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超聲波檢測(cè)第七章ppt課件-wenkub.com

2025-04-30 18:28 本頁面
   

【正文】 斜探頭探傷時(shí),按同平板對(duì)接焊縫的方法調(diào)整。 儀器的調(diào)整 (1)時(shí)基線比例的調(diào)整:直探頭探傷時(shí),利用 T型焊縫的翼板或試塊調(diào)整。板厚較小時(shí),選用大 K值的探頭探傷,目的在于避免近場(chǎng)區(qū)探傷。不但可以檢測(cè)縱向缺陷,而且可以檢測(cè)橫向缺陷,不足之處在于外側(cè)探測(cè),看不到焊縫,探測(cè)前要先測(cè)定并標(biāo)出焊縫的位置。此方法與平板對(duì)接焊縫探傷方法相似。因?yàn)槁暢谭ǘㄎ槐容^方便。 (2)試塊: Y型管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷中,采用的試塊有如圖 。 K型可以視為兩個(gè) Y型的組合 探測(cè)條件的選擇 (1)探頭:由于管節(jié)點(diǎn)焊縫的主支管直徑較小,探測(cè)面曲率較大,因此探頭的尺寸小一點(diǎn)好,以便改善耦合效果。 JB/、 GB1134589標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定管座角焊縫質(zhì)量評(píng)定方法同平板對(duì)接焊縫。 (2)以下缺陷不予返修,但應(yīng)記錄 敏度,且指示長度小于判廢長度(指示長度小于10mm者不計(jì))者。 ,并且縱向缺陷指示長度 Lf≥T/3 。當(dāng)缺陷有多個(gè)高點(diǎn)時(shí),用端點(diǎn)半波高度法或端點(diǎn)峰值法測(cè)長。 斜探頭探傷時(shí),距離-波幅曲線的測(cè)試同平板對(duì)接焊縫 缺陷的測(cè)定 探傷過程中發(fā)現(xiàn)超過定量線的缺陷時(shí),要測(cè)定缺陷的位置、當(dāng)量大小和指示長度。 JB314482標(biāo)準(zhǔn)的定量線、判廢線靈敏度同JB/,評(píng)定線靈敏度高于 JB/2022標(biāo)準(zhǔn)。 斜探頭探傷時(shí),按平板對(duì)接焊縫探傷中的方法調(diào)整。 (2)靈敏度調(diào)整:直探頭探傷時(shí),常利用工件的圓柱曲底面的底波來調(diào)節(jié)。該試塊用于調(diào)整探傷靈敏度和對(duì)缺陷定量。 (2)耦合劑:管座角焊縫探傷中,常用的耦合劑有機(jī)油、化學(xué)漿糊等。采用單晶直探頭或雙晶直探頭實(shí)測(cè)時(shí)由于容器筒體或接管表面為曲面,探頭表面為平面,二者接觸面小,耦合不良。 由于管座角焊縫中危害最大的缺陷是未熔合和裂紋等縱向缺陷(沿焊縫方向),因此一般以縱波直探頭探測(cè)為主。 安放式管座角焊縫是接管安放在容器筒體上焊接而成,如圖 。 (1)采用直探頭在接管內(nèi)壁進(jìn)行探測(cè),如圖中探頭位置1。 (2)位于 Ⅱ 區(qū)的缺陷按表 23評(píng)定焊縫的質(zhì)量級(jí)別。 焊縫質(zhì)量評(píng)級(jí) 缺陷的大小測(cè)定以后,要根據(jù)缺陷的當(dāng)量和指示長度,結(jié)合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定評(píng)定焊縫的質(zhì)量級(jí)別。 (1)當(dāng)焊縫中存在兩個(gè)或兩個(gè)以上的相鄰缺陷,要計(jì)量缺陷的總長。 缺陷幅度的測(cè)定:首先找到缺陷最高回波,測(cè)出缺陷波達(dá)基準(zhǔn)波高時(shí)的 dB值,然后確定該缺陷波所處于的區(qū)域。 用一次波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí) lf=nτ f () df=lf/K () 用二次波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí) lf=nτ f () df=2Tlf/K () 式中 K―― 探頭的 K值, K= tanβ。 當(dāng)儀器聲程按 1: n調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)采用聲程法來確定缺陷的位置。有時(shí)還要采用串列式掃查才能發(fā)現(xiàn)缺陷,如圖 。 (5)平行或斜平行掃查:為了校驗(yàn)焊縫或熱影響區(qū)的橫向缺陷,對(duì)于磨平的焊縫可將斜探頭直接放在焊縫上作平行移動(dòng); 有加強(qiáng)高的焊縫可在焊縫兩側(cè)邊緣,使探頭與焊縫成一定夾角( 100~ 450)作平行或斜平行移動(dòng),如圖 ,但靈敏度要適當(dāng)提高。 (2)左右掃查與前后掃查:如圖 ,當(dāng)用鋸齒掃查發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí),可用左右掃查和前后掃查找到回波的最大值,用左右掃查來確定缺陷沿焊縫方向的長度;用前后掃查來確定缺陷的水平距離或深度。 (1)鋸齒形掃查:如圖 ,探頭沿鋸齒形路線進(jìn)行掃查。同樣這里測(cè)得的聲能損失差包括了表面耦合損失差、材質(zhì)衰減損失差和底面反射損失差。 用同型號(hào)的兩個(gè)斜探頭沿探傷方向置于焊縫兩側(cè)的探傷面上,作一發(fā)一收測(cè)試,使其最大穿透波幅為示波屏上 3格高。在同樣條件下,用與上述相同的方法,將兩探頭置于平面型試板上 3P處,調(diào)節(jié) [衰減器 ],使其最大穿透波幅也為 3格高,此時(shí)工件與試板的衰減 dB差,即為薄板焊縫的聲能損失差。 1 .薄板焊縫聲能損失差的測(cè)定 制作與被檢工件材質(zhì)相同或相近、厚度相同的平面型試板,其上下表面光潔度與 CSKⅢA 試塊相同,如圖 。 。 若將判廢線、定量線、評(píng)定線都繪在示波屏面板上,使用起來將更加方便。 + 16dB,則缺陷當(dāng)量為 φ1 6- 9+ 16= φ1 6+7dB,在 Ⅲ 區(qū)。 ② .確定缺陷區(qū)域:檢測(cè)時(shí)若缺陷波高低于參考線,則說明缺陷波低于評(píng)定線,可以不予考慮。 ③ .固定[增益]旋鈕和[衰減器],分別檢測(cè)深度為 50、 60mm的 φ 1 6橫孔,找到最高回波,并在面板上標(biāo)記相應(yīng)波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn) 6,然后連接 6得到一條 φ 1 6的參考曲線,這就是面板曲線,如圖 。由距離-波幅曲線可知, d=20定量線為47dB,缺陷 1#的波高為 45dB(< 47dB),在定量線以下,即 Ⅰ 區(qū)。 由距離-波幅曲線可知, d=30mm, φ 1 6橫孔波高為 47dB,所以缺陷 1#當(dāng)量為 φ 1 6+ 45- 47=φ 1 6- 2dB。若考慮耦合補(bǔ)償 3dB,那么靈敏度為 26dB。 (2)距離-波幅曲線的應(yīng)用 ① .了解反射體波高與距離之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。然后分別檢測(cè)不同深度的 φ 1 6橫孔,[增益]旋鈕不動(dòng),用[衰減器]將各孔的最高回波調(diào)至 60%,記下相應(yīng)的 dB值和孔深填入表 。 表 距離-波幅曲線的靈敏度 試塊型式 板厚( mm) 評(píng)定線 定量線 判廢線 CSKⅡA 6~ 46 > 46~ 120 φ 2 40- 18dB φ 2 40- 14dB φ 2 40- 12dB φ 2 40- 8dB φ 2 40- 4dB φ 2 40+2dB CSKⅢA 8~ 15 > 15~ 46 > 46~ 120 φ 1 6- 12dB φ 1 6- 9dB φ 1 6- 6dB φ 1 6- 6dB φ 1 6- 3dB φ 1 6 φ 1 6+2dB φ 1 6+5dB φ 1 6+10dB 距離-波幅曲線與實(shí)用 AVG曲線一樣可以實(shí)測(cè)得到,也可由理論公式或通用 AVG曲線得到,但三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)只能實(shí)測(cè)得到。不同板厚范圍的距離-波幅曲線的靈敏度見表 。描述某一確定反射體回波高度隨距離變化的關(guān)系曲線稱為距離-波幅曲線。下面介紹利用 CSKⅢA 來調(diào)整的方法,其他試塊法見第四章第四節(jié)。若 A波不是正對(duì) L1 ,則應(yīng)利用 A、 B波反復(fù)調(diào)至與讀數(shù)相符。 3)將探頭對(duì)準(zhǔn)橫孔 A,找到最高回波 A,量出水平距離L調(diào)微調(diào)旋鈕使 A波前沿對(duì)準(zhǔn)水平刻度 L1,并作好標(biāo)記(可用儀器上的標(biāo)距點(diǎn)標(biāo)出)。 ( 1) CSKⅢA 試塊橫孔反射法 該方法是利用 CSKⅢA試塊上不同距離的 φ 1mm 6mm兩個(gè)短橫孔來調(diào)整時(shí)間掃描線,如圖 9- 10所示。焊縫探傷中常用 CSKⅠA 、 ⅡW2 和半圓試塊來調(diào)整,具體方法見第四章第四節(jié)。當(dāng)板厚小于 20mm時(shí),常用水平法。 c:對(duì)于電渣焊中的“八字”形橫裂,可用 K1探頭在 450方向以一次波在焊縫兩面雙側(cè)進(jìn)行探測(cè),如圖( c)。 a:板厚 T=8~ 46mm的焊縫,以一種 K值探頭用一、二次波在焊縫單面雙側(cè)進(jìn)行探測(cè),如圖 ( a) b:板厚 46< T≤120mm 的焊縫,以一種或兩種 K值探頭用一次波在焊縫雙面雙側(cè)進(jìn)行探測(cè),如圖 ( b) c:板厚 T≥100mm 的焊縫,除以兩種 K值探頭用一次波在焊縫兩側(cè)進(jìn)行探測(cè)外,還應(yīng)加用 單面雙側(cè)
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