【正文】 由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對(duì)操作進(jìn)行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對(duì)照它來評(píng)價(jià)。在操作上 診斷 特殊原因 (控制 )變 差 問題 的分析方法不適于診斷 影 響 系 統(tǒng) 的普通原因 變 差。由 于 特殊原因是通 過 控制 圖發(fā)現(xiàn) 的，要求 對(duì) 操作 過程進(jìn) 行分析， 并 且希望 操作者或 現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)員 有能力 發(fā)現(xiàn)變 差原因 并糾 正。 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量(檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 2023/3/11 135 單位產(chǎn)品缺陷數(shù) u圖 “u”圖用來測(cè)量具有容量不同的樣本 (受檢材料的量不同 )的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。 2023/3/11 129 B計(jì)算控制限 )1()1(3)1(3.....21ppnppnpnLCLppnpnUCLkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk?????????????????2023/3/11 130 過程控制解釋、過程能力解釋 C過程控制解釋：同“ p”圖的解釋?！?np”圖的詳細(xì)說明與 p圖很相似，不同之處如下： 2023/3/11 128 A收集數(shù)據(jù) 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。但是還應(yīng)對(duì)繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。這個(gè)變化時(shí)期對(duì)系統(tǒng)操作會(huì)是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實(shí)效果。有必要使用長(zhǎng)期的解決問題的方法來糾正造成長(zhǎng)期不合格的原因。這些連續(xù)的受控的時(shí)期子組的 p值是該過程當(dāng)前能的更好的估計(jì)值。 2023/3/11 119 Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率 B2計(jì)算上、下控制限 B3畫線并標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B 2023/3/11 120 npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線計(jì)算平均不合格率及控制限 2023/3/11 121 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計(jì)算控制界限 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 建立 p圖的步驟 C 2023/3/11 122 Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程能力 D2評(píng)價(jià)過程能力 D3改進(jìn)過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 2023/3/11 123 計(jì)算過程能力 對(duì)于 p圖，過程能力是通過過程平均不合率來表示，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。 2023/3/11 113 P控制圖的制做流程 A收集數(shù)據(jù) B計(jì)算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 2023/3/11 114 建立 p圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 A4將不合格品率描繪在控制圖 2023/3/11 115 A1子組容量、頻率、數(shù)量 子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太利也會(huì)有不利之處。但是這需要注意，如果過程分布不是對(duì)稱，用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時(shí)，可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號(hào) 2023/3/11 108 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： 式中， R為移動(dòng)極差的均值， d2是用于對(duì)移動(dòng)極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。 管制圖mRX ?2023/3/11 106 mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422~????????全距管制圖值管制圖管制圖mRX ?B計(jì)算控制限 注：正常情況下，樣本 n=2此時(shí)E2= D4= D3=0 E D D3是用來計(jì)算移動(dòng)極差分組 2023/3/11 107 管制圖mRX ?C過程控制解釋 審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號(hào)。 由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到 100個(gè)以上。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。但是還應(yīng)對(duì)繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。這個(gè)變化時(shí)期對(duì)系統(tǒng)操作會(huì)是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實(shí)效果。有必要使用長(zhǎng)期的解決問題的方法來糾正造成長(zhǎng)期不合格的原因。 2023/3/11 86 2?)()2/(dRTXCa?????雙邊規(guī)格制程能力指標(biāo) Ca 2023/3/11 87 2??3?3?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp???????????制程能力指標(biāo) Cp 雙邊規(guī)格 只有上規(guī)格時(shí) 只有下規(guī)格時(shí) 2023/3/11 88 2??3?3),min(dRSxCxSCCCClplupuplpupk?????????制程能力指標(biāo) Cpk 2023/3/11 89 當(dāng) Cpk1 說明制程能力差 ， 不可接受； 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善； ≤Cpk≤,說明制程能力正常； Cpk， 說明制程能力良好 。方法如下： 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用現(xiàn)有的子組容量計(jì)算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差均值， d2 為隨樣本容量變化的常數(shù)，如下表 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2， 計(jì)算新的極差和控制限。 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 7點(diǎn)不斷上升或下降的趨向時(shí) , 應(yīng)判斷為異常 , 需采取措施 . 周期 : 點(diǎn)的上升或下降出現(xiàn)明顯的一定的間隔時(shí)稱為周期 . 周期包括呈階梯形周期變動(dòng)、波狀周期變動(dòng)、大小波動(dòng)等情況 . 2023/3/11 80 控制圖的觀察分析 接近 : 圖上的點(diǎn)接近中心線或上下控制界限的現(xiàn)象稱為接近 . 接近控制界限時(shí) , 在中心線與控制界限間作三等分線 , 如果在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi)存在下述情況可判定為異常 : 連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn) (該兩點(diǎn)可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。 連續(xù)的 14點(diǎn)中至少有 12點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。 連續(xù) 35點(diǎn)中 , 僅有 1點(diǎn)超出控制界限 。 XR圖計(jì)算公式系數(shù) 2023/3/11 72 Ｃ過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計(jì)算控制界限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計(jì)算控制界限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限 建立 XR圖的步驟 C 2023/3/11 73 控制圖的判讀 超出控制界限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 2023/3/11 74 控制圖的判讀 鏈：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) 連續(xù) 7點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降。 連續(xù)二十五點(diǎn)在控 制界限內(nèi)，表示制 程基本上已穩(wěn)定， 控制界限可以延用 有點(diǎn)超出控制界限，表示此時(shí)狀態(tài)已被改變，此時(shí)要追查原因，必要時(shí)必須重新收集數(shù)據(jù)，重新考慮穩(wěn)定狀態(tài) 解析用 穩(wěn)定 控制用 再調(diào)整 2023/3/11 58 控制圖的選擇 “ n”=10~25 控制 圖 的 選 定 資料性質(zhì) 不良 數(shù) 或 缺陷 數(shù) 單 位大小 是否一定 “ n”是否一定 樣 本大小 n≧ 2 CL的性 質(zhì) “ n”是否 較 大 “ u” 圖 “ c” 圖 “ np” 圖 “ p” 圖 XRm 圖 XR 圖 XR 圖 Xs 圖 計(jì)數(shù)值 計(jì) 量值 “ n”=1 n≧ 1 中位 數(shù) 平均值 “ n”=2~5 缺陷 數(shù) 不良 數(shù) 不一定 一定 一定 不一定 2023/3/11 59 CASE STUDY 質(zhì)量特性 樣本數(shù) 選用什么圖 長(zhǎng)度 5 重量 10 乙醇比重 1 電燈亮／不亮 100 每一百平方米的臟點(diǎn) 100平方米 2023/3/11 60 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 引言 均值和極差圖 (XR圖 ) 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 (Xs) 中位數(shù)和極差圖 (XR) 單值和移動(dòng)極差圖 (XMR) 2023/3/11 61 與過程有關(guān)的說明 結(jié)果舉例 控制圖舉例 ? 軸的外徑（英寸） ? 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） ? 電阻（ Ω） ? 軌道車通過時(shí)間（ h） ? 工程更改處理時(shí)間（ h） 用于均值測(cè)量的 X圖 用于極差測(cè)量的 R圖 人員 設(shè)備 環(huán)境 材料 方法 測(cè)量結(jié)果 計(jì)量單位 (mm， kg等 ) 原點(diǎn)（ 0mm， F等） 1 2 3 4 5 6 7 2023/3/11 62 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖應(yīng)用前提 不準(zhǔn)確 準(zhǔn)確 不精密 精密 測(cè)量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果 2023/3/11 63 大多過程和其輸出具有可測(cè)量的特性； 量化的值比簡(jiǎn)單的是 —否陳述包含的信息更多； 對(duì)較少的件數(shù)檢查，可獲得更多的有關(guān)過程的信息； 因只需檢查少量的產(chǎn)品，可縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時(shí)間間隔； 可分析一個(gè)過程的性能和可量化所用的改進(jìn)，為尋求持續(xù)改進(jìn)提供信息。如果分析結(jié)果顯示過程有異常波動(dòng)時(shí)，首先找出原因，采取措施，然后重新抽取樣本、測(cè)定數(shù)據(jù)、重新計(jì)算控制圖界限進(jìn)行分析。由正態(tài)分布的性質(zhì)可知：質(zhì)量數(shù)據(jù)出現(xiàn)在平均值的正負(fù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (X?3?)之外的概率僅為 %。