【正文】 實踐證明，要想得到 1％的精度，衍射峰的凈累積計數(shù)達到 10000以上。 7. 非純物質(zhì)求 k法 該方法的特點是，不用純物質(zhì)就能求得 k值，但該法要求不同組試樣中欲測相的濃度有較大的差別。 因為： 1. 基體沖洗法能預言并測定樣品中存在的非晶質(zhì)物質(zhì)，而絕熱法不能； 2. 基體沖洗法能用于測定包含未知組元的樣品，只對感興趣的組元進行分析，而絕熱法必須對樣品中全部組元進行事先鑒定并同時對全部組元進行分析。但仍使用參比強度 k值，而且樣品中必須沒有非晶物質(zhì)。 缺點： 同樣需要內(nèi)標物質(zhì)，應用受到限制。 其方法實質(zhì)就是在待測試樣中，加入一種標準物質(zhì)，即所謂的沖洗劑（或叫參比物質(zhì)，也就是內(nèi)標物質(zhì)），從而消除了基體效應對被測相衍射線強度的影響，建立了被測相質(zhì)量含量和衍射線強度的線性方程，不用作標準曲線，通過數(shù)學計算就可得出結(jié)果。因此在待測樣品的數(shù)目很多，各樣品的成分又變化很大，或者事先無法知道物相組成的情況下，使用內(nèi)標法最有利。 將待測定的 I相與基體 M（ M可以是單相，也可以是多相）以及內(nèi)標物質(zhì) S相組成一個多相混合物，若加入內(nèi)標物質(zhì) S的質(zhì)量分數(shù)為 Xs，則 S相的衍射強度為： Is＝ CsXs/ρx μm 而被測相 I的衍射線強度為： Ii＝ CiXi’/ρiμm ? 二者之比為 ? Ii/Is=Cxi ‘ρs /xs ρi 式中 xi ‘表示為加入內(nèi)標物質(zhì)后， i相的質(zhì)量分數(shù)，其 xi ‘=xi（ 1xs）。 混合物的質(zhì)量吸收系數(shù) : μm= x1μm1 + x2μm2 ＝ x1 (μm1–μm2)＋ μm2 I1/I（ 1） 0=x1μm1 /(x1（ μm1 –μm2 ） +μm2 ) 如果兩種物質(zhì)的質(zhì)量吸收系數(shù)為已知，可由上式求得 x1 ，從而可以求得 x2。xi/ρiμm 對純的 i相的強度： (Ii)0＝ Ci因而無論哪種 X射線定量相分析方法，都需要加以修正。 ? 測繪一個單相礦物的衍射圖，并根據(jù)衍射數(shù)據(jù)作出物相鑒定。 1969年起，由美國材料試驗協(xié)會和英國、法國、加拿大等國家的有關(guān)單位共同組成了名為 “ 粉末衍射標準聯(lián)合委員會 ” （ JCPDS）國際機構(gòu)，專門負責收集、校訂各種物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)，將它們進行統(tǒng)一的分類和編號，編制成卡片出版，這種卡片組被命名為粉末衍射卡組（ PDF）。每種晶態(tài)物質(zhì)都有其特有的成分和結(jié)構(gòu)，不是前者有異，就是后者有別，因而也就有其獨特的衍射花樣。 四、控制系統(tǒng) ? 控制系統(tǒng)是利用電子計算機控制 X射線衍射儀測量、記錄、數(shù)據(jù)處理和打印結(jié)果的裝置。 ? （ 3）、固體探測器 三、探測與記錄系統(tǒng) ? 脈沖高度分析器 ? 它是一種特殊的電子電路，和濾波片配合使用可以扣除 K?附近以外連續(xù)光譜。 ? 探測器 ? 用于 X射線衍射儀的探測器主要有蓋革計數(shù)管、閃爍計數(shù)管、正比計數(shù)管和固體探測器，其中閃爍計數(shù)管和正比計數(shù)管應用較為普遍。和 CC39。軸稱為測角儀水平線。 ? 。 ? 探測器的掃描方式 ? 連續(xù)掃描：步進掃描；跳躍步進掃描 ? 測角儀的調(diào)整與檢驗 ? 測角儀的調(diào)整是使用衍射儀的重要環(huán)節(jié)，是衍射儀能否正確工作的關(guān)鍵。 二、測角儀 二、測角儀 ? 衍射儀光束的幾何光學 ? 發(fā)散狹縫的作用是增強衍射強度。 測角儀的結(jié)構(gòu)和原理 工作原理： （ 1）、光源到試樣中心的距離等于樣品中心到記錄點的距離，即等于測角儀半徑。 光源單色化的方法 衍射分析中需要單色輻射以提高衍射花樣的質(zhì)量。 10 20 30 40 50 602 θ /de greeIntensity(.)550℃650℃750℃(b)▼ ▼▼▼■▼ ■Mg5Nb4O15Mg4Nb2O9(108)(210)(300)(214)(116)(204)(114)(113)(110)(104)(004)(102)850℃■■■■■■■■■■■■(100)20 30 40 50 60(c )(200)(f )(e)(d)(b)3 2 . 0 0 3 2 . 2 5 3 2 . 5 0 3 2 . 7 5 3 3 . 0 0 3 3 . 2 5 3 3 . 5 0 2 θ /de greeIntensity(.)(108)(210)(300)(214)(116)(204)(114)(113)(110)(104)(004)(102)(100)(a)一、 X射線光源 ? 對光源的要求 ? 簡單地說，對光源的基本要求是穩(wěn)定，強度大，光譜純潔。 ? 儀器結(jié)構(gòu)主要包括四個部分： ? ，用來產(chǎn)生穩(wěn)定的 X射線光源。 ? X射線衍射實驗分析方法很多，它們都建立在如何測得真實的衍射花樣信息的基礎(chǔ)上。底片的安裝方式，按圓筒底片開口處所在的位置不同，可分為正裝法、反裝法和不對稱法， ? 其中不對稱法可以直接測算出圓筒底片的曲率半徑，因此可以校正由于底片收縮、試樣偏心以及相機半徑不準確所產(chǎn)生的誤差，所以該方法使用較多。 ? 由于試樣中小晶粒的數(shù)目很多，滿足布拉格晶面族（ hkl)也很多，它們與入射線的方位角都是 ?； ? 從而可以想象成為是由其中的一個晶面以入射線為軸，以衍射角 2?為半頂角的圓錐面上，構(gòu)成一系列以入射線為軸的同頂點的圓錐。 粉晶法 ? 粉晶法采用單色（特征） X射線作輻射源，被分析試樣多數(shù)情況為很細（ 103105 cm)的粉末多晶體，故亦稱為粉末法。 ? 由于晶體不動，入射線和晶體作用后產(chǎn)生的衍射線束表示了各晶面的方位，所以此方法能夠反映出晶體的取向和對稱性。一般來說，它們的數(shù)值未必能滿足布拉格方程式，也即不能產(chǎn)生衍射現(xiàn)象，因此要觀察到衍射現(xiàn)象，必須設(shè)法連續(xù)改變 ?或 ?，以使有滿足布拉格反射條件的機會，據(jù)此可有幾種不同的衍射方法。 ? N=1時候，一級衍射線； sin ? = ?/2d ? N=2時候，一級衍射線； sin ? = ?/d ? …………………………………… . ? sin?=n?/2d1 ? N2d/ ? ? ?/2d1 , d ?/2, ?2d ? 當 X射線的波長和