超聲波檢測基本知識-wenkub.com
2025-04-27 12:03 本頁面
【正文】 D掃查覆蓋率 為確保檢測時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的 15%。探頭前后移動的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動的同時(shí)，還應(yīng)作 10176。 d B T 六、超聲波探傷工藝 B 三角回波 縱波徑向探測實(shí)心圓柱體時(shí)，探頭平面與柱面接觸面積小，使波束擴(kuò)散角增加，擴(kuò)散聲束會在圓柱在上形成三角反射路徑 B1 B2 d 2d 六）超聲波探傷工藝 C 焊角回波 焊縫余高過高時(shí)會在余高處反射和波型轉(zhuǎn)換。 六、超聲波探傷工藝 B 測長法（半波高度法端點(diǎn)半波高度法） 當(dāng)缺陷的尺寸大于聲束截面時(shí)， 探頭移動，當(dāng)缺陷波高降至一半時(shí)，認(rèn)為聲束中心是指向缺陷的邊緣。 利用通用的規(guī)一化處理過的曲線來調(diào)節(jié)靈敏度。 檢測面 位置 2 檢測區(qū) 位置 1 （ 2）工件表面準(zhǔn)備 探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油污及其他雜質(zhì)， 檢測表面平整，便于探頭的掃查其表面的粗糙度 Ra小于 μm 六、超聲波探傷工藝 （ 3）儀器的調(diào)試 （ a）時(shí)間掃描線（深度 、水平） 儀器上時(shí)間掃描線可以按反射體的深度調(diào)試，這時(shí)顯示的刻度 值即為缺陷深度。 六、超聲波探傷工藝 c 具體要求： A級要求： 母材厚度為 8～ 46㎜ ，用一種 K值探頭在工件的單面單側(cè)進(jìn)行檢測，一般不要求進(jìn)行橫向裂紋檢測； B級要求： 母材厚度為 8～ 46㎜ ，用一種 K值探頭在工件的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測； 母材厚度為 46～ 120㎜ ，采用一種 K值在工件的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測，條件不允許時(shí)可在工件的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種 K值的探頭檢測； 母材厚度 120㎜ ，用兩種 K值在工件的雙面雙側(cè)檢測，兩種 K值的探頭折射角相差不小于 100； 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。 5）儀器時(shí)間掃描線調(diào)試的正確性，斜探頭 K值測試的正確性會影響缺陷的定位或?qū)Ψ侨毕菪盘柕呐袆e。 K值－－根據(jù)厚度和焊縫寬度選擇，應(yīng)一次波越過背面對過焊縫邊緣，薄板選大一些，厚板選小一些，保證掃查到整個(gè)面。 斜楔的作用是實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換 ,使被探工件中只存在折射橫波。常用的主要是直探頭與斜探頭 四、儀器探頭試塊 （ 1）直探頭結(jié)構(gòu) 主要有壓電晶片 、保護(hù)膜、電纜線、阻尼塊、外殼、接頭。 ?目前主要有兩類 , 早期的是模擬機(jī) ,現(xiàn)在許多單位有數(shù)字機(jī)。 b 水浸法 三）超聲波探傷原理 1）縱波探傷示意圖 探頭發(fā)射和接收超聲波，發(fā)射的超聲波是脈沖波，脈沖超聲在工件中遇界面反射超聲波，超聲再在探頭中換成電信號經(jīng)放大后顯示，顯示屏上橫座標(biāo)表示超聲波在工件中傳播的時(shí)間，縱座標(biāo)表示反射的超聲波聲壓，與反射面積大小對應(yīng)?？v波入射角應(yīng)在第一臨界角與第二臨界角之間，縱波全反射，在工件中只有橫波存在。（ λ是波長，D是晶片直徑） 半擴(kuò)散角 θ 副聲束瓣 二、超聲波的發(fā)射與接收 （ 2）中線軸線上的聲壓分布情況 在靠晶片的一個(gè)范圍內(nèi)，由于波的干涉，出現(xiàn)的聲壓為 “ 0”點(diǎn)，從晶片至最后一個(gè)聲壓最大值的距離稱為近場距離，此區(qū)域稱近場區(qū)。 二、超聲波的
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