 核查 第 41頁(yè) 檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室實(shí)施 內(nèi)部校準(zhǔn)時(shí) ，當(dāng)被校準(zhǔn)設(shè)備 對(duì)檢測(cè)結(jié)果有顯著影響時(shí)，檢 測(cè)實(shí)驗(yàn)室的內(nèi)部校準(zhǔn)應(yīng)滿足以下基本要求： （ 1） 實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)的環(huán)境條件和設(shè)施，應(yīng)滿足所實(shí)施的內(nèi)部校準(zhǔn)方法的 要求； （ 2） 實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)的人員，應(yīng)經(jīng)過(guò)相應(yīng)的計(jì)量知識(shí)、校準(zhǔn)技能培訓(xùn)，熟 悉被校準(zhǔn)的檢測(cè)儀器設(shè)備，并有能力實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)活動(dòng)； （ 3） 實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)所用的 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備 （含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣品、參考 測(cè)量?jī)x器等）必須有效溯源，其測(cè)量不確定度滿足檢測(cè)方法要求。 JJF 11262022 （一） 內(nèi)部校準(zhǔn)的實(shí)施 內(nèi)部校準(zhǔn)的基本要 求 用 內(nèi)部校準(zhǔn) （ inhouse calibration）代替習(xí)慣稱(chēng)的 自校準(zhǔn) （ self calibration）。 （ JB/T ） HK:參考 1年 HK:工作 1個(gè)月 HK:檢測(cè)前 厚度檢測(cè) 超聲測(cè)厚儀每 1年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn) （或內(nèi)部校準(zhǔn)）， 方法 參照 JJG 4031986《 超聲波測(cè)厚儀檢定規(guī)程 》 或 JJF12662022《 超聲波測(cè)厚儀校 準(zhǔn)規(guī)范 》 。 （ JB/T 、 和 ） ＜ 20lx 。 （ JB/T ） HK:2年 對(duì)于熒光磁粉檢測(cè)，每次檢測(cè)前，應(yīng)采用 黑光幅照計(jì) 對(duì)被檢測(cè)表面的 黑光幅照度進(jìn)行核查，使用 白光照 度計(jì) 對(duì)周?chē)h(huán)境白光亮度進(jìn)行核查 ；對(duì)于 非熒光磁粉檢測(cè)，每次 檢測(cè) 前，應(yīng)采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境白光亮度 進(jìn)行 （ JB/T ） HK:檢測(cè)前 滲透檢測(cè) 黑光輻照度計(jì)、熒光亮度計(jì)和照度計(jì)等， 至少每年進(jìn)行 核查或 校準(zhǔn) （或內(nèi)部校準(zhǔn)） 。 設(shè)備內(nèi)部短路檢查、電流載荷校驗(yàn)、通電時(shí)間，至少每年進(jìn)行 核查 。 （ JB/T ） HK:使用前