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級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試專題三特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查的探討謝常歡-閱讀頁(yè)

2025-05-20 22:33本頁(yè)面
  

【正文】 be calibrated or checked),以證實(shí)其 能夠滿足實(shí)驗(yàn)室的規(guī)范要求和相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。 核查一般由使用單位組織實(shí)施,按編制的 核查作業(yè)指導(dǎo)書 進(jìn)行。 JB 每天檢測(cè)前,用標(biāo)準(zhǔn)試片檢驗(yàn) (核查 )磁粉 檢測(cè)設(shè)備及磁粉和磁懸液的綜合性能 (系統(tǒng) 靈敏度 ) 。 超聲波測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀 硬度計(jì) UT標(biāo)準(zhǔn)試塊 / 對(duì)比試塊尺寸 磁粉探傷提升力 重力試塊重 磁粉檢測(cè)設(shè)備的 電流表 直讀光譜儀 射線熒光光譜儀 聲發(fā)射檢測(cè)儀 鋼絲繩探測(cè)儀 量值溯源 狀態(tài)良好 儀器設(shè)備三家比對(duì) 儀器設(shè)備核查 儀器設(shè)備檢定 法定檢定機(jī)構(gòu) 儀器設(shè)備校準(zhǔn) 外部校準(zhǔn) 內(nèi)部校準(zhǔn) 個(gè)人劑量計(jì) 劑量報(bào)警儀 有害氣體分析 儀 氧濃度檢測(cè)儀 超聲波測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀 硬度計(jì) UT標(biāo)準(zhǔn)試塊、 對(duì)比試塊尺寸 磁粉探傷提升 力重力試塊重 磁粉檢測(cè)設(shè)備 的電流表 直讀光譜儀 超聲波探傷機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)密度片 黑光輻照計(jì) 白光照度計(jì) 磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì) 毫特斯拉計(jì) 熒光亮度計(jì) 黑度計(jì) 射線探傷機(jī)曝光 曲線 觀片燈的亮度和 均勻度超聲波儀 器水平線性 /垂直 線性 超聲波探頭 電磁軛的提升力 磁粉檢測(cè)設(shè)備內(nèi) 部短路 /電流載荷 /通電時(shí)間 第 36頁(yè) (四)典型特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器的量值溯源方式 保證檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、結(jié)果可靠 在無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備實(shí)際管理中,那些儀器設(shè)備需要檢定?那些需要校 準(zhǔn)?如何進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)?如何進(jìn)行核查(驗(yàn)證)? 三、有效的量值溯源 國(guó)際組織在 無(wú)損檢測(cè) 方面的要求: 1) UKAS RG7 《 Accreditation For inspection bodies performing NonDestructive Testing》 (檢查機(jī)構(gòu)從事無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可) 2) EA EA04/15 《 Accreditation For NonDestructive Testing》 (無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可) 3) HOKLAS Supplementary Criteria No. 15《 Accreditation of NonDestructive Tests for Welding of Steel and Metal》 (鋼和金屬焊 接的無(wú)損檢測(cè)認(rèn)可) 4) A2LA 《 Non Destructive Program Requirements》 (無(wú)損檢測(cè)計(jì) 劃要求) 第 37頁(yè) 筆者 在 2022年 解讀 了 香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可 的 《 鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可 準(zhǔn)則增補(bǔ)第 15》 ( HOKLAS Supplementary Criteria 《 Accreditation of Non Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》 ), 受該準(zhǔn)則的啟發(fā),就保證 檢測(cè) 結(jié)果準(zhǔn)確 和滿足 量值溯源 上,筆者對(duì)特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備的檢 定、校準(zhǔn)及核查提出了探討。 1 介紹 HOKLAS_Supplementary_Criteria_No[1]._15 本準(zhǔn)則增補(bǔ) 是對(duì) HKAS002(香港認(rèn)可處認(rèn)可規(guī)則) 和 HOKLAS 003(實(shí) 驗(yàn)所認(rèn)可技術(shù)準(zhǔn)則 ISO/IEC 17025:2022) 的補(bǔ)充和解釋。 ( JB/T ) 標(biāo)準(zhǔn)密度片每 2年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn) (或內(nèi)部校準(zhǔn)), 方法 參照 JJG 4521986《 黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程 》 。 觀片燈 的亮度和均勻度,應(yīng)每年進(jìn)行核查 或校準(zhǔn) 。 ( JB/T ; ) HK:1月 HK:5年有效 HK:1年 EN:定期 CNAS CL14: 2022《 檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可 準(zhǔn)則在 無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域 的應(yīng)用說(shuō)明 》 附錄 A“無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查要求 ” 射線檢測(cè) 射線設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線,曝光曲線每年至少 核查 一次;射線設(shè) 備更換重要部件或經(jīng)較大修理后,應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行核查。 EN 126681:2022 脈沖反射式 超聲波探傷儀每隔 3個(gè)月,應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行水平線性、 垂 直線性核查,方法參照 JB/T 100611999《 A型脈沖反射式超聲波系統(tǒng) 工作性能測(cè)試方法 》 。 ( JB/T ) 、對(duì)比試塊每次使用前,應(yīng)進(jìn)行外觀腐蝕及機(jī)械損傷情況 HK:初次 核查;每隔 4年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的器具對(duì)其半徑及其它尺寸進(jìn)行核查。 (注:核查結(jié)果一般記錄在原始記錄上) 。 ( JB/T / ) HK:使用前 HK:使用前 、磁粉檢測(cè) 永久磁鐵或電磁 軛磁粉探傷機(jī)的提升力,至少每半年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn) 的提升力重力試塊進(jìn)行核查。 ( JB/T ) 黑光輻照計(jì)、照度計(jì)、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、毫特斯拉計(jì)等,至少每年進(jìn)行 核查或校準(zhǔn)(或 內(nèi)部校準(zhǔn) )。 ( JB/T ) 注:非熒光檢測(cè)時(shí),可見光照度應(yīng) ≥1000lx;熒光檢測(cè)時(shí), 黑光燈在工件表面的 幅照度應(yīng) ≥1000μW/cm2 且暗室或暗處可見光照度應(yīng)< 20lx 。 ( JB/T ) 磁粉檢 測(cè)系統(tǒng)綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),每次檢測(cè)前,用標(biāo)準(zhǔn)試片、 標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行 核查 (注:校驗(yàn)結(jié)果一般記錄在原始記錄上) 。 ( JB/T ) 對(duì)于熒光滲透檢測(cè), ,每次 檢測(cè) 前,應(yīng) 采 用 黑光幅照計(jì)對(duì)被檢測(cè)表面 的黑光幅照度 進(jìn)行核查 ,使用白光照度計(jì)對(duì)周圍環(huán)境白光亮度 進(jìn)行核查 ; 對(duì) 于非熒光滲透檢測(cè),每次檢測(cè)前,應(yīng)采用 白光照度計(jì) 對(duì)周圍環(huán)境白光亮度進(jìn) 行核查 (核查結(jié)果一般記錄在原始記錄上) 。 ( JB/T 、 和 ) 注: 非熒光檢測(cè)時(shí),可見光照度應(yīng) ≥1000lx, 條件所限時(shí)不得低于 500lx 。 涂層測(cè)厚儀每 1年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn) (或內(nèi)部校準(zhǔn)), 方法 參照 JJG 8891995《 磁阻法測(cè)厚儀檢定規(guī)程 》 、 JJG8181993《 電渦流式測(cè)厚儀 檢定規(guī)程 》 。 內(nèi)部校準(zhǔn) 是指檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室 內(nèi)部按照規(guī)定的方法和要求對(duì)無(wú) 損檢測(cè)儀器設(shè)備進(jìn)行的校準(zhǔn)活動(dòng) ,而自校準(zhǔn)一般是利用及檢測(cè)儀器設(shè)備自 帶的校準(zhǔn)程序或功能 (智能儀器的開機(jī)自校準(zhǔn)程序 ,如殘余應(yīng)力檢測(cè)儀 X stress300 ) 進(jìn)行的校準(zhǔn)活動(dòng)。標(biāo)準(zhǔn)設(shè) 備的準(zhǔn)確度等級(jí)(或最大允許誤差)一般應(yīng)優(yōu)于被校準(zhǔn)設(shè)備的 3~ 5倍,個(gè) 別要達(dá)到 10倍; ( 4) 內(nèi)部校準(zhǔn)方法應(yīng)形成文件,并應(yīng)優(yōu)先采用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法(國(guó)際、國(guó) 家 JJF、行業(yè)等發(fā)布),對(duì)于特殊檢測(cè)設(shè)備,當(dāng)沒有標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法時(shí),可 使用 自編的校準(zhǔn)方法或測(cè)量?jī)x器設(shè)備制造商推薦的校準(zhǔn)方法進(jìn)行內(nèi)部校 準(zhǔn),非標(biāo)校準(zhǔn)方法應(yīng)經(jīng)過驗(yàn)證和確認(rèn); CNAS CL312022《 內(nèi)部校準(zhǔn)要求 》 ( 5) 對(duì)每個(gè)內(nèi)部校準(zhǔn)項(xiàng)目,應(yīng)有計(jì)算測(cè)量不確定度的程序。 ( 7) 相關(guān)法規(guī)規(guī)定屬于強(qiáng)制檢定管理的測(cè)量設(shè)備 (如射線探傷用于個(gè)人安全防 護(hù)的個(gè)人劑量計(jì)、劑量報(bào)警儀等), 不允許內(nèi)部校準(zhǔn)而應(yīng)按規(guī)定檢定,且檢定周 期、檢定項(xiàng)目應(yīng)符合檢定規(guī)程( JJG)的規(guī)定。 換言之, 對(duì)結(jié)果 沒有影響的檢測(cè)儀器設(shè)備是不需校準(zhǔn)的,也就不必量值 溯源了。 核查的方法可參照相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)(如 JB/T4730 2022《 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 》 ) 或儀 器設(shè)備的技術(shù)說(shuō)明書,甚至文獻(xiàn)介紹等。 CNAS CL142022《 檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明 》 第 44頁(yè) 復(fù)習(xí)思考題: 一、特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范( TSG)是如何規(guī)定檢測(cè) /試驗(yàn)設(shè)備的檢定、 校準(zhǔn)? 答: TSG Z0004《 特種設(shè)備制造安裝改造維修質(zhì)量保證體系基本要求 》 附 件 “ 基本要素 ” 第 13款規(guī)定: “ 設(shè)備和檢驗(yàn)與試驗(yàn) 裝置必須有 檢定校準(zhǔn) 、檢 定校準(zhǔn)計(jì)劃、檢定校準(zhǔn)記錄、檢定校準(zhǔn)標(biāo)識(shí) ” 。 第 32頁(yè) 二、檢定的目的是什么?什么情況下要實(shí)施強(qiáng)制檢定? 答:檢定是對(duì)測(cè)量器具的計(jì)量特征及技術(shù)要求的全面評(píng)價(jià),這種全面評(píng)定 屬于量值統(tǒng)一的范疇,是 自上而下的量值傳遞過程 。 三、校準(zhǔn)的目的是什么? 答:校準(zhǔn)的目的是對(duì)照計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),評(píng)定測(cè)量裝置的示值誤差,確保量值準(zhǔn) 確,屬于 自下而上量值溯源 的一組操作 。 每天檢測(cè)前,用標(biāo)準(zhǔn)試片檢驗(yàn)(核查)磁粉檢測(cè)設(shè)備及磁粉和磁懸液的綜合性能 (系統(tǒng)靈敏度) 。 第 35頁(yè) 五、香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的 《 鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可準(zhǔn)則 增補(bǔ)第 15》 中,對(duì)超聲波探傷儀的校準(zhǔn)周期是多少?校準(zhǔn)要求是什么? 答: 超聲波探傷儀的校準(zhǔn)周期是: 2年 ; 校準(zhǔn)要求是:送按 HOKLAS003 之 ( d)條款定義的有資格的校準(zhǔn)機(jī) 構(gòu),符合 BS4331或其它相當(dāng)?shù)?EN、 ISO標(biāo)準(zhǔn)要求。 在 工作中使用 的黑光幅照計(jì), 校準(zhǔn)周期是: 1個(gè)月 ;校準(zhǔn)要求是:與作參考 標(biāo)準(zhǔn)的黑光幅照計(jì)對(duì)比檢查。 第 38頁(yè) 第 38頁(yè) 第 39頁(yè) 八、 CNAS CL14: 2022《 檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則 在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng) 用說(shuō)明 》 中, 射線設(shè)備 的核查要求是 什么? 答:射線設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線, 曝光曲線每年至少核查一次 ;射線設(shè)備 更換重要部件或經(jīng)較大修理后,應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行核查。 十、 CNAS CL14: 2022《 檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng) 用說(shuō)明 》 中, 熒光滲透檢測(cè) 時(shí)應(yīng)怎樣核查 檢測(cè)環(huán)境? 答:對(duì)于熒光滲透檢測(cè),每次檢測(cè)前,應(yīng)采用 黑光幅照計(jì) 對(duì)被檢測(cè)表面的 黑光幅照度進(jìn)行核查 ,使用 白光照度計(jì) 對(duì)周圍環(huán)境 白光亮度 進(jìn)行
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