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2025-04-13 12:32 本頁面
【正文】 ,至少10點出現(xiàn)在同一側(cè)。25% P(1P)管制上限(UCL)=P+3 n P(1P)管制下限(LCL)=P3 n建立『解析用』管制圖(p Chart)步驟—依測定時間順序排列.—每組樣本內(nèi)含有1~5個不良品為佳......—點在其數(shù)值之位置並以直線連接之..建立『製程管制用』管制圖(p Chart)步驟同XR管制圖nP Chart適用製程：l 基本上與P Chart,惟每組樣本數(shù)須相同.公式：中心線 (CL)=nP 管制上限(UCL)= nP+3 nP(1P) 管制下限(LCL)=nP3 nP(1P)建立『解析用』管制圖(nP Chart)步驟—依測定時間順序排列.—每組樣本內(nèi)含有1~5個不良品為佳......—點在其數(shù)值之位置並以直線連接之..建立『製程管制用』管制圖(nP Chart)步驟同XR管制圖C Chart適用製程：l 以單位數(shù)量內(nèi)缺點數(shù)發(fā)生之次數(shù)者.公式：中心線 (CL)=C管制上限(UCL)= C+3 C 管制下限(LCL)= C3 C U Chart適用製程：l 同C管制圖,但其檢查單位(樣本大小)不同.公式：中心線 (CL)=μ管制上限(UCL)=μ+3 μ/n 管制下限(LCL)=μ3 μ/n管制圖的判讀、下限。l 產(chǎn)量不大,批量很小。公式：X管制圖：中心線 (CL)=X管制上限(UCL)=X+m3A2R管制下限(LCL)=Xm3A2RR管制圖：中心線 (CL)=R管制上限(UCL)=D4R管制下限(LCL)=D3RXRm Chart適用製程：l 耗用時間很多方能完成測試者。定義一種用於調(diào)查製造程序是否在穩(wěn)定狀態(tài)下(解析用)，或者維持製造程序在穩(wěn)定狀態(tài)上所使用之圖(管制用)。6σ)1 PPB2 PPB七、管制圖由來管制圖是1924年由修華特博士(),在研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時所發(fā)現(xiàn)。3σ)%%8σ(177。生產(chǎn)實績?yōu)閄177。3σ=53177。製程精密度 Cp(Capability of Precision)衡量製程之變異寬度與規(guī)格公差範(fàn)圍相差之情形。10mm，五月之切削實績?yōu)閄177。(買入新設(shè)備、新產(chǎn)品開發(fā)、工具更換、機器設(shè)備修理完成、規(guī)格或作業(yè)方式變更時、其它生產(chǎn)因素變更時、某種工程發(fā)生不良時)。如何避免問題再次發(fā)生?標(biāo)準(zhǔn)之建立、修正與營運 改善建立SPC的步驟 推行三要項。2σ範(fàn)圍內(nèi),抽到的機率＊%表在177。非機遇原因：原不存在於製程中的原因。3. 宇宙的事物與工業(yè)產(chǎn)品其都呈常態(tài)分配的。檢修人員可解決問題,但不能消除問題。日本推動SPC的效果1. 可顯示製程中的變異。S P C精 進 教 育 教 材製作: 日期:2001/3/27頁數(shù):共29頁一、SPC的源起SPC: Statistical Process Control年
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